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# Physik# Supraleitung# Materialwissenschaft# Stark korrelierte Elektronen

Oberflächen- und elektronische Eigenschaften von Nickelaten

Forschung entdeckt Eigenschaften von unendlichen Schichten Nickelaten für supraleitende Anwendungen.

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Inhaltsverzeichnis

Nickelate sind Materialien, die Nickel enthalten, und haben viel Interesse in der Wissenschaft geweckt, besonders wegen ihres potenziellen Einsatzes in Supraleitern, also Materialien, die bei niedrigen Temperaturen Strom ohne Widerstand leiten können. Forscher interessieren sich besonders für eine Art von Nickelat, die als unendliche Schichten-Nickelate bekannt ist, die eine spezielle Struktur haben, die helfen könnte, die Eigenschaften eines anderen bekannten Supraleiters, den Kupferoxiden, nachzuahmen.

Um diese Materialien zu untersuchen, schauen wir uns genau ihre Oberflächen und ihr Verhalten unter verschiedenen Bedingungen an. Das ist wichtig, weil die Eigenschaften der Oberfläche stark beeinflussen können, wie das Material funktioniert. Eine gängige Methode, um diese Materialien zu untersuchen, ist die Rastertunnelmikroskopie (STM), die es Wissenschaftlern erlaubt, die Oberfläche in sehr kleinem Massstab zu beobachten. Eine andere Methode ist die Röntgen-Photoemissionsspektroskopie (XPS), die hilft, die elektronischen Zustände des Materials zu verstehen.

In dieser Studie konzentrieren wir uns auf das Verhalten eines spezifischen unendlichen Schichten-Nickelats, das als NdNiO bekannt ist, zusammen mit seinem Verhalten, wenn es mit einem anderen Material namens SrTiO (STO) bedeckt ist. Durch verschiedene Experimente wollen wir die Oberflächen- und elektronischen Eigenschaften dieser Materialien aufdecken, um Einblicke zu gewinnen, wie wir ihre Qualität für zukünftige Anwendungen verbessern könnten.

Die Struktur der Nickelate

Unendliche Schichten-Nickelate haben eine einfache, aber einzigartige Struktur, in der Nickelatome in Schichten angeordnet sind. Das macht sie anders als andere Nickelverbindungen. Die Schichten können beeinflusst werden durch die Art und Weise, wie sie hergestellt und behandelt werden, was ihre elektronischen Eigenschaften, wie die Leitfähigkeit, beeinflusst.

Wenn Nickelate wie NdNiO auf ein Substrat (eine Grundmaterial) aufgebracht werden, durchlaufen sie einen Prozess namens topotaktische Reduktion, um unendliche Schichtenstrukturen zu bilden. Dieser Prozess beinhaltet das Entfernen einiger Sauerstoffatome aus der Verbindung, was den Oxidationszustand des Nickels verändert und beeinflusst, wie das Material sich verhält.

Experimenteller Ansatz

Um die Eigenschaften von NdNiO-Filmen zu untersuchen, bereiteten Wissenschaftler zwei Arten von Proben vor: unbedeckt und mit STO bedeckt. Die Proben wurden mit einer Technik namens Puls-Laser-Abscheidung hergestellt, die hilft, dünne Schichten von Material präzise zu erstellen. Nach der Abscheidung durchliefen die Proben eine topotaktische Reduktion, um die unendliche Schichtenstruktur zu bilden.

Der nächste Schritt bestand darin, die Oberflächen dieser Proben mithilfe von STM und XPS zu analysieren. STM erlaubt es Wissenschaftlern, die Topographie und die elektronischen Zustände der Oberfläche auf atomarer Ebene zu sehen, während XPS hilft, verschiedene chemische Zustände der Elemente im Material zu identifizieren.

Oberflächeneigenschaften von unbedecktem NdNiO

Erste Beobachtungen von unbedeckten NdNiO-Filmen zeigten, dass sie isolierende Oberflächen hatten, was bedeutet, dass sie den Strom nicht leicht leiten konnten. Das ist bedeutend, weil wir für viele Anwendungen Materialien bevorzugen, die Strom leiten können. Die STM-Bilder zeigen ein gestreiftes Muster, das auf die Anwesenheit geordneter Regionen auf der Oberfläche hindeutet, wahrscheinlich wegen der Anordnung von Sauerstofflücken.

Als die unbedeckten Proben hohen Temperaturen in einem Vakuum (UHV-Glühen bei 250°C) ausgesetzt wurden, änderten sich ihre Eigenschaften. Die Oberfläche wurde metallisch, was auf eine verbesserte elektrische Leitfähigkeit hinweist, und der Oxidationszustand des Nickels wurde vollständig wiederhergestellt. Das zeigt, dass die Behandlung der Oberfläche unter bestimmten Bedingungen ihre elektronischen Eigenschaften verbessern kann.

Oberflächeneigenschaften von STO-bedecktem NdNiO

Im Gegensatz dazu zeigten die mit STO bedeckten NdNiO-Filme ein anderes Verhalten. Die bedeckten Proben wiesen eine signifikante Menge an Nickel in einem höheren Oxidationszustand auf. Die Kernspektren dieser Proben zeigten, dass einige elektronische Zustände durch die Anwesenheit der STO-Schicht beeinflusst wurden, was darauf hindeutet, dass die Grenzfläche zwischen STO und NdNiO nicht ideal war. Es scheint, dass an dieser Grenzfläche eine vermischte Phase, möglicherweise NdTiNiO, gebildet wurde, was die Eigenschaften des Materials beeinflusste.

Um diese Eigenschaften besser zu verstehen, wurde die Oberfläche der STO-bedeckten Proben nach dem Entfernen der Abdeckung mit einer sanften Methode namens Ar-Ionen-Bestrahlung analysiert. Dies erlaubte es Wissenschaftlern, tiefer in die elektronischen Zustände nahe der Oberfläche zu schauen.

Einblicke aus der XPS-Analyse

Die XPS-Analyse zeigte, dass die Kernspektren von unbedeckten NdNiO-Filmen denen der ursprünglichen Perowskitstruktur sehr ähnlich waren. Das deutet darauf hin, dass die unbedeckten Filme während des Herstellungsprozesses nicht vollständig reduziert wurden.

Die bedeckten Proben hingegen zeigten eine klare Verschiebung in ihren Kernspektren, was auf eine Änderung der elektronischen Konfiguration des Nickels hin zu einem metallischeren Zustand hindeutet. Die Ergebnisse legen nahe, dass die Grenzfläche zwischen der Abdeckung und NdNiO einen erheblichen Einfluss auf den Gesamtzustand des Materials hat.

Auswirkungen der Oberflächenbehandlung

Durch gezielte Oberflächenbehandlungen konnten Wissenschaftler die Eigenschaften der Proben verbessern. Zum Beispiel durchliefen die unbedeckten NdNiO-Filme eine Hochtemperaturglühung, um ihr isolierendes Verhalten zu verringern, was ihnen erfolgreich eine metallische Eigenschaft verlieh.

Bei den bedeckten Proben entfernte der Ar-Ionen-Ätzprozess selektiv unerwünschte Schichten an der Oberfläche, was eine signifikante Verbesserung der Valenzbandstruktur und günstigere elektronische Eigenschaften offenbarte.

Das betont die Bedeutung von Oberflächenbedingungen und -behandlungen, um die elektronischen Eigenschaften von Nickelatfilmen zu manipulieren. Diese Ergebnisse deuten darauf hin, dass es mit den richtigen Prozessen möglich sein könnte, hochwertige Oberflächen zu schaffen, die genauere Studien und potenzielle Anwendungen ermöglichen.

Verständnis der elektronischen Eigenschaften

Ein Hauptfokus der Studie war zu verstehen, wie sich die elektronischen Eigenschaften dieser Nickelate mit Behandlung und Struktur ändern. Die XPS-Spektren liefern Informationen über die Oxidationszustände und elektronischen Konfigurationen von Nickel und anderen Elementen in den Nickelatfilmen.

Im Fall von unbedecktem NdNiO, während die Oberfläche anfänglich isolierend war, änderte sich der elektronische Zustand durch die Behandlung erheblich. Die Ergebnisse deuteten darauf hin, dass das Material sich ähnlich wie andere bekannte Supraleiter verhält, was den Weg für seinen Einsatz in zukünftigen Technologien ebnet.

Für die bedeckten Filme schuf die Anwesenheit zusätzlicher Phasen und die Auswirkungen der STO-Bedeckung ein komplexeres elektronisches Bild. Diese Komplexität muss entschlüsselt werden, um das Verhalten dieser Materialien vollständig zu verstehen.

Zukünftige Richtungen

Die Studie unterstreicht die Notwendigkeit, unendliche Schichten-Nickelate weiter zu untersuchen. Die Experimente zeigen, dass obwohl die aktuellen Methoden die Oberflächeneigenschaften verbessern, es eine Herausforderung bleibt, ideale strukturelle Bedingungen zu erreichen.

Zukünftige Arbeiten könnten sich darauf konzentrieren, die Oberflächenbehandlungen zu optimieren und verschiedene Abdeckmaterialien oder Wachsmethoden zu erkunden. Dies könnte zur Entwicklung von Nickelatfilmen mit verbesserten elektronischen Eigenschaften und struktureller Integrität führen.

Darüber hinaus wird das Verständnis des Zusammenspiels zwischen den Oberflächen- und elektronischen Eigenschaften entscheidend sein, um das volle Potenzial der Nickelate in der Supraleitung und anderen fortschrittlichen Anwendungen zu realisieren.

Fazit

Zusammenfassend sind die Oberflächen- und elektronischen Eigenschaften von unendlichen Schichten-Nicklaten, insbesondere NdNiO, stark von ihrer Struktur und den Behandlungsprozessen beeinflusst. Durch sorgfältige Experimente haben wir bedeutende Einblicke gewonnen, wie sich diese Materialien unter verschiedenen Bedingungen verhalten.

Sowohl unbedeckte als auch bedeckte NdNiO-Filme zeigen vielversprechende Ergebnisse, besonders nach spezifischen Behandlungen, die ihre elektronischen Zustände verbessern. Fortgesetzte Forschung in diesem Bereich hat das Potenzial, neue Anwendungen zu erschliessen und unser Verständnis dieser Materialien zu vertiefen, besonders auf der Suche nach Hochtemperatursupraleitern.

Die gewonnenen Erkenntnisse aus dieser Arbeit dienen als Grundlage für zukünftige Studien, die darauf abzielen, die Eigenschaften der Nickelate zu perfektionieren und letztlich zu Fortschritten in der Materialwissenschaft und Technologie beizutragen.

Originalquelle

Titel: Scanning tunnelling microscopy and X-ray photoemission studies of NdNiO2 infinite-layer nickelates films

Zusammenfassung: We report scanning tunnelling microscopy (STM) and x-ray photoemission spectroscopy (XPS) measurements on uncapped and SrTiO3 (STO) capped NdNiO2 realized by pulsed-laser deposition and topotactic reduction process. We find that untreated NdNiO2 surfaces are insulating and contain Ni mostly in a nominal Ni2+ oxidation state. Room temperature STM shows signatures of a striped-like topographic pattern, possibly compatible with recent reports of ordered oxygen vacancies in uncapped nickelates due to incomplete oxygen de-intercalation of the upper layers. A metallic surface and a full Ni1+ oxidation state is recovered by ultra high vacuum annealing at 250 C, as shown by STM and XPS. STO-capped NdNiO2 films, on the other hand, show Ni mostly in Ni1+ configuration, but Nd 3d5/2 core level spectra have a relevant contribution from ligand 4f 4L states, suggesting the formation of a NdTiNiOx layer at the interface with the STO. By in situ unit-cell by unit-cell Ar-ion sputtering removal of the STO capping and of the non stoichiometric interface layer, we were able to address the surface electronic properties of these samples, as shown by high resolution valence band photoemission spectroscopy. The results provide insights in the properties of infinite-layer NdNiO2 thin films prepared by the CaH2 topotactic reduction of perovskite NdNiO3 and suggest methods to improve their surface quality.

Autoren: Martando Rath, Yu Chen, Guillaume Krieger, H. Sahib, Daniele Preziosi, Marco Salluzzo

Letzte Aktualisierung: 2024-02-05 00:00:00

Sprache: English

Quell-URL: https://arxiv.org/abs/2402.03143

Quell-PDF: https://arxiv.org/pdf/2402.03143

Lizenz: https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/

Änderungen: Diese Zusammenfassung wurde mit Unterstützung von AI erstellt und kann Ungenauigkeiten enthalten. Genaue Informationen entnehmen Sie bitte den hier verlinkten Originaldokumenten.

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