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# Physik# Supraleitung# Materialwissenschaft# Angewandte Physik# Quantenphysik

Reduzierung von Energieverlust in Supraleitenden Schaltkreisen

Neue Methoden helfen dabei, Stromverluste in supraleitenden Systemen zu identifizieren und zu minimieren.

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Inhaltsverzeichnis

Supraleiter sind Materialien, die Strom ohne Widerstand leiten können, wenn sie auf sehr niedrige Temperaturen abgekühlt werden. Diese Eigenschaft macht sie wichtig für viele fortschrittliche Technologien, einschliesslich Quantencomputing. Allerdings können sie immer noch Energie verlieren, besonders wenn sie in winzigen Drähten oder Verbindungen verwendet werden. Zu verstehen, wo und wie dieser Verlust passiert, ist entscheidend, um diese Technologien effizienter zu machen.

In diesem Artikel besprechen wir eine neue Methode, um herauszufinden, wo der Energieverlust in supraleitenden Systemen auftritt, insbesondere in einer speziellen Art von Draht, dem Niobium (Nb), der durch ein Siliziumdioxid-Isoliermaterial verbunden ist. Wir beschreiben, wie wir Verluste vom Draht selbst und vom Isoliermaterial trennen können. Wir haben eine spezielle Anordnung verwendet, die es uns ermöglicht hat zu sehen, wie sich diese Verluste mit der Frequenz ändern.

Die Bedeutung von Supraleitern

Supraleiter werden in unserer Welt immer wichtiger. Sie werden in MRT-Geräten, Teilchenbeschleunigern und vielen anderen fortschrittlichen Technologien eingesetzt. Für zukünftige Computer, die supraleitende Materialien nutzen, ist es entscheidend, den Energieverlust zu reduzieren. Wenn supraleiter in Schaltkreisen verwendet werden, verliert die Energie an zwei Hauptstellen: dem supraleitenden Draht und dem isolierenden Material, das ihn umgibt. Wege zu finden, diesen Verlust zu minimieren, ist wichtig, um schnellere und energieeffizientere Systeme zu schaffen.

Mikrowellenfrequenzen und Verlust

Ein Bereich, in dem Supraleiter besonders nützlich sind, sind Mikrowellenanwendungen. Bei diesen hohen Frequenzen kann der Verlust ähnlich im Draht und im Isoliermaterial sein. Um bessere Systeme zu entwerfen, müssen wir diese Verluste unterscheiden. Es reicht nicht aus, nur den Gesamtverlust zu messen; wir müssen verstehen, wie viel vom supraleitenden Draht kommt und wie viel vom Dielektrikum (Isoliermaterial).

Neue Messmethode

Um das Problem der Trennung von Verlusten anzugehen, haben wir eine neue Methode entwickelt, die einen speziellen Resonator für Übertragungsleitungen verwendet. Dieser Resonator kann mehr als eine Frequenz gleichzeitig verarbeiten, was uns ermöglicht, Daten effektiver zu sammeln. Durch die Analyse, wie sich die Verluste mit der Frequenz ändern, können wir Einblicke in die Leistung sowohl des Drahts als auch des Isoliermaterials gewinnen.

Herstellungsprozesse

Für unsere Studie haben wir mehrere Arten von Mikrodraht erstellt. Diese Drähte wurden aus Niobium hergestellt und mit einem Material isoliert, das von Tetraethylorthosilikat abgeleitet ist, bekannt als TEOS-SiO2. Wir haben drei verschiedene Herstellungsverfahren verwendet, um diese Drähte zu erstellen. Jeder Prozess könnte beeinflussen, wie sich die Drähte verhalten, insbesondere in Bezug auf Verluste.

  1. Damascene-Prozess: Bei dieser Methode wird die Grundplatte zuerst hergestellt, und der Niobiumdraht wird dann oben drauf gesetzt.

  2. Nicht-Umgedrehter Prozess: Das ist eine Variante, bei der die Struktur etwas anders aufgebaut wird, aber das Ziel bleibt ähnlich – effektive supraleitende Verbindungen zu schaffen.

  3. Cloisonné-Prozess: Bei diesem Ansatz werden die Metall- und Isolierschichten auf einzigartige Weise aufgebaut.

Durch den Vergleich der Ergebnisse aus diesen verschiedenen Prozessen konnten wir besser verstehen, wie sich die Herstellungstechniken auf die Leistung auswirken.

Verlustverständnis

Wenn wir die supraleitenden Drähte herstellen, kann es verschiedene Verlustquellen geben. Der Niobiumdraht selbst kann einen inhärenten Widerstand aufweisen, während das Dielektrikum ebenfalls zur Energieverlust beitragen kann. Die Herausforderung besteht darin, diese Verluste genau separat zu messen.

Mit unserem Resonator-Setup konnten wir messen, wie sich der Energieverlust bei verschiedenen Frequenzen verhält. Wir fanden heraus, dass sich mit steigender Frequenz das Verhalten jedes Materials änderte. Diese Frequenzabhängigkeit ist ein wichtiger Aspekt, der uns hilft, die Beiträge des Drahts und des Isoliermaterials zu trennen.

Ergebnisse unserer Messungen

Die Daten, die wir von den Resonatoren gesammelt haben, zeigten klare Muster. Wir fanden heraus, dass der Verlust im Niobiumdraht je nach Breite des Drahts und der verwendeten Herstellungsweise variiert. Breitere Drähte hatten typischerweise geringere Widerstandsverluste als schmalere. Ausserdem führten unterschiedliche Herstellungsprozesse zu unterschiedlichen Verhaltensweisen in Bezug auf Verluste.

Der dielektrische Verlust war hingegen weitgehend konstant, unabhängig von der Drahtbreite. Das deutet darauf hin, dass das TEOS-SiO2-Isoliermaterial zuverlässig über verschiedene Bedingungen hinweg funktioniert, was es zu einer guten Wahl für die Isolierung supraleitender Drähte macht.

Energieeffizienz in supraleitenden Schaltkreisen

In Schaltkreisen wie denen, die in der Quantencomputing-Technologie verwendet werden, ist Energieeffizienz entscheidend. Supraleitende Schaltkreise sind auf Energieimpulse angewiesen, und selbst kleine Verluste können sich schnell summieren. Unsere Ergebnisse deuten darauf hin, dass wir durch die Optimierung des Designs und der Herstellung supraleitender Drähte diese Verluste erheblich reduzieren könnten.

Die Ergebnisse legen nahe, dass supraleitende Schaltkreise mit optimierten Niobium-Verbindungen dreihundertmal energieeffizienter sein könnten als herkömmliche Schaltkreise. Diese hohe Effizienz kann neue Möglichkeiten für den technologischen Fortschritt eröffnen, insbesondere in grösseren Systemen, in denen jeder minimale Energieverbrauch zählt.

Herausforderungen in der Herstellung

Auch wenn wir Methoden zur Reduzierung von Verlusten in supraleitenden Schaltkreisen eingeführt haben, gibt es immer noch Herausforderungen in der Herstellung. Wenn die Breite der Drähte abnimmt, wird es schwieriger, die Leistung aufrechtzuerhalten. Wenn Drähte dünner gemacht werden, können sie die Grösse der Materialeigenschaften erreichen, die ihr Verhalten bestimmen, was zu unerwarteten Verlusten führt.

Chemisch-mechanisches Polieren ist eine Technik, die hilft, glattere Oberflächen zu erzeugen, aber es muss sorgfältig durchgeführt werden, um die Integrität der Drähte zu gewährleisten. Jede unserer Herstellungsmethoden muss feinjustiert werden, um sicherzustellen, dass wir Verluste minimieren und dennoch zuverlässige, funktionierende Schaltkreise produzieren.

Zukünftige Richtungen

Das aufkommende Feld der supraleitenden Technologien hat viel Potenzial, aber es gibt noch Arbeit zu tun. Unsere Forschung zeigt, dass wir, während wir Niobium-Verbindungen optimieren, auch die verwendeten Isoliermaterialien in Betracht ziehen sollten. Die Suche nach Dielektrika mit geringeren Verlusten könnte noch effizientere supraleitende Schaltkreise schaffen.

Während wir unsere Methoden und Materialien weiter verfeinern, haben wir auch das Ziel, die verwendeten Messtechniken zur Analyse der Verluste zu verbessern. Die Erweiterung unseres Frequenzbereichs und die Nutzung weiterer Modi in unseren Messungen könnten tiefere Einblicke in die Verluste liefern und noch bessere Designs ermöglichen.

Fazit

Die Untersuchung des Energieverlusts in supraleitenden Schaltkreisen ist ein kritischer Forschungsbereich für den Fortschritt der Technologie. Durch die Entwicklung einer neuen Methode zur Trennung der Verluste in Niobiumdrähten und ihrem Isoliermaterial haben wir wertvolle Einblicke in die Verbesserung der Energieeffizienz gewonnen. Unsere Ergebnisse zeigen, dass es mit sorgfältigem Design und Herstellung möglich ist, die Grenzen der supraleitenden Technologie zu erweitern und sie zu einer praktikablen Option für zukünftige Anwendungen mit hoher Leistung zu machen.

Zusammenfassend sieht die Zukunft der supraleitenden Schaltkreise vielversprechend aus, mit potenziellen Durchbrüchen am Horizont, während wir weiterhin Materialien und Methoden optimieren.

Originalquelle

Titel: Disentangling superconductor and dielectric microwave losses in sub-micron $\rm Nb$/$\rm TEOS-SiO_2$ interconnects using a multi-mode microstrip resonator

Zusammenfassung: Understanding the origins of power loss in superconducting interconnects is essential for the energy efficiency and scalability of superconducting digital logic. At microwave frequencies, power dissipates in both the dielectrics and superconducting wires, and these losses can be of comparable magnitude. A novel method to accurately disentangle such losses by exploiting their frequency dependence using a multi-mode transmission line resonator, supported by a geometric factor concept and a 3D superconductor finite element method (FEM) modeling, is described. Using the method we optimized a planarized fabrication process of reciprocal quantum logic (RQL) for the interconnect loss at 4.2 K and GHz frequencies. The interconnects are composed of niobium ($\rm Nb$) insulated by silicon dioxide made with a tetraethyl orthosilicate precursor ($\rm TEOS-SiO_2$). Two process generations use damascene fabrication, and the third one uses Cloisonn\'{e} fabrication. For all three, $\rm TEOS-SiO_2$ exhibits a dielectric loss tangent $\tan \delta = 0.0012 \pm 0.0001$, independent of $\rm Nb$ wire width over $0.25 - 4 \: \mu m$. The $\rm Nb$ loss varies with both the processing and the wire width. For damascene fabrication, scanning transmission electron microscopy (STEM) and energy dispersive X-ray spectroscopy (EDS) reveal that Nb oxide and Nb grain growth orientation increase the loss above the Bardeen Cooper Schrieffer (BCS) minimum theoretical resistance $R _{BCS}$. For Cloisonn\'{e} fabrication, the $0.25 \: \mu m$ wide $\rm Nb$ wires exhibit an intrinsic resistance $R_s = 13 \pm 1.4 \: \mu \Omega$ at 10 GHz, which is below $R_{BCS} \approx 17 \: \mu \Omega$. That is arguably the lowest resistive loss reported for $\rm Nb$.

Autoren: Cougar A. T. Garcia, Nancyjane Bailey, Chris Kirby, Joshua A. Strong, Anna Yu. Herr, Steven M. Anlage, Vladimir V. Talanov

Letzte Aktualisierung: 2023-03-19 00:00:00

Sprache: English

Quell-URL: https://arxiv.org/abs/2303.10685

Quell-PDF: https://arxiv.org/pdf/2303.10685

Lizenz: https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/

Änderungen: Diese Zusammenfassung wurde mit Unterstützung von AI erstellt und kann Ungenauigkeiten enthalten. Genaue Informationen entnehmen Sie bitte den hier verlinkten Originaldokumenten.

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