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# 物理学# 画像・映像処理# 機械学習# 光学

集積回路のための3Dイメージングの進展

新しい画像処理法で、機械学習を使って集積回路の分析が速くなったよ。

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回路のための3Dイメージン回路のための3Dイメージングの画期的な進展を短縮するよ。新しい技術が画像の質を向上させ、分析時間
目次

小さな構造物、特に集積回路に見られるようなものの三次元イメージングは、品質と安全性を確保するためにめちゃ重要なんだ。これを実現するには、主に二つのステップが必要。まず、特別なイメージング手法でサンプルの詳細をキャッチすること。次に、サンプルをいろんな角度に動かして完全なビューを得ることだ。サンプルを動かす方法は二つあって、一つはトモグラフィー、もう一つはラミノグラフィーって呼ばれてる。後者は平らなサンプルに対してしばしば優れてて、広いビューを提供するから内部を見やすくなるんだ。でも、どっちの方法も通常は時間がかかって、データ収集と処理に時間がかかるんだよね。

プロセスを加速する

最近の研究の目標は、集積回路の詳細画像をキャッチするプロセスを速めること。物理学と機械学習の概念を組み合わせた新しいアプローチを使って、研究者たちはイメージングに必要な角度数を減らして計算にかかる時間を短縮できたんだ。彼らは、従来の方法で作成された画像よりも、彼らの新しい技術のデータのギャップを埋める能力のおかげで、生成された画像の品質がさらに良かったことを発見したよ。

X線の役割

X線は複雑な材料の内部を傷めずに見るのに非常に役立つんだ。そのユニークな特性により、材料に深く浸透できるから、集積回路の内部構造を調べるのに理想的なんだ。画像の質を向上させるために、サンプルを回転させながらX線を取ることができるんだ。サンプルの回転の仕方は、得られる画像の品質に大きく影響することがあるよ。平らな構造物には、角度付きの回転がよく使われて、X線の吸収レベルを一定に保つのに役立って、より正確なイメージングにつながる。

Ptychographyを理解する

Ptychographyは、サンプルまたは光源が動いて様々な位置から異なる画像をキャッチする強力なイメージング技術なんだ。この技術を使うことで、より大きな画像をより詳細に作成できるんだ。一連のよく知られたアルゴリズムが、これらの動きから得られたデータを処理するのに役立っていて、収集したデータに基づいて画像を反復的に洗練させる方法が含まれているよ。

新しいイメージングセットアップ

新しいイメージングセットアップでは、集積回路が特別なジオメトリでX線で照らされるんだ。サンプルが特定の角度で回転するにつれて、複数の点でスキャンして様々な画像を収集するよ。このセットアップは、科学者たちがサンプルの構造の三次元的視点をより効率的に得ることを可能にするんだ。

イメージングプロセスを強化するために、事前処理法が使われて、未処理の画像データを管理しやすい形に変換してから、先進の機械学習技術を使うよ。特化した深層学習ネットワークがこの処理されたデータを受け取って、集積回路の3D画像を生成するんだ。このネットワークは、事前に完璧な例を比較対照として必要とせずにデータから学ぶフレームワークに依存しているよ。

新しいアプローチの利点

この新しいアプローチは、詳細画像を作成するのにかかる時間を大幅に短縮するんだ。少ない角度と少ない計算力を使うことで、この手法は通常かかる時間のほんの一部で高品質の画像の再構成を可能にするんだ。この方法は収集された投影の数が限られていても、ロバスト性と適応性を示しているんだ。

実験手続き

イメージングプロセスは、集積回路の画像をキャッチするために特別な施設を利用するんだ。X線を使ってサンプルを照らし、固定された角度で回転させる。このプロセス中に、様々なポイントで回折パターンをキャッチして、豊富なデータが得られるんだ。イメージングセットアップの各ステージは、最良の結果を得るために体系的に整理されているんだ。

基本方法は、集めたデータを丁寧に取得し整列させる一連のステップを含む。画像を集めた後、ボリュメトリック再構成技術が情報を合成してサンプルの完全な三次元表現を生成するんだ。この従来の方法は良好な結果を達成するけど、時間がかかることもあるよ。

再構成品質の向上

新しいイメージング技術は、プロセスを加速するだけでなく、生成される画像の品質も向上させるんだ。研究者たちは、少ない角度で再構成しても集積回路を正確に描写できることに気づいたよ。機械学習の部分が限られたデータによって生じるギャップを埋めるために働いて、画像の全体的な明瞭さと品質を改善して、特に細かい部分において向上させているんだ。

ADePtの構成要素を理解する

このイメージング技術のために開発された先進的な深層自己教師あり学習アーキテクチャは、ADePtとして知られている。主に二つの部分で構成されていて、一つは軽量の事前処理ステップ、もう一つは深層ニューラルネットワークなんだ。事前処理ステップは、未処理の回折パターンを簡単にして、ニューラルネットワークが正確な画像を作成しやすくするんだ。

ニューラルネットワークは、事前に定義された例を必要とせずに動作するように設計されているから、大きな利点なんだ。データを処理しながら物理原則に従って、解決策がリアルで実際の構造物を代表していることを保証するんだ。これは、従来の方法がしばしば既存のデータに大きく依存するのとは重要な違いなんだ。

従来の方法との比較

ADePtのパフォーマンスを従来の方法と比較すると、結果は明確な利点を示しているよ。少ない角度を使っても、ADePtは集積回路の解析に重要な高周波特徴を捉えるのが特に優れた、より詳細で正確な画像を生成できるんだ。従来のアプローチよりもスパースデータをうまく扱えるから、今後の使用において有望な選択肢なんだ。

密にサンプリングされた再構成の課題

従来の方法は高品質の再構成を提供できるけども、課題もいくつかあるよ。密にサンプリングされた再構成はしばしばアーチファクトを生じて、データの収集方法によって特定の特徴を正確に表現できないことがあるんだ。これらの問題は、X線の不均一な照明や不規則なサンプリングパターンから生じるんだ。ADePtは、これらの課題にうまく対処して、ギャップを埋めてより信頼性の高い画像を提供するんだ。

特徴の重要性

集積回路の3D特徴を正確に描写する能力はめっちゃ重要で、これらの構造物はますます複雑で小さくなってきてるからね。この研究は特に価値があって、最新技術の需要に適応して、複雑な電子部品のより良い検査と理解を可能にするんだ。

今後の方向性

研究者たちは、ADePtフレームワークのさらなる改善の可能性が大きいと考えているよ。今後の研究では、異なるタイプの標本やデータ処理の他の方法を探るかもしれないね。収集したデータに重要性に基づいて異なる重みを割り当てる新しい戦略を採用すれば、さらに効率的なイメージングプラクティスにつながる可能性があるんだ。

結論

この研究で提示されたイメージング技術の進歩は、集積回路の解析の未来に対して大きな期待が持てるよ。機械学習と物理原則を組み合わせることで、ADePtはイメージングプロセスを効果的に強化し、従来のこれらの操作に伴う時間と複雑さを減らすことができるんだ。限られたデータで高品質の3D画像を得られる能力は、技術における研究と応用の新しい道を開き、集積回路の安全性と信頼性の向上につながる可能性があるんだ。

オリジナルソース

タイトル: Accelerated deep self-supervised ptycho-laminography for three-dimensional nanoscale imaging of integrated circuits

概要: Three-dimensional inspection of nanostructures such as integrated circuits is important for security and reliability assurance. Two scanning operations are required: ptychographic to recover the complex transmissivity of the specimen; and rotation of the specimen to acquire multiple projections covering the 3D spatial frequency domain. Two types of rotational scanning are possible: tomographic and laminographic. For flat, extended samples, for which the full 180 degree coverage is not possible, the latter is preferable because it provides better coverage of the 3D spatial frequency domain compared to limited-angle tomography. It is also because the amount of attenuation through the sample is approximately the same for all projections. However, both techniques are time consuming because of extensive acquisition and computation time. Here, we demonstrate the acceleration of ptycho-laminographic reconstruction of integrated circuits with 16-times fewer angular samples and 4.67-times faster computation by using a physics-regularized deep self-supervised learning architecture. We check the fidelity of our reconstruction against a densely sampled reconstruction that uses full scanning and no learning. As already reported elsewhere [Zhou and Horstmeyer, Opt. Express, 28(9), pp. 12872-12896], we observe improvement of reconstruction quality even over the densely sampled reconstruction, due to the ability of the self-supervised learning kernel to fill the missing cone.

著者: Iksung Kang, Yi Jiang, Mirko Holler, Manuel Guizar-Sicairos, A. F. J. Levi, Jeffrey Klug, Stefan Vogt, George Barbastathis

最終更新: 2023-04-10 00:00:00

言語: English

ソースURL: https://arxiv.org/abs/2304.04597

ソースPDF: https://arxiv.org/pdf/2304.04597

ライセンス: https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/

変更点: この要約はAIの助けを借りて作成されており、不正確な場合があります。正確な情報については、ここにリンクされている元のソース文書を参照してください。

オープンアクセスの相互運用性を利用させていただいた arxiv に感謝します。

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