Ein neuer Ansatz zur Genauigkeit beim MRAM-Lesen
Vorstellung des Dynamic Bias Optimizers zur Verbesserung des MRAM-Datenlesens.
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Inhaltsverzeichnis
Magnetische Random Access Memory (MRAM) ist eine Art von Speicher, der Daten auch ohne Stromversorgung behält. Sie ist schnell, verbraucht weniger Energie und hält lange. MRAM wird zu einer beliebten Wahl für zukünftige Speicherbedürfnisse. Allerdings gibt es einige Herausforderungen bei der Nutzung von MRAM, besonders beim Lesen der Daten. In diesem Artikel geht es um einen neuen Ansatz, der darauf abzielt, die Leistung von MRAM zu verbessern, indem das Lesen der gespeicherten Daten erleichtert wird.
Die Grundlagen von MRAM
MRAM nutzt kleine magnetische Strukturen, die Magnet Tunnel Junctions (MTJs) genannt werden, um Daten zu speichern. Die Informationen werden in verschiedenen magnetischen Zuständen innerhalb dieser Strukturen kodiert. Beim Lesen der Daten wird der Widerstand der MTJs gemessen. Jede MTJ hat zwei Konfigurationen: eine, bei der die magnetischen Schichten ausgerichtet sind (parallel) und eine andere, bei der sie entgegengesetzt sind (anti-parallel). Der Widerstands Unterschied zwischen diesen beiden Zuständen ermöglicht es uns, die gespeicherten Daten zu lesen.
Das Hauptproblem: Lese Fehler
Ein grosses Manko bei MRAM ist der kleine Unterschied im Widerstand zwischen den beiden magnetischen Zuständen, bekannt als Tunneling Magnetoresistance Ratio (TMR). Wenn es Variationen im Herstellungsprozess oder Temperaturänderungen gibt, kann dieser Widerstands Unterschied noch kleiner werden. Infolgedessen hat das System Schwierigkeiten, die Daten genau zu lesen, was zu Fehlern führt.
Um diese Probleme zu beheben, wurden zusätzliche Schaltungen in die MRAM-Systeme eingebaut. Diese Lösungen können jedoch das Design komplizieren und mehr Platz und Leistung benötigen.
Verbesserung der Leseleistung: Der Dynamische Bias-Optimierer (DBO)
Um die Herausforderung zu meistern, Daten genau aus MRAM zu lesen, wurde eine neue Schaltung namens Dynamischer Bias-Optimierer (DBO) entwickelt. Diese Schaltung passt kontinuierlich die Spannung an, die während des Leseprozesses verwendet wird, sodass Echtzeit-Updates vorgenommen werden, um Änderungen in den MRAM-Bedingungen widerzuspiegeln. Durch die dynamische Anpassung der Lesespannung kann der DBO den Sensorbereich verbessern, was den minimalen Strom Unterschied darstellt, der nötig ist, um die gespeicherten Daten korrekt zu lesen.
Wie der DBO funktioniert
Der DBO arbeitet in mehreren Stufen:
Margenextraktion: Er verwendet Schaltungen, die den Strom Unterschied zwischen der zu lesenden MRAM-Zelle und einer Referenzzelle bestimmen. Dieser Strom Unterschied wird dann in eine Spannung umgewandelt, die den Sensorbereich darstellt.
Steuerlogik: Die Steuerlogik probt kontinuierlich die Ausgabe aus dem Margenextraktionsbereich. Sie vergleicht aktuelle Messwerte, um festzustellen, ob Anpassungen an der Lesespannung vorgenommen werden müssen.
Ladungs Pumpen Modul: Basierend auf den Signalen der Steuerlogik passt die Ladungs Pumpe die Spannung an, um das optimale Niveau für das Lesen der Daten zu finden. So kann das System schnell reagieren, wenn sich die Bedingungen ändern.
Testen des DBO in MRAM
Der DBO wurde in grösserem Massstab an einer Probe von 1 Megabit (1 Mb) MRAM getestet. Die Struktur dieses MRAM umfasste mehrere Blöcke, von denen jeder seinen eigenen DBO hatte. Dieses Design ermöglicht es jedem Abschnitt des Speichers, seine Lesespannung unabhängig anzupassen, was die Gesamtleistung des Systems verbessert.
Während dieser Tests wurde beobachtet, dass der DBO ein hohes Mass an Nachverfolgbarkeit aufrechterhielt, selbst bei Variationen des Herstellungsprozesses und Temperaturänderungen. Diese Anpassungsfähigkeit führte zu einer erheblichen Reduzierung von Lese Fehlern.
Vorteile der Verwendung von DBO
Die Hauptvorteile der Verwendung des DBO in MRAM-Systemen umfassen:
Verbesserte Lese Genauigkeit: Der DBO kann die Lesespannung dynamisch anpassen, was zu einer genaueren Auslesung der gespeicherten Daten führt.
Reduzierte Bit Fehler Rate: Die Tests zeigten, dass die Verwendung des DBO die Wahrscheinlichkeit von Lese Fehlern erheblich reduzierte, was zu besserer Leistung führte.
Effizienz bei hohen Temperaturen: Der DBO arbeitete auch bei extremen Temperatur Schwankungen gut, was seine Zuverlässigkeit unter verschiedenen Bedingungen beweist.
Geringerer Stromverbrauch: Obwohl der DBO einige Komplexität hinzufügt, benötigt er nicht viel zusätzliche Energie, was ihn zu einer effizienteren Wahl für Speichersysteme macht.
Fazit
Die Einführung des Dynamischen Bias-Optimierers (DBO) stellt einen bedeutenden Fortschritt zur Verbesserung der Leistung von Magnetischen Random Access Memories (MRAM) dar. Durch die kontinuierliche Anpassung der Lesespannung verbessert der DBO die Fähigkeit, Daten genau zu lesen, Fehler zu reduzieren und sich in Echtzeit an sich ändernde Bedingungen anzupassen.
Diese Innovation zeigt vielversprechende Möglichkeiten, MRAM zu einer tragfähigen Option für zukünftige Speicherbedürfnisse zu machen, insbesondere hinsichtlich Geschwindigkeit, Energieeffizienz und Langlebigkeit. Mit dem wachsenden Bedarf an schnelleren und zuverlässigeren Speicherlösungen könnte der DBO eine Schlüsselrolle im Erfolg der MRAM-Technologien spielen.
Diese Entwicklung öffnet die Tür für weitere Forschung und Verbesserungen, vielleicht mit der Integration fortschrittlicher Algorithmen, um die Leistung noch mehr zu steigern. Mit dem technologischen Fortschritt wird der Bedarf an effizienten und zuverlässigen Speicherlösungen weiterhin Innovationen wie dem DBO in MRAM-Systemen den Weg weisen.
Titel: A Read Margin Enhancement Circuit with Dynamic Bias Optimization for MRAM
Zusammenfassung: This brief introduces a read bias circuit to improve readout yield of magnetic random access memories (MRAMs). A dynamic bias optimization (DBO) circuit is proposed to enable the real-time tracking of the optimal read voltage across processvoltage-temperature (PVT) variations within an MRAM array. It optimizes read performance by adjusting the read bias voltage dynamically for maximum sensing margin. Simulation results on a 28-nm 1Mb MRAM macro show that the tracking accuracy of the proposed DBO circuit remains above 90% even when the optimal sensing voltage varies up to 50%. Such dynamic tracking strategy further results in up to two orders of magnitude reduction in the bit error rate with respect to different variations, highlighting its effectiveness in enhancing MRAM performance and reliability.
Autoren: Renhe Chen, Albert Lee, Zirui Wang, Di Wu, Xufeng Kou
Letzte Aktualisierung: 2023-09-18 00:00:00
Sprache: English
Quell-URL: https://arxiv.org/abs/2309.09797
Quell-PDF: https://arxiv.org/pdf/2309.09797
Lizenz: https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
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