Protegiendo los diseños de circuitos integrados con marcas de agua
Un nuevo método de marcado mejora la seguridad del diseño de circuitos integrados contra el robo.
― 6 minilectura
Tabla de contenidos
- La necesidad de protección de la propiedad intelectual
- ¿Qué son las marcas de agua?
- Desafíos en la marcación de agua
- Visión general del marco propuesto
- Marcado de Agua Global (GW)
- Marcado de Agua Detallado (DW)
- Combinando GW y DW
- Evaluación experimental
- Pruebas impulsadas por longitud de cable
- Pruebas impulsadas por temporización
- Resiliencia ante ataques
- Ataques de eliminación de marcas de agua
- Ataques de falsificación de marcas de agua
- Conclusión
- Fuente original
- Enlaces de referencia
En el mundo de los circuitos integrados (ICs) de hoy, proteger los diseños y la propiedad intelectual es muy importante. Empresas de diferentes países trabajan juntas para crear, producir y probar estos circuitos. Es crucial asegurarse de que los diseños estén a salvo de robos y usos no autorizados. Este artículo examina un nuevo método para proteger los diseños de IC a través de una técnica llamada marcas de agua.
La necesidad de protección de la propiedad intelectual
A medida que las empresas colaboran para crear ICs, combinan ideas y diseños de muchas fuentes. Esta colaboración aumenta el riesgo de robo de propiedad intelectual (PI). Por lo tanto, es necesario proteger la propiedad de estos diseños. Las marcas de agua proporcionan una forma de incrustar identificadores únicos en los diseños para mostrar la propiedad.
¿Qué son las marcas de agua?
Las marcas de agua son una técnica que añade información identificable a un diseño sin alterar su funcionalidad. Implica colocar marcadores únicos dentro del diseño del IC que se pueden usar para probar la propiedad. Estos marcadores no deberían afectar significativamente el rendimiento del IC.
Desafíos en la marcación de agua
Aunque la marcación de agua es un método prometedor para la protección de PI, viene con varios desafíos:
Impacto en el rendimiento: Las marcas de agua no deberían degradar el rendimiento del circuito. Cualquier alteración al diseño puede causar problemas en la fabricación o funcionalidad.
Restricciones de diseño: Los diseños modernos de IC a menudo vienen con varias restricciones como colocaciones y espaciamientos específicos de celdas, lo que complica el proceso de insertar marcas de agua.
Robustez: Las marcas de agua deben ser lo suficientemente fuertes para resistir intentos de eliminarlas o falsificarlas. Los adversarios pueden intentar alterar el diseño para borrar las marcas de agua incrustadas.
Visión general del marco propuesto
El marco propuesto introduce un sistema robusto de marcación de agua para diseños de IC. Se divide en dos procesos principales: Marcado de Agua Global (GW) y Marcado de Agua Detallado (DW).
Marcado de Agua Global (GW)
En la fase GW, el objetivo es identificar una región adecuada en el diseño para insertar la Marca de agua. Esta región se elige cuidadosamente para minimizar cualquier problema de rendimiento. El método GW utiliza un sistema de puntuación para evaluar diferentes regiones y seleccionar el mejor lugar para la marca de agua.
Marcado de Agua Detallado (DW)
Una vez que el proceso GW ha identificado una región, entra en juego el proceso DW. En DW, se mueven ligeramente celdas específicas dentro de la región preseleccionada para crear la marca de agua. Este movimiento se realiza cuidadosamente para asegurar que no interfiera con el diseño general.
Combinando GW y DW
Al combinar GW y DW, el proceso de marcación de agua se vuelve más efectivo. Las fortalezas de ambos métodos trabajan juntas para crear una marca de agua fuerte mientras minimizan cualquier impacto en el rendimiento.
Evaluación experimental
Para validar la efectividad del marco de marcación de agua propuesto, se realizaron varias pruebas usando benchmarks estándar. Los benchmarks utilizados estaban diseñados para evaluar propiedades impulsadas por longitud de cable y temporización.
Pruebas impulsadas por longitud de cable
En los benchmarks impulsados por longitud de cable, el enfoque está en la longitud total de las conexiones entre los varios componentes del IC. Es importante mantener esta longitud lo más corta posible, ya que conexiones más largas pueden llevar a retrasos y otros problemas.
Los resultados mostraron que las técnicas de marcación de agua no degradaron el rendimiento de la longitud de cable. De hecho, el enfoque propuesto mantuvo las tasas de longitud de cable al mismo nivel que sin marcas de agua.
Pruebas impulsadas por temporización
En los benchmarks impulsados por temporización, el enfoque se desplaza a las restricciones de temporización, que aseguran que las señales viajen a través del circuito dentro de límites de tiempo específicos. Cualquier retraso puede afectar significativamente el rendimiento del IC.
Las pruebas impulsadas por temporización indicaron que la marcación de agua no impactó negativamente las características de temporización de los circuitos probados. Tanto el total de slack negativo como las métricas de slack negativo más grave permanecieron estables.
Resiliencia ante ataques
Uno de los aspectos más críticos de la marcación de agua es su resistencia a ataques. Los adversarios pueden intentar eliminar las marcas de agua o falsificar nuevas. Por lo tanto, es vital evaluar qué tan bien el marco de marcación de agua se sostiene contra tales intentos.
Ataques de eliminación de marcas de agua
En los ataques de eliminación, el objetivo es eliminar las marcas de agua mientras se mantiene la calidad del diseño. Las pruebas demostraron que el marco propuesto es resistente contra varios tipos de ataques de eliminación. Incluso cuando los adversarios intentaron hacer cambios, las marcas de agua incrustadas permanecieron intactas.
Ataques de falsificación de marcas de agua
Los ataques de falsificación implican crear marcas de agua falsas para reclamar propiedad. El sistema de marcación de agua propuesto también está diseñado para resistir estos tipos de ataques. Dado que las marcas de agua dependen de colocaciones y movimientos específicos de la región, es complicado para un adversario replicarlas sin conocimiento previo.
Conclusión
El marco de marcación de agua propuesto para diseños físicos de IC protege efectivamente la propiedad intelectual mientras mantiene altos estándares de rendimiento. Al utilizar tanto métodos de Marcado de Agua Global como Detallado, este enfoque ha demostrado resiliencia ante ataques de eliminación y falsificación. Los resultados de varios benchmarks demuestran que es posible proteger diseños sin comprometer su funcionalidad. A medida que la tecnología sigue avanzando, la importancia de una sólida protección de PI solo crecerá, haciendo que tales innovaciones sean cruciales para la industria.
Título: ICMarks: A Robust Watermarking Framework for Integrated Circuit Physical Design IP Protection
Resumen: Physical design watermarking on contemporary integrated circuit (IC) layout encodes signatures without considering the dense connections and design constraints, which could lead to performance degradation on the watermarked products. This paper presents ICMarks, a quality-preserving and robust watermarking framework for modern IC physical design. ICMarks embeds unique watermark signatures during the physical design's placement stage, thereby authenticating the IC layout ownership. ICMarks's novelty lies in (i) strategically identifying a region of cells to watermark with minimal impact on the layout performance and (ii) a two-level watermarking framework for augmented robustness toward potential removal and forging attacks. Extensive evaluations on benchmarks of different design objectives and sizes validate that ICMarks incurs no wirelength and timing metrics degradation, while successfully proving ownership. Furthermore, we demonstrate ICMarks is robust against two major watermarking attack categories, namely, watermark removal and forging attacks; even if the adversaries have prior knowledge of the watermarking schemes, the signatures cannot be removed without significantly undermining the layout quality.
Autores: Ruisi Zhang, Rachel Selina Rajarathnam, David Z. Pan, Farinaz Koushanfar
Última actualización: 2024-04-28 00:00:00
Idioma: English
Fuente URL: https://arxiv.org/abs/2404.18407
Fuente PDF: https://arxiv.org/pdf/2404.18407
Licencia: https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
Cambios: Este resumen se ha elaborado con la ayuda de AI y puede contener imprecisiones. Para obtener información precisa, consulte los documentos originales enlazados aquí.
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