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# Computerwissenschaften# Kryptographie und Sicherheit# Maschinelles Lernen

iRDVS: Ein neuer Ansatz für Gerätesicherheit

Innovative Technik verbessert den Schutz gegen Power-Seitenkanal-Angriffe.

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iRDVS: ElektronischeiRDVS: ElektronischeGeräte sichernPower-Analyse-Angriffe.Neue Spannungsmethode bekämpft
Inhaltsverzeichnis

Die Sicherheit unserer elektronischen Geräte ist super wichtig, besonders jetzt, wo sie durch das Internet der Dinge (IoT) und autonome Fahrzeuge immer mehr in unser tägliches Leben integriert werden. Eine grosse Bedrohung für diese Sicherheit sind Power-Seitenkanalangriffe, die die Stromverbrauchsmuster eines Geräts ausnutzen, um geheime Informationen wie Verschlüsselungsschlüssel zu enthüllen.

Um diese Angriffe zu bekämpfen, entwickeln Forscher ständig neue Methoden. Ein innovativer Ansatz wird als inselbasierte zufällige dynamische Spannungsskalierung (iRDVS) bezeichnet. Diese Technik nutzt mehrere unabhängige Spannungsbereiche, um es Angreifern schwerer zu machen, den Stromverbrauch eines Systems zu verstehen.

Hintergrund zu Power-Seitenkanalangriffen

Power-Seitenkanalangriffe funktionieren, indem sie analysieren, wie viel Strom ein Gerät während der Berechnung verbraucht. Wenn ein Gerät kryptografische Funktionen ausführt, kann der Stromverbrauch je nach verarbeiteten Daten variieren. Zum Beispiel kann das Ändern eines einzelnen Bits zu Änderungen im Stromverbrauch führen. Angreifer können diesen Stromverbrauch messen und mit bekannten Daten in Verbindung bringen, um geheime Informationen zu erraten.

Es gibt mehrere Methoden, um Geräte gegen diese Angriffe zu stärken. Eine gängige Technik nennt sich Maskierung, bei der die Beziehung zwischen Stromverbrauch und kryptografischen Schlüsseln verborgen wird. Weitere Methoden sind das Stromglätten, das Schwankungen im Stromverbrauch minimiert, und die Verbesserung der Spurenausrichtung, um es Angreifern schwerer zu machen, ihre Strommessungen mit den Berechnungen des Zielgeräts abzugleichen.

Einschränkungen der traditionellen Spannungsskalierung

Traditionelle dynamische Spannungsskalierung (DVS) ist eine Methode, bei der die Spannung, die einem Gerät zugeführt wird, in Echtzeit basierend auf den Verarbeitungsanforderungen angepasst wird. Während DVS den Stromverbrauch reduzieren kann, verwendet es typischerweise eine einzige Spannung für das gesamte System. Dieser Ansatz hat Schwächen. Wenn ein Angreifer die Spannungsniveaus vorhersagen kann, kann er seine Messungen entsprechend anpassen, was es einfacher macht, erfolgreiche Angriffe durchzuführen.

Der iRDVS-Ansatz

Die iRDVS-Technik beinhaltet die Verwendung mehrerer unabhängiger Spannungsbereiche, oder Inseln, innerhalb eines Geräts. Durch das zufällige Ändern der Spannungsniveaus über diese Inseln wird der Stromverbrauch komplexer und schwerer zu analysieren. Diese zusätzliche Zufälligkeit erschwert es Angreifern, die Spannung vorherzusagen, wodurch die allgemeine Sicherheit des Systems verbessert wird.

In diesem Ansatz kann jede Insel ihre Spannung unabhängig anpassen, während sichergestellt wird, dass die Timing-Operationen konsistent bleiben. So bleibt die Leistung erhalten, während eine zusätzliche Sicherheitsebene hinzugefügt wird.

Signal-Rausch-Verhältnis (SNR) in iRDVS

Ein wichtiger Massstab dafür, wie effektiv iRDVS ist, wird das Signal-Rausch-Verhältnis (SNR) sein. Das SNR hilft zu bestimmen, wie gut die geheimen Informationen im gesamten Stromverbrauch verborgen sind. Ein höheres SNR bedeutet, dass der Teil des Stromverbrauchs, der mit geheimen Daten zusammenhängt, stärker aus dem Rauschen hervorsticht, das durch andere Operationen und elektronische Störungen erzeugt wird.

Das Design von iRDVS zielt darauf ab, dieses SNR zu maximieren, wodurch ein besserer Schutz gegen potenzielle Angriffe ermöglicht wird. Durch die Erhöhung der Anzahl unabhängiger Spannungsinseln wird die geheime Information weniger mit dem gesamten Stromverbrauch korreliert, was die Sicherheit erhöht.

Die Rolle des maschinellen Lernens bei Angriffen

Obwohl iRDVS Vorteile bietet, ist es wichtig zu erkennen, dass Angreifer ebenfalls Fortschritte machen. Techniken des maschinellen Lernens können Daten zum Stromverbrauch effektiver analysieren. Durch das Gruppieren von Stromspuren mit ähnlichen Spannungseinstellungen können Angreifer dennoch erfolgreiche Analysen durchführen, insbesondere gegen Systeme, die weniger Spannungsinseln verwenden.

Allerdings macht die einzigartige Struktur von iRDVS es für solche maschinellen Lernangriffe schwieriger, erfolgreich zu sein. Mit zunehmender Anzahl von Spannungsinseln verringert sich die Korrelation zwischen Stromverbrauch und geheimen Daten, was es Angreifern erschwert, potenzielle Schlüssel einzugrenzen.

Analyse von Fehlanpassungen

Ein Vorteil der Verwendung mehrerer Spannungsinseln ist, dass Änderungen der Spannung zu Fehlanpassungen der Stromspuren führen können. Wenn Strommessungen, die geheimen Operationen entsprechen, zeitlich nicht perfekt ausgerichtet sind, wird es für Angreifer schwieriger, Korrelationsverfahren effektiv zu nutzen. Diese Fehlanpassung erschwert zusätzlich alle Bemühungen, Angriffe auf die Leistungsanalyse durchzuführen.

Clusterangriffe

Um die Herausforderungen, die iRDVS mit sich bringt, zu bewältigen, könnten Angreifer Clustering-Techniken verwenden. Dies beinhaltet das Gruppieren von Stromspuren mit ähnlichen Spannungsmerkmalen, um gezieltere Angriffe durchzuführen. Durch das Fokussieren auf Cluster können Angreifer die Ränge verschiedener potenzieller Schlüssel mitteln und ihre Vermutungen verfeinern.

Obwohl diese Methode die Effektivität eines Angriffs verbessern kann, bedeutet die zunehmende Anzahl von Spannungsvariationen in iRDVS-Designs, dass Angreifer sich mit kleineren Datenclustern auseinandersetzen müssen, was ihre Erfolgsraten verringern könnte.

Experimentelle Analyse

Die Forschung zu iRDVS umfasst Tests, um zu messen, wie effektiv dieser Ansatz gegen Angriffe auf die Leistungsanalyse ist. Experimente müssen mit verschiedenen Methoden zur Erzeugung von Spuren durchgeführt und analysiert werden, wie gut die Stromspuren aus iRDVS-Konfigurationen gegen traditionelle und auf maschinellem Lernen basierende Angriffe standhalten.

In ersten Tests haben iRDVS-Designs eine Widerstandsfähigkeit gegen Clusterangriffe gezeigt, werden aber auch kontinuierlich bewertet, um sicherzustellen, dass die implementierten Sicherheitsmassnahmen mit neuen Angriffsmethoden Schritt halten können.

Herstellung und Test von iRDVS-Chips

Um das Konzept von iRDVS zu validieren, wurden Chips unter Verwendung moderner Technologie-Knoten hergestellt. Diese Chips enthielten mehrere Variationen eines AES (Advanced Encryption Standard)-Kerns, der zum Schutz der iRDVS-Methode entwickelt wurde.

Die Tests umfassten das gleichzeitige Ausführen vieler Operationen, während der Stromverbrauch überwacht wurde. Das Ziel war es herauszufinden, ob der iRDVS-Ansatz geheime Operationen effektiv vor Angriffen auf die Leistungsanalyse verbergen kann.

Ergebnisse und Leistungskennzahlen

Ein wichtiger Teil der Bewertung des Erfolgs von iRDVS ist die Messung seiner Effektivität gegen verschiedene Angriffe. Einige der verwendeten Kennzahlen sind:

  1. Minimale Spuren zur Offenlegung (MTD): Die Anzahl der benötigten Stromspuren, um geheime Informationen zu enthüllen. Ein höherer MTD bedeutet bessere Sicherheit.

  2. Partielle Schätzungsentropie (PGE): Diese Kennzahl bewertet, wie viele Vermutungen nötig wären, um das Geheimnis zu finden. Eine hohe PGE deutet darauf hin, dass Angreifer wenig Vertrauen in ihre Vermutungen haben.

  3. Testvektor-Leckageanalyse (TVLA): Dieser Test misst den Informationsleckage über Stromspuren, indem zwei Sätze von Spuren verglichen und ihre statistischen Unterschiede berechnet werden.

Wenn es auf Chips mit iRDVS angewendet wird, haben experimentelle Ergebnisse gezeigt, dass Angreifer zwar mit weniger Spannungsinseln immer noch erfolgreich sein können, der Widerstand jedoch signifikant steigt, wenn die Anzahl der Spannungsinseln wächst.

Fazit

Das iRDVS-Design stellt einen vielversprechenden Ansatz zur Verbesserung der Sicherheit von integrierten Schaltungen gegen Power-Seitenkanalangriffe dar. Durch die Verwendung mehrerer unabhängiger Spannungsinseln erzeugt die Methode zufällige Variabilität im Stromverbrauch, wodurch es für Angreifer schwierig wird, signifikante Korrelationen und Vorhersagen zu treffen.

Durch fortlaufende Forschung und Tests zielt iRDVS darauf ab, seine Effektivität aufrechtzuerhalten, während neue Bedrohungen entstehen, und sicherzustellen, dass unsere Geräte in einer sich ständig weiterentwickelnden Landschaft potenzieller Schwachstellen sicher bleiben.

In zukünftigen Studien planen die Forscher, verschiedene Konfigurationen und Designs zu erkunden, um das optimale Gleichgewicht zwischen Sicherheit, Leistung und Stromverbrauch zu finden, um noch robustere Schutzmechanismen zu schaffen. Da die Technologie weiterhin fortschreitet, wird der Bedarf an sicheren Systemen nur wachsen, was die Entwicklung effektiver Gegenmassnahmen wichtiger denn je macht.

Originalquelle

Titel: Island-based Random Dynamic Voltage Scaling vs ML-Enhanced Power Side-Channel Attacks

Zusammenfassung: In this paper, we describe and analyze an island-based random dynamic voltage scaling (iRDVS) approach to thwart power side-channel attacks. We first analyze the impact of the number of independent voltage islands on the resulting signal-to-noise ratio and trace misalignment. As part of our analysis of misalignment, we propose a novel unsupervised machine learning (ML) based attack that is effective on systems with three or fewer independent voltages. Our results show that iRDVS with four voltage islands, however, cannot be broken with 200k encryption traces, suggesting that iRDVS can be effective. We finish the talk by describing an iRDVS test chip in a 12nm FinFet process that incorporates three variants of an AES-256 accelerator, all originating from the same RTL. This included a synchronous core, an asynchronous core with no protection, and a core employing the iRDVS technique using asynchronous logic. Lab measurements from the chips indicated that both unprotected variants failed the test vector leakage assessment (TVLA) security metric test, while the iRDVS was proven secure in a variety of configurations.

Autoren: Dake Chen, Christine Goins, Maxwell Waugaman, Georgios D. Dimou, Peter A. Beerel

Letzte Aktualisierung: 2023-06-13 00:00:00

Sprache: English

Quell-URL: https://arxiv.org/abs/2306.04859

Quell-PDF: https://arxiv.org/pdf/2306.04859

Lizenz: https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/

Änderungen: Diese Zusammenfassung wurde mit Unterstützung von AI erstellt und kann Ungenauigkeiten enthalten. Genaue Informationen entnehmen Sie bitte den hier verlinkten Originaldokumenten.

Vielen Dank an arxiv für die Nutzung seiner Open-Access-Interoperabilität.

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