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Automatisation de la reconnaissance des nanoparticules dans l'imagerie STEM

Découvre comment l'apprentissage profond améliore l'imagerie et l'analyse des nanoparticules.

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Table des matières

La microscopie électronique à transmission par balayage (STEM) est une technique qui permet de regarder de près les formes et les structures des matériaux. Ce truc est super important en science et en industrie, car il permet aux chercheurs de voir des détails au niveau atomique et de capturer des images à grande vitesse. Les résultats produisent plein d'infos détaillées, ce qui peut être compliqué à analyser manuellement.

Le besoin d'automatisation

La quantité de données générées par le STEM peut être écrasante pour les humains. Du coup, il faut des méthodes informatiques automatisées pour aider à comprendre ces données plus rapidement et efficacement. Une approche, c'est d'utiliser l'apprentissage profond, un type d'intelligence artificielle, pour reconnaître et analyser les détails dans ces images.

Le rôle de l'apprentissage profond

Dans ce contexte, des algorithmes d'apprentissage profond, notamment un modèle appelé Mask Region-based Convolutional Neural Network (Mask R-CNN), ont été développés pour identifier les Nanoparticules dans les images prises par le STEM. Le modèle Mask R-CNN peut aussi faire des mesures sur ces particules. Les tests ont montré que l'ajout de bruit dans les images, en particulier du Bruit Gaussien, affecte la précision avec laquelle le modèle peut reconnaître les nanoparticules.

Bruit gaussien et son impact

Le bruit gaussien est un type d'interférence aléatoire qui peut déformer les images. Ce bruit peut venir de sources diverses, affectant la clarté des images produites par le STEM. Quand les images contiennent différents niveaux de bruit gaussien, la précision de la Reconnaissance des particules peut diminuer. Donc, il est essentiel de réduire ce bruit pour améliorer les résultats.

Techniques de réduction de bruit

Pour s'attaquer à ce problème, des Filtres ont été appliqués aux images contenant du bruit gaussien. Deux types de filtres ont été utilisés : un filtre gaussien et un filtre Non-Local Means (NLM). Les deux filtres aident à réduire le bruit ajouté et à améliorer la qualité des images, permettant ainsi une meilleure reconnaissance des nanoparticules.

Test des filtres

Dans des expériences, les chercheurs ont testé le modèle sur des images avec différents niveaux de bruit gaussien. Les résultats ont montré que le modèle Mask R-CNN fonctionnait beaucoup mieux sur les images qui avaient été filtrées, par rapport à celles avec du bruit. Le filtre NLM a mieux performé que le filtre gaussien, atteignant la meilleure précision de reconnaissance.

Résultats expérimentaux

Les techniques et filtres ont été testés non seulement sur des images simulées, mais aussi appliqués à de vraies images expérimentales prises par le STEM. Le modèle d'apprentissage profond a réussi à reconnaître les nanoparticules dans ces images du monde réel, montrant que les méthodes développées peuvent être appliquées efficacement au-delà des simulations.

Importance de la forme et de la taille des particules

La forme et la taille des nanoparticules jouent aussi des rôles cruciaux dans la performance des algorithmes de reconnaissance. Différents types de particules, comme les nanosphères, les nanorods et les nanocubes, donnent des résultats variés en termes de précision de reconnaissance. On a trouvé que les nanosphères et les nanocubes concaves étaient identifiés avec précision, tandis que les nanorods posaient des défis à cause de leur forme allongée.

Ratio de contour et d'aire

Un facteur clé dans la précision de reconnaissance est le ratio entre le contour et l'aire des particules. Les nanosphères et les nanocubes concaves ont des ratios plus bas, ce qui mène à une meilleure reconnaissance. Par contre, les nanorods, avec leurs hauts ratios contour/aire, étaient plus difficiles à identifier correctement. Cette relation indique que les particules avec des contours plus lisses sont plus faciles à reconnaître que celles avec des bords complexes.

Conclusion

L'étude montre que les techniques d'apprentissage profond, surtout quand elles sont combinées avec des méthodes de réduction de bruit, peuvent améliorer significativement la reconnaissance et l'analyse des nanoparticules dans les images STEM. Les méthodes se sont révélées efficaces tant dans des scénarios simulés que réels. Alors que les défis posés par le bruit, la forme et la taille sont mieux compris, d'autres avancées dans la reconnaissance automatisée des matériaux vont probablement continuer à se développer, menant à une compréhension plus profonde de leurs propriétés structurelles et chimiques. Ce travail met en avant le potentiel de ces techniques avancées pour transformer le domaine de la microscopie et de la science des matériaux.

Source originale

Titre: Deep-Learning Recognition of Scanning Transmission Electron Microscopy: Quantifying and Mitigating the Influence of Gaussian Noises

Résumé: Scanning transmission electron microscopy (STEM) is a powerful tool to reveal the morphologies and structures of materials, thereby attracting intensive interests from the scientific and industrial communities. The outstanding spatial (atomic level) and temporal (ms level) resolutions of the STEM techniques generate fruitful amounts of high-definition data, thereby enabling the high-volume and high-speed analysis of materials. On the other hand, processing of the big dataset generated by STEM is time-consuming and beyond the capability of human-based manual work, which urgently calls for computer-based automation. In this work, we present a deep-learning mask region-based neural network (Mask R-CNN) for the recognition of nanoparticles imaged by STEM, as well as generating the associated dimensional analysis. The Mask R-CNN model was tested on simulated STEM-HAADF results with different Gaussian noises, particle shapes and particle sizes, and the results indicated that Gaussian noise has determining influence on the accuracy of recognition. By applying Gaussian and Non-Local Means filters on the noise-containing STEM-HAADF results, the influences of noises are largely mitigated, and recognition accuracy is significantly improved. This filtering-recognition approach was further applied to experimental STEM-HAADF results, which yields satisfying accuracy compared with the traditional threshold methods. The deep-learning-based method developed in this work has great potentials in analysis of the complicated structures and large data generated by STEM-HAADF.

Auteurs: Hanlei Zhang, Jincheng Bai, Xiabo Chen, Can Li, Chuanjian Zhong, Jiye Fang, Guangwen Zhou

Dernière mise à jour: Sep 25, 2024

Langue: English

Source URL: https://arxiv.org/abs/2409.16637

Source PDF: https://arxiv.org/pdf/2409.16637

Licence: https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/

Changements: Ce résumé a été créé avec l'aide de l'IA et peut contenir des inexactitudes. Pour obtenir des informations précises, veuillez vous référer aux documents sources originaux dont les liens figurent ici.

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