Simple Science

Hochmoderne Wissenschaft einfach erklärt

# Physik# Instrumentierung und Detektoren

Testen von fortschrittlichen Sensoren zur Partikelerkennung

Forschung zu analogen monolithischen aktiven Pixelsensoren für verbesserte Teilchennachweisfähigkeiten.

― 7 min Lesedauer


Innovative Sensoren fürInnovative Sensoren fürPartikelforschungTeilchenerkennung verbessern.Leistung bei Studien zurFortgeschrittene Sensoren sollen die
Inhaltsverzeichnis

Dieser Artikel diskutiert die Tests eines fortschrittlichen Sensors, der als Analogue Monolithic Active Pixel Sensor (MAPS) bezeichnet wird. Diese Sensoren werden mit einem speziellen Herstellungsprozess hergestellt und sollen in der Teilchendetektion, insbesondere in Hochenergiephysik-Experimenten, eingesetzt werden. Die Hochenergiephysik untersucht Teilchen und deren Wechselwirkungen, und diese Sensoren zielen darauf ab, die Detektionsfähigkeiten für zukünftige Experimente zu verbessern.

Was sind Monolithic Active Pixel Sensors?

Monolithic Active Pixel Sensors sind eine Art von Bildsensor, die Teilchen erkennen können. Sie haben ein Netz aus winzigen Pixeln, von denen jeder einzeln Signale verarbeiten kann. Dadurch wird die Genauigkeit und Leistung bei der Messung von Teilchen verbessert. Die spezifischen Sensoren, die hier besprochen werden, wurden mit einem 65-nm-CMOS-Prozess hergestellt, einer Methode zur Herstellung dieser Sensoren mit sehr kleinen Bauteilen.

Zweck der Tests

Das Hauptziel der Tests war herauszufinden, wie gut diese Sensoren unter verschiedenen Bedingungen funktionieren. Die Tests sollten bestimmen, wie die Sensoren auf unterschiedliche Strahlungslevels reagieren, was für ihre zukünftige Nutzung in der Teilchendetektion entscheidend ist. Neben den Tests der Sensoren zielte die Forschung auch darauf ab, ihr Design für effektivere Teilchendetektion zu verbessern.

Die Designvarianten

Es wurden mehrere Varianten des Sensors für Tests erstellt. Jede Variante unterschied sich in bestimmten Aspekten, wie Dopinglevels (dies bezieht sich auf die Zugabe von Verunreinigungen zur Verbesserung der Leitfähigkeit), Pixelformen und -grössen. Die Pixel wurden so entworfen, dass sie Abstände (Spacing zwischen den Pixeln) von 10 bis 25 Mikrometern hatten. Jede Variante wurde unterschiedlichen Strahlungslevels ausgesetzt, um ihre Leistung zu testen.

Prototypen und Testbedingungen

Die getesteten Prototypen verfügten über ein Raster von 44 Pixeln. Die Tests zielen darauf ab, herauszufinden, wie gut diese Pixel Ladungen sammeln, was wichtig für die Teilchenerkennung ist. Diese Tests nutzten Röntgenquellen und Teilchenstrahlen zur Evaluierung. Die Ergebnisse helfen dabei, die Sensordesigns für zukünftige Anwendungen in der Teilchendetektion zu optimieren.

Frühere Entwicklungen

Die Verwendung von CMOS-Bildgebungstechnologie für Teilchensensoren war in früheren Bemühungen wie den STAR PIXEL und ALICE ITS2-Sensoren erfolgreich. Ermutigt durch diese Erfolge begannen Forscher, den Einsatz des 65-nm-CMOS-Prozesses für Teilchendetektoren der nächsten Generation zu erkunden. Dieser Prozess soll helfen, Tracking-Systeme für kommende Experimente zu entwickeln.

Anforderungen an zukünftige Systeme

Zukünftige Anwendungen, wie das Upgrade des ALICE Inner Tracking Systems, erfordern, dass Sensoren ein hohes Leistungsniveau erreichen. Dazu gehören eine Räumliche Auflösung von weniger als 5 Mikrometern und eine Teilchendetektionseffizienz von über 99% nach der Exposition gegenüber erheblichen Strahlungslevels. Diese Spezifikationen sind entscheidend, damit Sensoren in Hochenergiephysik-Experimenten angemessen funktionieren.

Ziel für verbesserte Leistung

Die Forschung konzentrierte sich darauf, Sensordesigns zu schaffen, die diese Anforderungen erfüllen oder übertreffen konnten. Jede Designvariante wurde sorgfältig gegen diese Spezifikationen getestet, um sicherzustellen, dass sie Strahlung ohne signifikanten Leistungsabfall tolerieren können. Je höher die Strahlungslevels, desto herausfordernder wird es, die Effizienz der Sensoren aufrechtzuerhalten, weshalb sorgfältiges Design und Testing entscheidend sind.

Überblick über die Analog Pixel Teststruktur (APTS)

Die APTS ist ein kleiner Prototyp-Chip, der 1,5 mm mal 1,5 mm misst. Dieser Chip enthält ein Raster von 44 Pixeln, wobei jeder Pixel darauf ausgelegt ist, seine Signale einzeln auszugeben. Dieses Design hilft, detaillierte Informationen darüber zu sammeln, wie sich der Sensor über die Zeit verhält. Der Chip kann mit verschiedenen Rückwärtsvoltagen betrieben werden, was seine Leistung beeinflusst.

Designmerkmale

Die APTS wurde mit verschiedenen Konfigurationen erstellt, um zu verstehen, wie sich Änderungen auf die Leistung auswirken. Zum Beispiel hatten einige Designs eine Standardkonfiguration, während andere mit verschiedenen Dopinglevels und Spaltanordnungen modifiziert wurden. Diese Änderungen zielten darauf ab, die Effizienz der Ladungssammlung zu verbessern, ein wesentlicher Aspekt für eine effektive Teilchendetektion.

Signalverarbeitung und Auslesung

Jeder Pixel in der APTS verfügt über einen Signalverarbeitungskreis, um den Output zu handhaben. Wenn ein Teilchen mit dem Sensor interagiert, erzeugt es eine Ladung, die gesammelt und gemessen werden muss. Das Auslesesystem ist so konzipiert, dass es diese Signale genau erfasst und sicherstellt, dass die gesammelten Daten zuverlässig und sinnvoll sind.

Labortests

Die Sensoren wurden durch ein massgeschneidertes Testsystem betrieben, das ihre Leistung unter kontrollierten Bedingungen überwachte. Dieses System lieferte Daten darüber, wie die Sensoren auf unterschiedliche Eingangsladungen reagierten. Die Ergebnisse zeigten, wie gut die Sensoren in realen Szenarien funktionieren könnten und ebneten den Weg für weitere Verbesserungen.

Signalform und Extraktion

Während der Tests wurden die Ausgangssignale der Pixel aufgezeichnet. Die Signale zeigten Variationen, je nachdem, wie viel Ladung in den Sensor eingespeist wurde. Das Verständnis dieser Signalformen ist entscheidend, um zu bestimmen, wie genau die Sensoren Teilchen messen können und wie schnell sie reagieren können.

Geräuschpegel und deren Auswirkungen

Rauschen ist ein wichtiger Faktor, der die Sensorleistung beeinflusst. Die Tests massen die Basisfluktuationen in den Signalen, um die Geräuschpegel zu bewerten. Höhere Geräuschpegel können die Fähigkeit des Sensors beeinträchtigen, Teilchen genau zu erkennen, daher ist es entscheidend, das Rauschen zu minimieren, um die Leistung aufrechtzuerhalten.

Auswirkungen der Strahlung auf die Leistung

Die Sensoren wurden verschiedenen Strahlungslevels ausgesetzt, um zu verstehen, wie sie unter extremen Bedingungen abschneiden. Mit steigender Strahlenexposition können die Sensoren höhere Leckströme entwickeln, was ihre Effizienz beeinträchtigen kann. Die Tests zielten darauf ab, herauszufinden, wie die Sensoren optimiert werden können, um diese Bedingungen zu überstehen und dennoch effektiv zu arbeiten.

Vergleich verschiedener Designs

Bei unterschiedlichen Designs verglichen die Forscher Leistungskennzahlen wie die Effizienz der Ladungssammlung und die Energieauflösung. Die Tests zeigten, dass einige Designs eine bessere Leistung boten, was zu einem tieferen Verständnis darüber führte, wie Modifikationen der Sensoren die Effizienz verbessern können.

Messung der Ladungssammlung

Um die Leistung der Sensoren zu bewerten, wurden eine Reihe von Tests mit einer radioaktiven Quelle durchgeführt. Die Signale der Sensoren wurden analysiert, um zu bewerten, wie effektiv sie Ladung sammeln konnten. Diese Bewertung war entscheidend, um festzustellen, wie gut jede Designvariante gegen festgelegte Benchmarks abschnitt.

Ergebnisse zur Detektionseffizienz

Eine der kritischen Kennzahlen, die analysiert wurde, war die Detektionseffizienz jedes Designs. Diese Metrik misst, wie gut die Sensoren eingehende Teilchen erfassen können. Die Ergebnisse zeigten, dass die modifizierten Designs eine höhere Detektionseffizienz als die Standarddesigns erreichten.

Räumliche Auflösung und deren Bedeutung

Die räumliche Auflösung ist ein weiterer entscheidender Faktor, der angibt, wie genau die Sensoren den Standort einer Teilcheninteraktion bestimmen können. Die Tests zeigten, dass bestimmte Designs eine überlegene räumliche Auflösung boten, was für präzises Teilchen-Tracking in Experimenten grundlegend ist.

Zukünftige Anwendungen und Bedeutung

Die Ergebnisse dieser Tests sind bedeutend für zukünftige Hochenergiephysik-Experimente. Die Fortschritte im Sensordesign und in der Leistung haben Auswirkungen darauf, wie Teilchendetektoren gestaltet werden. Mit den erfolgreichen Ergebnissen dieser Studien sind die Forscher optimistisch, diese Technologie in kommenden Experimenten anwenden zu können.

Zusammenfassung der Ergebnisse

Die Forschung gab einen Überblick über die Leistung verschiedener Sensordesigns. Die mit dem Spalt-Design modifizierte Variante zeigte eine bemerkenswerte Effizienz in der Ladungssammlung und reduzierte die Ladungsteilung, was zu einem höheren Signal-Rausch-Verhältnis führte. Diese Leistung übersetzt sich in bessere Betriebsmargen und ist entscheidend für bevorstehende Detektoren in der Hochenergiephysik.

Fazit

Zusammenfassend stellt die Entwicklung und Testung von Analogue Monolithic Active Pixel Sensors mit dem 65-nm-CMOS-Prozess einen bedeutenden Fortschritt in der Technologie zur Teilchendetektion dar. Die Forschungsergebnisse zeigen vielversprechendes Potenzial für diese Sensoren, um die strengen Anforderungen zukünftiger Hochenergiephysik-Experimente zu erfüllen. Eine kontinuierliche Verfeinerung der Sensordesigns wird deren Fähigkeiten weiter verbessern und den Weg für anspruchsvollere Studien der fundamentalen Teilchen, aus denen unser Universum besteht, ebnen.

Originalquelle

Titel: Characterisation of analogue Monolithic Active Pixel Sensor test structures implemented in a 65 nm CMOS imaging process

Zusammenfassung: Analogue test structures were fabricated using the Tower Partners Semiconductor Co. CMOS 65 nm ISC process. The purpose was to characterise and qualify this process and to optimise the sensor for the next generation of Monolithic Active Pixels Sensors for high-energy physics. The technology was explored in several variants which differed by: doping levels, pixel geometries and pixel pitches (10-25 $\mu$m). These variants have been tested following exposure to varying levels of irradiation up to 3 MGy and $10^{16}$ 1 MeV n$_\text{eq}$ cm$^{-2}$. Here the results from prototypes that feature direct analogue output of a 4$\times$4 pixel matrix are reported, allowing the systematic and detailed study of charge collection properties. Measurements were taken both using $^{55}$Fe X-ray sources and in beam tests using minimum ionizing particles. The results not only demonstrate the feasibility of using this technology for particle detection but also serve as a reference for future applications and optimisations.

Autoren: Gianluca Aglieri Rinella, Giacomo Alocco, Matias Antonelli, Roberto Baccomi, Stefania Maria Beole, Mihail Bogdan Blidaru, Bent Benedikt Buttwill, Eric Buschmann, Paolo Camerini, Francesca Carnesecchi, Marielle Chartier, Yongjun Choi, Manuel Colocci, Giacomo Contin, Dominik Dannheim, Daniele De Gruttola, Manuel Del Rio Viera, Andrea Dubla, Antonello di Mauro, Maurice Calvin Donner, Gregor Hieronymus Eberwein, Jan Egger, Laura Fabbietti, Finn Feindt, Kunal Gautam, Roman Gernhaeuser, James Julian Glover, Laura Gonella, Karl Gran Grodaas, Ingrid-Maria Gregor, Hartmut Hillemanns, Lennart Huth, Armin Ilg, Artem Isakov, Daniel Matthew Jones, Antoine Junique, Jetnipit Kaewjai, Markus Keil, Jiyoung Kim, Alex Kluge, Chinorat Kobdaj, Artem Kotliarov, Kritsada Kittimanapun, Filip Křížek, Gabriela Kucharska, Svetlana Kushpil, Paola La Rocca, Natthawut Laojamnongwong, Lukas Lautner, Roy Crawford Lemmon, Corentin Lemoine, Long Li, Francesco Librizzi, Jian Liu, Anna Macchiolo, Magnus Mager, Davide Marras, Paolo Martinengo, Silvia Masciocchi, Serena Mattiazzo, Marius Wilm Menzel, Alice Mulliri, Mia Rose Mylne, Francesco Piro, Alexandre Rachevski, Marika Rasà, Karoliina Rebane, Felix Reidt, Riccardo Ricci, Sara Ruiz Daza, Gaspare Saccà, Isabella Sanna, Valerio Sarritzu, Judith Schlaadt, David Schledewitz, Gilda Scioli, Serhiy Senyukov, Adriana Simancas, Walter Snoeys, Simon Spannagel, Miljenko Šuljić, Alessandro Sturniolo, Nicolas Tiltmann, Antonio Trifirò, Gianluca Usai, Tomas Vanat, Jacob Bastiaan Van Beelen, Laszlo Varga, Michele Verdoglia, Gianpiero Vignola, Anna Villani, Haakan Wennloef, Jonathan Witte, Rebekka Bettina Wittwer

Letzte Aktualisierung: 2024-03-13 00:00:00

Sprache: English

Quell-URL: https://arxiv.org/abs/2403.08952

Quell-PDF: https://arxiv.org/pdf/2403.08952

Lizenz: https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/

Änderungen: Diese Zusammenfassung wurde mit Unterstützung von AI erstellt und kann Ungenauigkeiten enthalten. Genaue Informationen entnehmen Sie bitte den hier verlinkten Originaldokumenten.

Vielen Dank an arxiv für die Nutzung seiner Open-Access-Interoperabilität.

Mehr von den Autoren

Ähnliche Artikel