Few-Shot Lernen mit Vision Transformers verbessern
Ein neues Framework verbessert das Lernen aus begrenzten Daten in Vision Transformers.
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Inhaltsverzeichnis
- Die Herausforderung des Few-Shot Learning
- Vision Transformers: Potenzial und Einschränkungen
- Die Lücke zwischen Selbstüberwachtem und Überwachtem Lernen schliessen
- Supervised Masked Knowledge Distillation (SMKD)
- Vorteile und praktische Überlegungen
- Experimentelle Evaluierung
- Verwandte Arbeiten
- Fazit
- Originalquelle
- Referenz Links
In der Welt der Computer Vision gab's in den letzten Jahren richtig grosse Fortschritte, besonders mit der Einführung von Vision Transformers (ViTs). Diese Modelle haben beeindruckende Ergebnisse in Aufgaben wie Bildklassifikation, Objekterkennung und Segmentierung gezeigt, indem sie die Beziehungen zwischen verschiedenen Teilen eines Bildes verstehen. Allerdings schneiden diese Modelle bei kleinen Datensätzen und nur wenigen beschrifteten Beispielen oft schlecht ab. Dieser Artikel erklärt die Herausforderungen und schlägt eine Methode vor, um die Fähigkeit dieser Modelle zu verbessern, effektiv aus begrenzten Daten zu lernen.
Die Herausforderung des Few-Shot Learning
Few-shot Learning (FSL) ist ein Bereich, der sich darauf konzentriert, Modelle zu trainieren, um neue Objekte nur anhand von wenigen Beispielen jeder Kategorie zu erkennen. Zum Beispiel, wenn ein Modell Bilder von Katzen und Hunden gesehen hat, könnte es nur ein oder fünf neue Bilder von einem Vogel bekommen, um zu lernen, wie man ihn identifiziert. Traditionelle Modelle haben oft damit zu kämpfen, weil sie eine Menge Daten brauchen, um effektiv zu lernen.
In vielen Fällen versuchen bestehende Methoden, dieses Problem zu mildern, indem sie Regularisierungstechniken anwenden, die dem Modell helfen, nicht zu überfitten. Überfitting passiert, wenn ein Modell zu viel aus den Trainingsdaten lernt, einschliesslich Rauschen und zufälligen Schwankungen, was zu einer schlechten Leistung bei neuen Beispielen führt. Andere Methoden könnten Informationen aus den Labels weniger effektiv nutzen oder komplexe Lernziele implementieren.
Vision Transformers: Potenzial und Einschränkungen
ViTs haben an Popularität gewonnen als starke Alternative zu Convolutional Neural Networks (CNNs), weil sie fähig sind, globale Merkmale in Bildern zu analysieren. Im Gegensatz zu CNNs, die feste Muster verwenden, um lokale Merkmale zu analysieren, verlassen sich ViTs auf Aufmerksamkeitsmechanismen, um Beziehungen über das gesamte Bild zu lernen. Diese Flexibilität ermöglicht es ihnen, komplexe visuelle Informationen zu erfassen. Allerdings kann das auch zu Herausforderungen führen, besonders wenn nur begrenzte Daten zur Verfügung stehen.
Das Problem ergibt sich, weil ViTs aus Daten lernen müssen, ohne auf vorherige Vorurteile angewiesen zu sein. Dadurch können sie kleine Datensätze leicht auswendig lernen, anstatt wirklich zu lernen, wie man zwischen Klassen unterscheidet. Diese Auswendiglernerei führt zu einem erheblichen Leistungsabfall, wenn sie neuen, unbekannten Kategorien ausgesetzt werden.
Die Lücke zwischen Selbstüberwachtem und Überwachtem Lernen schliessen
Neuere Studien haben vielversprechende Ergebnisse gezeigt, wenn es darum geht, Selbstüberwachtes Lernen und Überwachtes Lernen zu kombinieren. Bei selbstüberwachtem Lernen wird ein Modell trainiert, um Teile eines Eingangs ohne beschriftete Beispiele vorherzusagen. Zum Beispiel könnte ein Modell damit beauftragt werden, fehlende Abschnitte eines Bildes vorherzusagen oder die Reihenfolge von Patches in einem Bild zu erraten. Das hilft dem Modell, nützliche Merkmale zu lernen, die später bei der Schulung mit beschrifteten Beispielen von Vorteil sein können.
Allerdings haben selbstüberwachtes und überwachtes Lernen oft gegensätzliche Ziele. Diese beiden Ziele ins Gleichgewicht zu bringen, kann eine Herausforderung darstellen, was die Notwendigkeit eines effektiveren Ansatzes zeigt, der beide Methoden nutzt.
Supervised Masked Knowledge Distillation (SMKD)
Um die Herausforderungen des Few-Shot Learning mit ViTs anzugehen, stellen wir einen neuen Rahmen namens Supervised Masked Knowledge Distillation (SMKD) vor. Diese Methode baut auf den Prinzipien sowohl des selbstüberwachenden als auch des überwachten Lernens auf und adressiert die Einschränkungen traditioneller Ansätze.
SMKD integriert Label-Informationen in die Selbst-Distillation, was hilft, bessere Repräsentationen von Klassen und Patches in Bildern zu erstellen. Indem Wissen über verschiedene Ansichten derselben Daten geteilt wird, lernt das Modell, Merkmale besser auszurichten und verbessert so seine Fähigkeit, auf neue Beispiele zu verallgemeinern.
Wie SMKD funktioniert
Die Kernidee hinter SMKD ist die Kombination von Wissensdistillation sowohl auf Klassen- als auch auf Patch-Ebene. Klassentokens repräsentieren die allgemeinen Klasseninformationen, während Patchtokens lokale Details im Bild erfassen. Die vorgeschlagene Methode umfasst zwei Hauptlernziele: Wissen aus Klassentokens und Wissen aus Patchtokens zu destillieren.
Klassentokens: Das Modell lernt, die Ähnlichkeit zwischen Klassentokens intra-klassiger Bilder zu maximieren. Das bedeutet, es findet die Gemeinsamkeiten zwischen Bildern, die zur selben Klasse gehören, was dem Modell hilft, sein Verständnis davon zu verfeinern, was diese Klasse definiert.
Patchtokens: Für lokale Details konzentriert sich das Modell darauf, maskierte Patches über Bilder derselben Klasse zu rekonstruieren. Indem es Ähnlichkeiten zwischen lokalen Patches schätzt, kann das Modell lernen, Muster und Merkmale zu erkennen, die entscheidend sind, um zwischen Instanzen zu unterscheiden.
Durch die Kombination dieser beiden Ansätze stärkt SMKD den gesamten Lernprozess, macht das Modell robuster gegenüber Variationen und besser darin, unbekannte Klassen zu erkennen.
Vorteile und praktische Überlegungen
Der SMKD-Rahmen bietet verschiedene Vorteile:
Keine zusätzlichen Parameter: Im Gegensatz zu einigen komplexen Methoden, die neue lernbare Parameter einführen, fügt SMKD der Modellarchitektur keine zusätzliche Komplexität hinzu. Das macht es einfacher, mit bestehenden Systemen zu integrieren und reduziert den Rechenaufwand.
Effizienz: SMKD ist so konzipiert, dass es während des Trainings effizient arbeitet. Es erzielt starke Leistungen bei Few-Shot-Klassifikationsaufgaben und benötigt dabei weniger Trainingszeit im Vergleich zu anderen Methoden.
Verallgemeinerungsfähigkeit: Durch die effektive Nutzung sowohl der klassen- als auch der patchbezogenen Informationen verbessert SMKD die Fähigkeit des Modells zu verallgemeinern, was zu besseren Ergebnissen bei unbekannten Daten führt.
Vereinfachtes Design: Das unkomplizierte Design von SMKD ermöglicht den Einsatz in verschiedenen Few-Shot-Lernbenchmarks, was es zu einer vielseitigen Option für verschiedene Anwendungen macht.
Experimentelle Evaluierung
Um die Effektivität von SMKD zu bewerten, wurden Experimente an vier öffentlichen Few-Shot-Klassifikationsdatensätzen durchgeführt: mini-ImageNet, tiered-ImageNet, CIFAR-FS und FC100. Jeder dieser Datensätze verfügt über unterschiedliche Klassenanzahlen und Proben und bietet eine umfassende Untersuchung der Leistung der vorgeschlagenen Methode.
Ergebnisse
Die experimentellen Ergebnisse zeigten durchweg, dass SMKD bestehende Methoden auf mehreren Benchmarks übertrifft. Besonders bemerkenswert ist, dass es eine neue Spitzenleistung auf CIFAR-FS und FC100 mit einem erheblichen Vorsprung erreichte. Ausserdem zeigte es wettbewerbsfähige Leistungen auf mini-ImageNet und tiered-ImageNet.
Diese Ergebnisse heben die Effektivität eines gut gestalteten Rahmens hervor, der sowohl selbstüberwachtes als auch überwachtetes Lernen integriert. Die Kombination aus überwachtem kontrastiven Verlusten, detaillierter Patchrekonstruktion und effizienten Distillationsstrategien spielte eine entscheidende Rolle bei der Erreichung dieser beeindruckenden Ergebnisse.
Verwandte Arbeiten
In den letzten Jahren gab es laufende Forschungen im Bereich des Few-Shot-Lernens, wobei verschiedene Ansätze versuchten, die Herausforderung des Verallgemeinerns aus begrenzten Beispielen anzugehen. Einige beliebte Techniken umfassen Meta-Learning, bei dem ein Modell an mehreren Aufgaben trainiert wird, um seine Anpassungsfähigkeit an neue Aufgaben mit weniger Proben zu verbessern. Allerdings zeigen unsere Ergebnisse, dass einfachere Methoden, die auf distanzbasierten Klassifikatoren basieren, komplexere Meta-Learning-Methoden übertreffen können.
Ein weiterer Fokus lag auf der Anwendung von Vision Transformers in Few-Shot-Lernumgebungen. Forscher haben verschiedene Architekturen und Techniken untersucht, um Vorurteile wieder in Transformers einzuführen. Unsere Arbeit trägt zu diesem fortlaufenden Bemühen bei, indem sie zeigt, dass selbst mit einfachen ViT-Strukturen leistungsstarke Ergebnisse erzielt werden können.
Selbstüberwachtes Lernen hat ebenfalls an Bedeutung gewonnen, da es potenzielle Vorteile für die Few-Shot-Klassifikation bietet. Frühere Methoden haben selbstüberwachte Aufgaben in den Trainingsprozess integriert, und SMKD baut auf diesen Ideen auf, indem es die Bedeutung der Label-Informationen im Distillationsprozess betont.
Fazit
Zusammenfassend bietet der SMKD-Rahmen eine vielversprechende Lösung für die Herausforderungen des Few-Shot-Lernens mit Vision Transformers. Durch die Verschmelzung der Stärken des selbstüberwachten und des überwachten Lernens bietet SMKD einen effizienten und effektiven Ansatz, der die Modellleistung verbessert, ohne unnötige Komplexität hinzuzufügen. Die experimentellen Ergebnisse bestätigen seine Fähigkeit, gut auf neue Klassen zu verallgemeinern, was den Weg für zukünftige Fortschritte im Few-Shot-Lernen ebnet.
Die potenziellen Anwendungen von SMKD gehen über traditionelle Computer Vision-Aufgaben hinaus und könnten verschiedene Bereiche profitieren, in denen Datenknappheit eine Herausforderung darstellt. Während die Forschung in diesem Bereich weiter voranschreitet, können Methoden wie SMKD eine entscheidende Rolle dabei spielen, die Lücke zwischen bestehenden Techniken zu schliessen und letztendlich zu verbesserten Lernsystemen zu führen, die sich mit minimalen Daten an neue Szenarien anpassen können.
Titel: Supervised Masked Knowledge Distillation for Few-Shot Transformers
Zusammenfassung: Vision Transformers (ViTs) emerge to achieve impressive performance on many data-abundant computer vision tasks by capturing long-range dependencies among local features. However, under few-shot learning (FSL) settings on small datasets with only a few labeled data, ViT tends to overfit and suffers from severe performance degradation due to its absence of CNN-alike inductive bias. Previous works in FSL avoid such problem either through the help of self-supervised auxiliary losses, or through the dextile uses of label information under supervised settings. But the gap between self-supervised and supervised few-shot Transformers is still unfilled. Inspired by recent advances in self-supervised knowledge distillation and masked image modeling (MIM), we propose a novel Supervised Masked Knowledge Distillation model (SMKD) for few-shot Transformers which incorporates label information into self-distillation frameworks. Compared with previous self-supervised methods, we allow intra-class knowledge distillation on both class and patch tokens, and introduce the challenging task of masked patch tokens reconstruction across intra-class images. Experimental results on four few-shot classification benchmark datasets show that our method with simple design outperforms previous methods by a large margin and achieves a new start-of-the-art. Detailed ablation studies confirm the effectiveness of each component of our model. Code for this paper is available here: https://github.com/HL-hanlin/SMKD.
Autoren: Han Lin, Guangxing Han, Jiawei Ma, Shiyuan Huang, Xudong Lin, Shih-Fu Chang
Letzte Aktualisierung: 2023-03-28 00:00:00
Sprache: English
Quell-URL: https://arxiv.org/abs/2303.15466
Quell-PDF: https://arxiv.org/pdf/2303.15466
Lizenz: https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
Änderungen: Diese Zusammenfassung wurde mit Unterstützung von AI erstellt und kann Ungenauigkeiten enthalten. Genaue Informationen entnehmen Sie bitte den hier verlinkten Originaldokumenten.
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