ベクトルネットワークアナライザーのキャリブレーション方法の改善
新しい方法が、スルースタンダードなしでVNAキャリブレーションを強化するよ。
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ベクトルネットワークアナライザー(VNA)は、電気ネットワークを測定するための重要なツールだよ。正確な測定を得るためには、キャリブレーションっていうプロセスが必要なんだ。キャリブレーションは、デバイスが正しく動作して、測定が信頼できるものであることを保証してくれる。この文章では、スルー標準っていう特定の種類の標準を使わずにVNAをキャリブレーションする改善された方法を説明するよ。
キャリブレーションの重要性
キャリブレーションはVNAにとってめちゃくちゃ重要で、測定の正確さはデバイスのセットアップがどれだけうまくいっているかに依存するんだ。これまでにいろんなキャリブレーション方法が開発されてきたけど、その中でよく知られているのがスルーリフレクトライン(TRL)法だよ。この方法は精度が高いって評価されてるけど、いくつか制限があるんだ。従来のTRL法はスルー標準を必要とするから、状況によってはその使用が難しいこともある。
従来のキャリブレーション方法
スルーリフレクトライン(TRL)法
TRLキャリブレーション法は、1979年に導入されて以来広く使われてきた。スルー標準、つまり長さゼロのラインを使ってキャリブレーションの場所を決める手助けをするんだ。この方法はいろんなアプリケーションに対して効果的だけど、重大な欠点がある。場合によっては、キャリブレーション中に使用できるスルー標準を作るのが難しいことがあるんだ。
ラインリフレクトライン(LRL)法
TRL法の代替としてラインリフレクトライン(LRL)法もある。この方法では、スルー標準の代わりに既知の長さのライン標準を使ってキャリブレーションの場所を定義できるんだ。これでいくつかの問題は解決されるけど、新たな課題が生まれる。それは、正確さを保証するためにラインの特性を正確に測定する必要があるってこと。
ショートオープンロードリプロカル(SOLR)法
もう一つの方法、ショートオープンロードリプロカル(SOLR)法は、全くスルー標準を必要としない。代わりに、キャリブレーションの場所を定義するために任意の2ポートリプロカルデバイスを使うんだ。デメリットは、SOLR法もキャリブレーションに使用するデバイスの理解が必要だってこと。
新しいキャリブレーションアプローチ
従来のキャリブレーション方法の限界に対処するために、新しい方法が提案された。この方法は、任意の2ポートデバイスと追加のリフレクト標準を使ってスルー標準を全く使わずにキャリブレーションを行うんだ。このアプローチは、従来の方法の制約なしに柔軟で効果的なキャリブレーションを可能にするよ。
新しい方法の利点
この2つの標準を組み合わせることで、提案されたキャリブレーション方法は、完璧に定義されたスルー標準を必要とせずにキャリブレーション平面の位置を定義できる。この柔軟性は、スルー標準を作るのが実用的でないシナリオにおいては非常に重要だよ。キャリブレーションプロセスを簡素化して、複雑さを減らすことができる。
新しい方法の実用的な応用
実験のセットアップ
新しいキャリブレーション方法をテストするために、研究者たちはプリント基板(PCB)上で標準を作成したんだ。PCBは複数のマイクロストリップラインを持つように設計されていて、詳細な測定ができるようになってる。いくつかのキャリブレーション標準が含まれていて、新しい方法と従来のTRLキャリブレーションを比較するための包括的なセットアップができてる。
測定手順
測定は、高周波試験が可能な最新のVNAを使って行われた。テスト対象デバイス(DUT)には、効果的なキャリブレーションのために設計されたさまざまなマイクロストリップラインが含まれてた。キャリブレーション標準は、データ分析のために複数の周波数スイープを使用してテストされた。
キャリブレーション比較の結果
測定を行った後、従来のTRL法と新しいスルーフリーキャリブレーション方法の結果を比較したんだ。観察結果は、測定の正確さの面では両方の方法が似た結果をもたらしたってことを示してる。でも、新しい方法はスルー標準を簡単に定義できない状況において利点を示してた。
不確かさの分析
測定の不確かさはキャリブレーションにおいて重要なファクターだよ。両方の方法について不確かさの寄与が評価された。研究の結果、新しい方法は少しノイズに敏感だけど、それなりにうまく機能したことが示された。重要なのは、従来の方法が必要としていたポストプロセッシングの調整が必要ないってことだ。
将来の仕事への影響
この新しいキャリブレーション方法は、特に制約のある場面で従来の方法が挑戦的なさまざまな分野での将来の応用に対して期待が持てるよ。実物を使ってキャリブレーション平面をどのように定義するかを明確にすることで、セットアップを簡素化して信頼性を高めることができる。
結論
このVNAの改良されたキャリブレーション方法の開発は、重要な進展を表してるよ。スルー標準への依存をなくすことで、さまざまな業界のユーザーに新たな機会を提供してくれる。技術が進化し続ける中で、柔軟で信頼できるキャリブレーション方法を持つことが、ますます複雑になる電子機器の世界で正確な測定を保証するためには必須なんだ。
最後の考え
スルーフリーキャリブレーション方法が導入されたことで、VNAのキャリブレーションプロセスは今やもっとアクセスしやすくて適応性があるものになったよ。この革新は、従来の方法が限られている分野でのVNAの応用を広げることができる。今後この分野の研究が進むにつれて、さらなる改善や洗練が期待できて、測定技術のさらなる進展につながるだろうね。
タイトル: A Thru-free Multiline Calibration
概要: This paper proposes a modification to the traditional multiline thru-reflect-line (TRL) or line-reflect-line (LRL) calibration method used for vector network analyzers (VNAs). Our proposed method eliminates the need for a thru (or line) standard by using an arbitrary transmissive two-port device in combination with an additional reflect standard. This combination of standards allows us to arbitrarily set the location of the calibration plane using physical artifacts. In contrast to the standard multiline TRL method, the suggested approach avoids a post-processing step to shift the calibration plane if a line standard is used. We demonstrate our proposed method with measurements on a printed circuit board (PCB) and compare it to the multiline TRL method with a perfectly defined thru.
著者: Ziad Hatab, Michael Ernst Gadringer, Wolfgang Bösch
最終更新: 2023-08-11 00:00:00
言語: English
ソースURL: https://arxiv.org/abs/2305.03597
ソースPDF: https://arxiv.org/pdf/2305.03597
ライセンス: https://creativecommons.org/licenses/by-sa/4.0/
変更点: この要約はAIの助けを借りて作成されており、不正確な場合があります。正確な情報については、ここにリンクされている元のソース文書を参照してください。
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