チップレット技術:パフォーマンスとセキュリティのバランス
チップレット設計は効率を上げるけど、対応が必要な深刻なセキュリティ脆弱性も生むんだよね。
― 1 分で読む
目次
チップ技術が進化する中で、企業はより速くて良いチップを作るために一生懸命働いてる。人気のアプローチは、一つの大きなチップの代わりに、チップレットって呼ばれる小さなシリコンの塊を開発することなんだ。このチップレットを組み合わせて、いろんな機能を持つ複雑なチップを作ることができる。これによって性能が向上し、コストも下がるけど、特に攻撃者がこれらのチップ上のデータに直接接触せずにアクセスする可能性があるので、セキュリティリスクも伴う。
チップレットって何?
チップレットは小さなシリコンダイで、これを組み合わせてより大きくて機能的なシステムを作るんだ。これにより、エンジニアはより多くのロジックや機能を詰め込むことができ、従来のチップデザインのサイズ制限を克服できる。この柔軟性のおかげで、メーカーは効率的でコストの低いチップを生産できるようになる。
チップレットベースのプロセッサ市場は、特にデータセンターでの強力なプロセッサの需要が増えるにつれて大きく成長することが予想されてる。半導体産業の多くの大手企業が、自社の製品にチップレットデザインを取り入れてる。チップレットには多くのメリットがあるけど、新たなセキュリティ課題も生まれてるんだ。
チップレットデザインのセキュリティリスク
完全なシステムを小さなチップレットに分解することで、新たな攻撃の可能性が開かれる。一番の懸念は、外部からデータラインがプローブされたり、タップされたりするリスクだ。特に重要なのは、チップレットが異なるパーツ同士で共有チャンネルを通じて通信するように設計されてるから、もし攻撃者がこれらのチャンネルにアクセスできたら、機密情報を抜き取ることが可能になってしまう。
最近、攻撃者が使うプロービング技術、特にレーザーのような接触せずにプローブする方法が進化してることが、チップレットシステムの安全性についての警鐘を鳴らしてる。これらの技術により、悪意のある者がチップに物理的に触れずにデータにアクセスしやすくなってしまう。
私たちの調査結果
私たちの研究では、チップレットがこれらのプロービング攻撃に対してどれほど脆弱かを調査した。主な焦点は、AMD/Xilinx VU9P FPGAという特定のチップデザインのチップレット間の接続をレーザー技術を使ってプローブすることだった。この接続にどれほど簡単にアクセスできるか、そして既存のセキュリティ対策が効果的かどうかを実験した。
プロービング技術のテスト方法
重要なコンポーネントの特定: まず、チップレットシステム内の重要な接続がどこにあるかをマッピングした。このステップで、これらの接続をプローブするのは、チップの内部パーツにアクセスするよりも一般的に簡単だということがわかった。
プロービングの感度: 次に、接触せずにプロービングがこれらの接続の信号にどう影響するかをテストした。結果は、少しのプロービングでも信号遅延が変わることを示していて、攻撃者がこれらの脆弱性を利用できる可能性があることを示唆してる。
既存の保護の評価: 現在の遅延ベースのセンサーがプロービングをどれほど検出できるかも評価した。残念ながら、フルパワーでもプロービングによる遅延変化は最小限で、センサーが攻撃を警告するのが難しいことがわかった。
チップレット相互接続の理解
チップレットシステムは、高度な接続に依存して、信号がチップレット間で迅速に移動することを可能にしている。これらの接続は古いデザインで使われていたものとは異なり、サイズが小さくて密接に配置できる。これにより性能が向上するけど、プロービング攻撃が成功しやすくなるという面もある。
現在のチップレットセキュリティアプローチ
様々なチップ技術の急速な進展にもかかわらず、セキュリティはしばしば見過ごされてる。チップレットデザインは、新たな攻撃の可能性を生み出しうる。これらの脆弱性に対する防御策として、データトラフィックを監視するための特別なチップを使ったり、追加のセキュリティで暗号技術を適用することが提案されてる。
ただし、レーザープロービングが引き起こす特定の脅威については、以前の研究で十分に対処されてない。攻撃者は、チップレットシステムの接続数が多いことやデザインにより、従来の防御を回避することができる。
私たちの研究アプローチ
私たちの研究では、レーザープロービングがどう機能するのか、そのリスクは何か、そして保護策を改善する方法について理解することに焦点を当てた。様々なプロービング技術を使用し、光子放出測定やよりターゲットを絞ったレーザープロービング手法を使って、チップレットシステムの重要な部分を特定し、その脆弱性を評価した。
プロービングに使用した技術の分析
光子放出: チップから放出される光を測定することで、アクティブな回路を特定し、その場所をマッピングできた。この技術は、プロービングの試みが最も成功する場所を検出するのに役立った。
電気光学周波数マッピング (EOFM): この方法では、レーザービームを使ってチップの表面をスキャンし、活動マップを作成する。これにより、特定の機能を特定し、さらなるプローブの機会を見つけることができる。
電気光学プロービング (EOP): 特定の地点にレーザー光を集中させて信号電圧を測定する技術。高品質な結果を得るのは難しいこともあるけど、うまくいけばチップの動作に関する貴重な情報を提供する。
実験のセットアップ
実験を行うために、特定のチップレットベースのFPGAを使用した。プロービングのために、チップの裏面にアクセスできるようにヒートシンクを取り外して、他のコンポーネントから干渉を受けずに正確なテストを行えるようにした。
選んだ機器は、信号をモニタリングし、プロービング技術を効果的にコントロールすることを可能にした。非常に感度の高いツールを使用して、実験中に信号の微妙な変化を検出できるようにした。
プロービングテストの結果
私たちの発見は、チップレット接続の大きなドライバーが、それらを特にプロービングに対して脆弱にすることを示している。使用したプロービング手法は、チップの動作状態に関する重要な情報を明らかにした。
また、プロービングによって生じる遅延の変化は比較的小さく、センサーが問題を信頼性を持って検出するのが難しいことにも注意した。この制限は、プロービング技術から保護するための改善された方法論が必要であることを強調している。
検出の課題への対処
私たちのテストから浮かび上がった重要な課題の一つは、正当な信号遅延とプロービングによる遅延の区別が難しいことだった。温度変化や他の環境要因も結果に影響を与える可能性がある。
私たちの遅延センサーは小さな変化を測定できたが、限界があった。これによって、たとえよく設計されたセンサーでも、洗練されたプロービングの試みを検出するのが難しく、攻撃者が発見されずに活動できてしまう可能性がある。
チップレットセキュリティの今後の方向性
チップレットデザインがチップ製造で一般的になっていく中で、プロービング攻撃に伴う課題に対処することが最優先事項になるだろう。より堅牢な検出システムと改善されたチップデザインの慣行が、脆弱性を最小限に抑えるのに役立つ。
シンプルなデータマスキング技術を実装することが、一歩前進になるかもしれない。これらの技術は、機密情報が侵害されるのを防ぐためのセキュリティの層を提供する。
結論
チップレットは高度なチップデザインの有望な機会を提供するけど、新たなセキュリティリスクを伴うことも明らかだ。私たちの研究は、チップレットシステムがプロービング攻撃、特に接触のない方法に対して脆弱であることを強調している。技術が進化を続ける中で、これらの脅威に対する検出と保護を改善することが重要だ。設計プロセスの初期段階からセキュリティに焦点を当て、効果的な対策を実施することで、チップレットベースのシステムの未来を守る手助けができる。
タイトル: Evaluating Vulnerability of Chiplet-Based Systems to Contactless Probing Techniques
概要: Driven by a need for ever increasing chip performance and inclusion of innovative features, a growing number of semiconductor companies are opting for all-inclusive System-on-Chip (SoC) architectures. Although Moore's Law has been able to keep up with the demand for more complex logic, manufacturing large dies still poses a challenge. Increasingly the solution adopted to minimize the impact of silicon defects on manufacturing yield has been to split a design into multiple smaller dies called chiplets which are then brought together on a silicon interposer. Advanced 2.5D and 3D packaging techniques that enable this kind of integration also promise increased power efficiency and opportunities for heterogeneous integration. However, despite their advantages, chiplets are not without issues. Apart from manufacturing challenges that come with new packaging techniques, disaggregating a design into multiple logically and physically separate dies introduces new threats, including the possibility of tampering with and probing exposed data lines. In this paper we evaluate the exposure of chiplets to probing by applying laser contactless probing techniques to a chiplet-based AMD/Xilinx VU9P FPGA. First, we identify and map interposer wire drivers and show that probing them is easier compared to probing internal nodes. Lastly, we demonstrate that delay-based sensors, which can be used to protect against physical probes, are insufficient to protect against laser probing as the delay change due to laser probing is only 0.792ps even at 100\% laser power.
著者: Aleksa Deric, Kyle Mitard, Shahin Tajik, Daniel Holcomb
最終更新: 2024-05-23 00:00:00
言語: English
ソースURL: https://arxiv.org/abs/2405.14821
ソースPDF: https://arxiv.org/pdf/2405.14821
ライセンス: https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
変更点: この要約はAIの助けを借りて作成されており、不正確な場合があります。正確な情報については、ここにリンクされている元のソース文書を参照してください。
オープンアクセスの相互運用性を利用させていただいた arxiv に感謝します。