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# Physique# Physique quantique# Physique atomique

Améliorer le contrôle des ions piégés en informatique quantique

Une nouvelle méthode réduit les micromouvements indésirables dans les systèmes d'ions piégés pour un meilleur contrôle des qubits.

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Dans l'informatique quantique, les ions piégés sont considérés comme un candidat sérieux pour construire un ordinateur quantique. Cependant, un gros défi est le mouvement indésirable de ces ions, connu sous le nom de Micromotion. Ce mouvement peut interférer avec la manière dont on contrôle les Qubits, qui sont les unités de base d'information dans un ordinateur quantique. Pour assurer un contrôle précis des qubits, il est essentiel de mesurer et de réduire ce micromotion indésirable.

Qu'est-ce que le micromotion ?

Le micromotion fait référence aux petites vibrations ou mouvements des ions qui se produisent lorsqu'ils sont piégés dans des champs électriques. Bien que les ions piégés aient de nombreux avantages, comme des temps de cohérence longs et des méthodes de contrôle fiables, même de minuscules champs électriques indésirables peuvent perturber leur mouvement. Cela peut entraîner des problèmes de contrôle quantique et la stabilité générale du système.

Le problème du micromotion

Dans une configuration typique, les ions sont maintenus en place par des champs électriques, appelés pièges de Paul. Lorsqu'on leur permet de bouger ne serait-ce qu'un peu de leur position prévue, les ions peuvent montrer des oscillations à la fréquence des champs de piégeage. Ces mouvements indésirables peuvent gravement affecter la performance des systèmes quantiques qui dépendent d'un contrôle précis des ions. De plus, ces mouvements peuvent provoquer un échauffement de l'ion, augmentant ainsi le risque d'erreurs et réduisant la durée de vie du piège.

Solutions existantes

De nombreuses méthodes ont été développées pour détecter et limiter le micromotion des ions piégés. Cela inclut :

  1. Mesurer la relation entre la phase du champ de piégeage et la fluorescence de l'ion.
  2. Évaluer le spectre de la fluorescence pour identifier les mouvements indésirables.
  3. Utiliser des techniques d'excitation spécifiques pour ajuster le comportement des champs de piégeage.

Bien que ces méthodes puissent fonctionner, elles nécessitent souvent des configurations ou des ajustements supplémentaires dans l'environnement du piège, ce qui peut réduire la stabilité.

Une nouvelle approche

Une méthode plus simple a été proposée qui utilise l'oscillation de Rabi pour mesurer et minimiser le micromotion sans complications supplémentaires. En ajustant les tensions continues (dc) appliquées aux électrodes du piège, les chercheurs peuvent observer comment ces changements affectent les Probabilités de transition entre les états des qubits. Cette approche peut être réalisée in situ, c'est-à-dire qu'elle peut être effectuée pendant que le système fonctionne déjà, permettant un suivi et des ajustements en temps réel.

Comment ça marche

La méthode implique de scanner la tension continue tout en mesurant la probabilité que l'ion passe d'un état à un autre. Lorsque la tension est ajustée, la position de l'ion change légèrement, ce qui modifie la probabilité de transition entre les états. En trouvant la tension qui donne la probabilité la plus élevée, les chercheurs peuvent identifier le point où le micromotion est minimisé.

Configuration expérimentale

Deux types de pièges ont été utilisés pour démontrer cette nouvelle méthode : un piège de surface microfabriqué et un piège à lame.

Piège de surface

Le piège de surface est constitué d'une puce en silicium avec des électrodes qui créent les champs électriques nécessaires pour maintenir les ions. Les ions sont confinés et refroidis efficacement dans cette configuration, permettant aux chercheurs d'appliquer la nouvelle méthode de détection du micromotion.

Piège à lame

Le piège à lame a un design différent avec des électrodes en forme de lame qui créent également des champs électriques pour piéger les ions. Cette configuration permet aux chercheurs d'utiliser des techniques similaires, en ajustant les tensions pour analyser le micromotion.

Mesures et résultats

Dans les deux pièges, les chercheurs ont pu ajuster directement la tension continue tout en vérifiant les probabilités de transition de l'ion. Cette méthode s'est révélée efficace pour identifier la tension de compensation nécessaire pour réduire le micromotion. Les résultats ont montré que cette approche offre une sensibilité comparable à des méthodes plus compliquées tout en évitant l'instabilité qui peut découler du changement de l'environnement de piégeage.

Observation des changements à long terme

Cette méthode peut également aider à suivre les changements à long terme dans le piège dus à des facteurs comme la charge induite par le laser sur les matériaux. En vérifiant régulièrement le micromotion, les chercheurs peuvent observer des déplacements de la position d'équilibre de l'ion et ajuster en conséquence.

Comparaison avec d'autres méthodes

En plus de la nouvelle méthode, d'autres techniques peuvent également traiter le micromotion. Par exemple, les chercheurs peuvent mesurer le micromotion en utilisant différentes configurations laser pour observer la fluorescence de l'ion. Cela peut aider à détecter les mouvements dans différentes directions, mais ces méthodes nécessitent souvent un équipement supplémentaire, ce qui les rend moins efficaces pour la surveillance en temps réel.

Conclusion

La nouvelle méthode pour détecter et minimiser le micromotion des ions piégés offre un moyen plus simple et efficace de gérer les mouvements indésirables. En utilisant des configurations existantes et en se concentrant sur des ajustements de tension directe, les chercheurs peuvent surveiller et contrôler efficacement la stabilité de ces systèmes. Cette avancée aide au développement continu de l'informatique quantique utilisant des ions piégés, ouvrant la voie à des ordinateurs quantiques plus fiables et efficaces à l'avenir.

Source originale

Titre: Micromotion compensation of trapped ions by qubit transition and direct scanning of dc voltages

Résumé: Excess micromotion is detrimental to accurate qubit control of trapped ions, thus measuring and minimizing it is crucial. In this paper, we present a simple approach for measuring and suppressing excess micromotion of trapped ions by leveraging the existing laser-driven qubit transition scheme combined with direct scanning of dc voltages. The compensation voltage is deduced by analyzing the Bessel expansion of a scanned qubit transition rate. The method provides a fair level of sensitivity for practical quantum computing applications, while demanding minimal deviation of trap condition. By accomplishing compensation of excess micromotion in the qubit momentum-excitation direction, the scheme offers an additional avenue for excess micromotion compensation, complementing existing compensation schemes.

Auteurs: Woojun Lee, Daun Chung, Jiyong Kang, Honggi Jeon, Changhyun Jung, Dong-Il "Dan" Cho, Taehyun Kim

Dernière mise à jour: 2023-12-02 00:00:00

Langue: English

Source URL: https://arxiv.org/abs/2306.05837

Source PDF: https://arxiv.org/pdf/2306.05837

Licence: https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/

Changements: Ce résumé a été créé avec l'aide de l'IA et peut contenir des inexactitudes. Pour obtenir des informations précises, veuillez vous référer aux documents sources originaux dont les liens figurent ici.

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