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Avancer la détection de défauts de surface avec l'IA

De nouvelles méthodes d'IA améliorent la détection des défauts grâce à la génération d'images synthétiques.

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La détection des Défauts de surface, c'est le processus de repérer et d'identifier les imperfections sur les surfaces des produits durant la fabrication. Ces imperfections peuvent inclure des rayures, des fissures et des décolorations, et elles peuvent impacter la qualité du produit final. Dans beaucoup de cas, des experts humains doivent inspecter chaque article pour garantir la qualité, mais ça peut être lent et coûteux. Les systèmes automatisés proposent une solution en utilisant des classificateurs entraînés sur des images d'articles défectueux et normaux. Cependant, un gros défi, c'est que les articles défectueux sont souvent beaucoup moins courants que les normaux, ce qui rend difficile de rassembler assez de données pour que ces systèmes apprennent efficacement.

Le défi des données limitées

Dans les environnements de production, récolter des données pour entraîner ces systèmes peut être compliqué. Les articles défectueux sont rares, donc les fabricants se retrouvent souvent avec beaucoup d'Échantillons normaux et très peu d'échantillons défectueux. Ce déséquilibre peut causer des problèmes dans l'entraînement des Modèles de classification, qui peuvent avoir du mal à apprendre à quoi ressemble un défaut. Du coup, ces modèles peuvent finir par générer des résultats inexactes.

L'objectif d'améliorer les systèmes de détection des défauts s'est récemment concentré sur la réduction du besoin de données étiquetées. Certains systèmes tentent de fonctionner uniquement avec des échantillons normaux et considèrent tout ce qui est en dehors de cette norme comme un possible défaut. Cependant, cette approche peut entraîner de nombreuses classifications incorrectes d'articles normaux comme étant défectueux, surtout dans des ensembles de données complexes.

Améliorer la collecte de données avec des images générées

Pour relever ces défis, de nouvelles méthodes ont été développées qui utilisent l'intelligence artificielle pour créer des Images synthétiques de défauts. En générant ces images, on peut créer un ensemble de données plus équilibré avec à la fois des échantillons normaux et défectueux. Ce processus permet aux modèles d'apprendre mieux et d'améliorer leur capacité à identifier de vrais défauts.

Une approche innovante utilise des Modèles de Diffusion Latente (LDM). Ces LDM fonctionnent en prenant une image normale et en ajoutant des caractéristiques qui reflètent des défauts courants, guidés par des Connaissances d'experts. Ces experts fournissent des descriptions écrites de ce à quoi un défaut peut ressembler et où il devrait être placé sur l'article.

L'utilisation de l'expertise humaine dans la génération d'images

Dans la création d'images synthétiques de défauts, l'expertise humaine joue un rôle crucial. Les experts fournissent des descriptions détaillées des défauts attendus et spécifient les zones sur les images normales où ces défauts pourraient apparaître. Ce processus aboutit à des images qui ressemblent beaucoup à de vrais produits défectueux, améliorant ainsi la précision des classificateurs.

En adoptant une approche interactive, où les experts guident le modèle, on peut s'assurer que les images générées sont réalistes et utiles pour l'entraînement. Cette méthode avec un humain dans la boucle permet de produire des images de haute qualité sans avoir besoin de nombreux articles défectueux réels.

Les avantages d'une approche sans entraînement

Un des principaux avantages de cette méthode est qu'elle permet un processus d'augmentation sans entraînement. Cela veut dire qu'on n'a pas besoin d'ajuster constamment le modèle, ce qui fait gagner du temps et des ressources. Les images générées peuvent directement soutenir l'entraînement des modèles de détection d'anomalies, qui sont conçus pour distinguer les articles normaux des défectueux.

L'approche est conçue pour être efficace, permettant une adaptation rapide aux nouveaux environnements de fabrication sans nécessiter de longs processus de collecte de données. Cette agilité est essentielle dans les environnements de fabrication d'aujourd'hui, où les lignes de production changent souvent.

Démonstration de l'efficacité sur des ensembles de données difficiles

Pour tester l'efficacité de cette méthode, des chercheurs ont évalué sa performance en utilisant un ensemble de données complexe incluant un mélange d'images défectueuses et normales. Les résultats ont montré une amélioration significative de la capacité du système à détecter les défauts en utilisant les images générées par rapport aux méthodes traditionnelles d'augmentation de données.

Les images générées ont particulièrement bien fonctionné dans les scénarios où il n'y avait pas d'échantillons défectueux originaux disponibles et lorsque l'on avait un ensemble complet d'échantillons défectueux réels. Dans les cas où aucun échantillon positif n'était disponible, le système a quand même atteint des niveaux de précision élevés simplement en utilisant les images synthétiques.

Comprendre les résultats

Ces résultats soulignent l'importance d'incorporer les connaissances d'experts dans le processus de génération. Lorsque les experts ont fourni des informations sur à quoi devraient ressembler les défauts, les images synthétiques créées étaient de bien meilleure qualité. En conséquence, les modèles entraînés avec ces images étaient mieux équipés pour reconnaître de vrais défauts dans de nouvelles données.

De plus, l'étude a montré qu même quand seulement quelques images synthétiques étaient utilisées pour l'entraînement, les modèles pouvaient encore obtenir des performances impressionnantes. Cela indique que la qualité des images générées est plus cruciale que la simple quantité d'images disponibles pour l'entraînement.

Comparaison avec d'autres approches

La nouvelle méthode a été comparée avec les techniques d'augmentation de données existantes, et les résultats étaient prometteurs. Elle a surpassé les méthodes traditionnelles, montrant qu'en tirant parti des approches innovantes d'IA et de l'expertise humaine, on peut créer un système de détection des défauts plus efficace. Contrairement aux anciennes techniques qui produisaient souvent des images peu représentatives de vrais défauts, cette méthode a montré un meilleur réalisme, ce qui est crucial pour l'entraînement de modèles précis.

Applications dans le monde réel

Les implications pratiques de cette recherche sont significatives. Les industries qui dépendent fortement de la qualité de surface, comme l'automobile ou l'électronique, peuvent bénéficier énormément de meilleurs systèmes de détection des défauts. En utilisant ce pipeline d'augmentation de données avancé, les entreprises peuvent améliorer la qualité des produits, réduire le gaspillage et augmenter l'efficacité globale de leurs processus de production.

Directions futures

Vu le succès de cette méthode, les recherches futures pourraient se concentrer sur le raffinement du processus de génération d'images. Explorer comment différents types de défauts peuvent être générés et ajuster le modèle en fonction de nouvelles données pourrait encore améliorer la précision. En plus, des études pourraient examiner d'autres domaines où des techniques similaires pourraient être appliquées, élargissant ainsi l'impact de ce travail au-delà de la détection des défauts de surface.

Conclusion

En conclusion, l'utilisation des Modèles de Diffusion Latente pour générer des images synthétiques de défauts représente un avancement significatif dans la détection des défauts de surface. En intégrant les connaissances d'experts dans le processus de génération d'images, on peut créer des données d'entraînement de haute qualité qui améliorent la performance des modèles. Cette approche aide à surmonter les défis posés par la disponibilité limitée des données et montre un grand potentiel pour des applications réelles dans divers secteurs de fabrication.

Source originale

Titre: Leveraging Latent Diffusion Models for Training-Free In-Distribution Data Augmentation for Surface Defect Detection

Résumé: Defect detection is the task of identifying defects in production samples. Usually, defect detection classifiers are trained on ground-truth data formed by normal samples (negative data) and samples with defects (positive data), where the latter are consistently fewer than normal samples. State-of-the-art data augmentation procedures add synthetic defect data by superimposing artifacts to normal samples to mitigate problems related to unbalanced training data. These techniques often produce out-of-distribution images, resulting in systems that learn what is not a normal sample but cannot accurately identify what a defect looks like. In this work, we introduce DIAG, a training-free Diffusion-based In-distribution Anomaly Generation pipeline for data augmentation. Unlike conventional image generation techniques, we implement a human-in-the-loop pipeline, where domain experts provide multimodal guidance to the model through text descriptions and region localization of the possible anomalies. This strategic shift enhances the interpretability of results and fosters a more robust human feedback loop, facilitating iterative improvements of the generated outputs. Remarkably, our approach operates in a zero-shot manner, avoiding time-consuming fine-tuning procedures while achieving superior performance. We demonstrate the efficacy and versatility of DIAG with respect to state-of-the-art data augmentation approaches on the challenging KSDD2 dataset, with an improvement in AP of approximately 18% when positive samples are available and 28% when they are missing. The source code is available at https://github.com/intelligolabs/DIAG.

Auteurs: Federico Girella, Ziyue Liu, Franco Fummi, Francesco Setti, Marco Cristani, Luigi Capogrosso

Dernière mise à jour: 2024-07-11 00:00:00

Langue: English

Source URL: https://arxiv.org/abs/2407.03961

Source PDF: https://arxiv.org/pdf/2407.03961

Licence: https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/

Changements: Ce résumé a été créé avec l'aide de l'IA et peut contenir des inexactitudes. Pour obtenir des informations précises, veuillez vous référer aux documents sources originaux dont les liens figurent ici.

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