Jani Kotakoski

研究が、電子応用に影響を与えるフォスフォリンの欠陥に関する重要な詳細を明らかにした。

研究によると、電子照射中のMoS2の欠陥形成に温度が影響を与えることがわかった。

研究によると、欠けた原子がグラフェンの剛性や柔軟性にどんな影響を与えるかがわかった。