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Nuovi materiali per una gestione migliore del calore nei transistor

MoSiN e WSiN promettono bene nella gestione del calore nei transistor rispetto al silicio.

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Rivoluzionare ilRivoluzionare ilControllo del Calore neiTransistornella gestione termica.MoSiN e WSiN sono migliori del silicio
Indice

Recentemente, sono stati considerati due nuovi materiali, MoSiN e WSiN, come alternative al silicio nei Transistor, che vengono usati in tanti dispositivi elettronici. Questi materiali hanno qualità speciali che potrebbero aiutare a gestire meglio il calore rispetto al silicio tradizionale. Quando i transistor lavorano, generano calore e come gestiscono questo calore può influenzare le loro prestazioni e affidabilità. Questo articolo parla di come abbiamo usato simulazioni al computer per studiare il comportamento termico dei transistor realizzati con MoSiN e WSiN.

Background sui Transistor

I transistor sono componenti essenziali nei dispositivi elettronici, funzionano come interruttori che controllano il flusso di elettricità. Il primo transistor in silicio è stato lanciato nel 1954, e da allora sono diventati sempre più piccoli e potenti. Oggi ci possono essere circa cento miliardi di transistor su un singolo chip. Tuttavia, i transistor più piccoli spesso hanno problemi di calore perché generano più calore di quanto riescano a dissipare.

Per affrontare questo problema, i ricercatori stanno esaminando i semiconduttori bidimensionali, che producono meno calore grazie a una bassa corrente di fuga. Questi materiali sono promettenti per costruire transistor che possono funzionare in modo più efficiente con meno riscaldamento.

Importanza della Gestione Termica

Una delle sfide principali con i transistor è gestire il calore che producono. Più del 90% dell'energia usata nei transistor viene persa come calore, il che può causare vari problemi operativi. Se un transistor diventa troppo caldo, può guastarsi o diventare inaffidabile. Il calore generato da processi come il riscaldamento di Joule, in cui l'elettricità passa attraverso un conduttore, è una causa principale del surriscaldamento di questi dispositivi.

Man mano che i transistor diventano più piccoli, la quantità di calore che generano aumenta, portando spesso a "Hotspot" sui chip. Questi hotspot possono danneggiare il dispositivo e ostacolare le sue prestazioni. Una gestione termica efficace è necessaria per migliorare l'affidabilità dei dispositivi elettronici.

Materiali a bassa dimensione

I ricercatori hanno studiato materiali a bassa dimensione, che possono aiutare nella gestione termica nei transistor. Esempi di questi includono grafene, silicene, germanene, fosforene e MoS2. Ogni materiale ha i suoi vantaggi e svantaggi. Ad esempio, mentre il grafene ha una bassa temperatura massima, non ha un gap di banda, che è necessario per il corretto funzionamento dei transistor.

Silicene e germanene sono spesso considerati per sostituire il silicio perché hanno proprietà adatte. Tuttavia, le loro prestazioni possono essere inconsistenti e variare a seconda delle condizioni. Gli allotropi del fosforene hanno anche mostrato promesse grazie al loro gap di banda intrinseco e alla mobilità degli addetti, anche se non tutti i tipi hanno buone proprietà termiche.

Introduzione di MoSiN e WSiN

Recentemente, sono stati sviluppati i materiali MoSiN e WSiN. Questi materiali appartengono a una famiglia più ampia di semiconduttori bidimensionali chiamata MAZ. Si è dimostrato che funzionano bene in condizioni ambientali, con buone proprietà elettriche e gap di banda moderati. Studi preliminari suggeriscono che questi materiali potrebbero gestire il calore meglio dei materiali a bassa dimensione esistenti.

Nel nostro studio, volevamo capire l'affidabilità e il comportamento termico di MoSiN e WSiN quando utilizzati nei transistor. Abbiamo usato un programma al computer per simulare il trasporto di calore in questi materiali confrontandoli con un materiale ben noto, il fosforene blu.

Setup della Simulazione

Per analizzare il comportamento termico di MoSiN e WSiN, abbiamo creato un modello che imitava le condizioni trovate nei transistor reali. Ci siamo concentrati su come il calore si diffonde attraverso questi materiali durante il funzionamento.

Nelle nostre simulazioni, abbiamo applicato una fonte di calore al centro di un canale realizzato con i materiali. Abbiamo osservato come il calore generato si muoveva verso l'esterno e come la temperatura cambiava nel tempo. Il sistema iniziava inizialmente a una temperatura di 299 K (temperatura ambiente), e abbiamo modellato le interazioni tra le particelle di calore, chiamate Fononi, che svolgono un ruolo vitale nel trasporto di calore.

Risultati: Comportamento della Temperatura

Utilizzando le simulazioni, abbiamo analizzato come la temperatura cambiava nel tempo per i transistor realizzati con MoSiN, WSiN e fosforene blu. Abbiamo trovato che i transistor WSiN raggiungevano una temperatura massima inferiore rispetto a quelli in MoSiN e fosforene blu. Nello specifico, WSiN aveva una temperatura di picco di circa 110 K, mentre MoSiN raggiungeva solo 10 K in più rispetto alla temperatura di picco del fosforene blu.

Durante la fase di riscaldamento, sia MoSiN che WSiN mostravano maggiori contributi da alcuni tipi di fononi, che sono le particelle responsabili del trasporto di calore. Abbiamo identificato che i fononi acustici longitudinali (LA) giocavano un ruolo dominante nel trasporto di calore per entrambi i materiali, portando alle temperature osservate.

Analisi dei Fononi

Abbiamo analizzato il contributo di diversi tipi di fononi nel processo di trasporto di calore. Per MoSiN, i fononi LA mostrano un contributo significativo durante la fase di riscaldamento, mentre il numero di fononi flessurali (ZA) diminuiva man mano che il riscaldamento continuava. In WSiN, mentre il comportamento era simile, la fase di raffreddamento rapida mostrava un notevole aumento dei fononi acustici trasversali (TA), che aiutavano a dissipare il calore in modo più efficiente.

Per il fosforene blu, la situazione era diversa, con una maggiore dipendenza dai più lenti fononi ZA durante il periodo di riscaldamento, portando a temperature più alte rispetto a MoSiN e WSiN.

Confronto dei Materiali

L'analisi mette in evidenza che WSiN è il candidato più promettente per sostituire il silicio nei transistor, principalmente grazie alle sue superiori prestazioni termiche. La combinazione di fononi TA veloci con una conduzione termica adeguata porta a temperature di picco più basse rispetto a MoSiN e fosforene blu, che tendono a raggiungere temperature più elevate a causa di meccanismi di trasporto di calore inefficienti.

Abbiamo anche osservato che la velocità e il tipo di fononi coinvolti nel processo di trasferimento del calore influenzano direttamente l'aumento della temperatura nei transistor. La struttura di WSiN consente una rapida fuga dei portatori di calore, mentre MoSiN soffre dell'alta frequenza dei suoi fononi, portando a temperature più elevate durante il funzionamento.

Formazione di Hotspot

Gli hotspot sono aree in cui la temperatura è significativamente più alta rispetto alle zone circostanti, spesso causando problemi nelle prestazioni del dispositivo. Nel nostro studio, abbiamo osservato il comportamento degli hotspot in diversi momenti durante i processi di riscaldamento e raffreddamento.

Per WSiN, gli hotspot erano costantemente più freschi rispetto a quelli in MoSiN e fosforene blu per tutto il primo periodo di 200 ps di funzionamento. Questo indica che WSiN è migliore nella dissipazione del calore, probabilmente grazie alle sue proprietà fononiche che consentono una diffusione del calore più rapida.

Fase di Raffreddamento

Dopo aver raggiunto temperature di picco, i transistor sono entrati in una fase di raffreddamento, dove abbiamo osservato quanto rapidamente gli hotspot dissipassero calore. WSiN ha continuato a mostrare forti capacità di raffreddamento, con il calore che si dissipava più rapidamente rispetto a MoSiN e fosforene blu.

Questo comportamento è importante perché una risposta di raffreddamento rapida può prolungare la vita utile e l'affidabilità del dispositivo. Le nostre simulazioni hanno confermato che mentre gli hotspot si raffreddavano, quelli realizzati con WSiN rimanevano significativamente più freschi rispetto agli altri.

Conclusione

La nostra indagine su MoSiN e WSiN mostra che entrambi i materiali possono servire come valide alternative al silicio nei transistor, con WSiN che dimostra superiori capacità di gestione termica. Le simulazioni hanno indicato temperature massime più basse e tempi di raffreddamento più rapidi, rendendo WSiN il principale candidato per una gestione efficace del calore nei dispositivi elettronici futuri.

In generale, questa ricerca sottolinea l'importanza di una comprensione approfondita e dell’esplorazione di nuovi materiali nella continua ricerca di componenti elettronici più efficienti e affidabili. Ulteriori studi potrebbero affinare questi risultati e portare a applicazioni pratiche nella tecnologia moderna.

Fonte originale

Titolo: An investigation into the reliability of newly proposed MoSi$_2$N$_4$/WSi$_2$N$_4$ field-effect transistors: A monte carlo study

Estratto: Recently, the two dimensional complex MA$_2$Z$_4$ structures have been suggested as suitable replacements for silicon channels in field-effect transistors (FETs). Specifically, two materials of MoSi$_2$N$_4$ and WSi$_2$N$_4$ due to their very desirable electrical and thermal properties are noticed. On the other hand, the reliability of transistors, which is determined by the maximum temperature they obtain during the performance, specifies the usefulness of the newly proposed channels for thermal management solution. In this work, the FETs, including MoSi$_2$N$_4$ and WSi$_2$N$_4$ channels, are investigated using Monte Carlo simulation of the phonon Boltzmann equation. In particular, the phonon analysis has been carried out to investigate the peak temperature rise. Our calculations confirm that MoSi$_2$N$_4$ and WSi$_2$N$_4$ present lower maximum temperature than the previously suggested candidate, the blue phosphorene (BP) which itself reaches a shallow temperature. Concretely, the phonon exploration shows that the competition between the dominant heat carrier velocity, and its related frequency settles the maximum temperature value. The material WSi$_2$N$_4$ with much more phonons in TA mode, with almost high velocity and relatively low-frequency, shows adequate thermal condition, and its peak temperature is very low, say 110 K, less than that of BP. The material MoSi$_2$N$_4$ attains the maximum temperature of only 10 K less than BP peak temperature. This behavior attributes to the dominant LA phonons which are fast but also have high frequency and consequently make the temperature get larger than that of the WSi$_2$N$_4$. In summary, WSi$_2$N$_4$, with very low peak temperature, and in the next step MoSi$_2$N$_4$, both with beneficial electrical/thermal properties, are suggested as very suitable candidates for producing more reliable FETs, fulfilling the thermal management.

Autori: Zahra Shomali

Ultimo aggiornamento: 2023-05-07 00:00:00

Lingua: English

URL di origine: https://arxiv.org/abs/2305.04327

Fonte PDF: https://arxiv.org/pdf/2305.04327

Licenza: https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/

Modifiche: Questa sintesi è stata creata con l'assistenza di AI e potrebbe presentare delle imprecisioni. Per informazioni accurate, consultare i documenti originali collegati qui.

Si ringrazia arxiv per l'utilizzo della sua interoperabilità ad accesso aperto.

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