Nuevos materiales para mejorar la gestión del calor en transistores
MoSiN y WSiN tienen potencial para manejar el calor en transistores mejor que el silicio.
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Tabla de contenidos
- Antecedentes sobre Transistores
- Importancia de la Gestión Térmica
- Materiales de baja dimensión
- Introducción de MoSiN y WSiN
- Configuración de la Simulación
- Resultados: Comportamiento Térmico
- Análisis de Fonones
- Comparación de Materiales
- Formación de Puntos Calientes
- Fase de Enfriamiento
- Conclusión
- Fuente original
Recientemente, se han considerado dos nuevos materiales, MoSiN y WSiN, como alternativas al silicio en Transistores, que se usan en muchos dispositivos electrónicos. Estos materiales tienen cualidades especiales que podrían ayudar a manejar el calor mejor que el silicio tradicional. Cuando los transistores funcionan, generan calor, y qué tan bien manejan este calor puede afectar su rendimiento y fiabilidad. Este artículo habla de cómo usamos simulaciones por computadora para estudiar el comportamiento térmico de transistores hechos con MoSiN y WSiN.
Antecedentes sobre Transistores
Los transistores son componentes esenciales en dispositivos electrónicos, actuando como interruptores que controlan el flujo de electricidad. El primer transistor de silicio se lanzó en 1954, y desde entonces, han sido cada vez más pequeños y potentes. Hoy en día, puede haber alrededor de cien mil millones de transistores en un solo chip. Sin embargo, los transistores más pequeños a menudo tienen problemas con el calor porque generan más calor del que pueden disipar.
Para abordar este problema, los investigadores han estado mirando semiconductores bidimensionales, que producen menos calor debido a una baja corriente de fuga. Estos materiales son prometedores para construir transistores que puedan operar de manera más eficiente con menos calentamiento.
Importancia de la Gestión Térmica
Uno de los grandes desafíos con los transistores es manejar el calor que producen. Más del 90% de la energía utilizada en transistores se pierde como calor, lo que puede causar varios problemas operativos. Si un transistor se calienta demasiado, puede fallar o volverse poco fiable. El calor generado por procesos como el calentamiento de Joule, donde la electricidad pasa a través de un conductor, es una causa principal de sobrecalentamiento en estos dispositivos.
A medida que los transistores se vuelven más pequeños, la cantidad de calor que generan aumenta, llevando a "puntos calientes" en los chips. Estos puntos calientes pueden dañar el dispositivo y obstaculizar su rendimiento. Una gestión térmica efectiva es necesaria para mejorar la fiabilidad de los dispositivos electrónicos.
Materiales de baja dimensión
Los investigadores han estado estudiando materiales de baja dimensión, que pueden ayudar con la gestión térmica en transistores. Ejemplos de estos incluyen grafeno, siliceno, germaneno, fosforeno y MoS2. Cada material tiene sus beneficios e inconvenientes. Por ejemplo, mientras que el grafeno tiene una temperatura máxima baja, carece de un hueco de banda, que es necesario para que los transistores funcionen correctamente.
Siliceno y germaneno a menudo se consideran para reemplazar al silicio porque tienen propiedades adecuadas. Sin embargo, su rendimiento puede ser inconsistente y variar bajo diferentes condiciones. Los alótropos de fosforeno también han mostrado promesas debido a su hueco de banda intrínseco y movilidad de portadores, aunque no todos los tipos tienen buenas propiedades térmicas.
Introducción de MoSiN y WSiN
Recientemente, se han desarrollado los materiales MoSiN y WSiN. Estos materiales pertenecen a una familia más grande de semiconductores bidimensionales llamada MAZ. Se ha demostrado que funcionan bien en condiciones ambientales, con buenas propiedades eléctricas y huecos de banda moderados. Estudios iniciales sugieren que estos materiales podrían manejar el calor mejor que los materiales de baja dimensión existentes.
En nuestro estudio, queríamos entender la fiabilidad y el comportamiento térmico de MoSiN y WSiN cuando se utilizan en transistores. Usamos un programa de computadora para simular el transporte de calor en estos materiales en comparación con un material bien conocido, el fosforeno azul.
Configuración de la Simulación
Para analizar el comportamiento térmico de MoSiN y WSiN, creamos un modelo que imitaba las condiciones encontradas en transistores reales. Nos enfocamos en cómo se dispersa el calor a través de estos materiales durante su funcionamiento.
En nuestras simulaciones, aplicamos una fuente de calor en el centro de un canal hecho de los materiales. Observamos cómo se movía el calor generado hacia afuera y cómo cambiaba la temperatura con el tiempo. El sistema comenzó inicialmente a una temperatura de 299 K (temperatura ambiente), y modelamos las interacciones entre las partículas portadoras de calor, llamadas fonones, que desempeñan un papel crucial en el transporte de calor.
Resultados: Comportamiento Térmico
Usando simulaciones, analizamos cómo cambiaba la temperatura con el tiempo para transistores hechos con MoSiN, WSiN y fosforeno azul. Descubrimos que los transistores WSiN alcanzaron una temperatura máxima más baja que los de MoSiN y fosforeno azul. Específicamente, WSiN tuvo una temperatura máxima de alrededor de 110 K, mientras que MoSiN alcanzó solo 10 K más que la temperatura máxima de fosforeno azul.
Durante la fase de calentamiento, tanto MoSiN como WSiN mostraron mayores contribuciones de ciertos tipos de fonones, que son las partículas responsables de llevar el calor. Identificamos que los fonones acústicos longitudinales (LA) jugaron un papel dominante en el transporte de calor para ambos materiales, llevando a las temperaturas observadas.
Análisis de Fonones
Analizamos la contribución de diferentes tipos de fonones en el proceso de transporte de calor. Para MoSiN, los fonones LA mostraron una contribución significativa durante la fase de calentamiento, mientras que el número de fonones flexionales (ZA) disminuyó a medida que continuaba el calentamiento. En WSiN, aunque el comportamiento era similar, la fase de enfriamiento rápido mostró un notable aumento en los fonones acústicos transversales (TA), que ayudaron a disipar el calor de manera más eficiente.
Para fosforeno azul, la situación fue diferente, con mayor dependencia de los fonones más lentos ZA durante el período de calentamiento, lo que llevó a temperaturas más altas en comparación con MoSiN y WSiN.
Comparación de Materiales
El análisis destaca que WSiN es el candidato más prometedor para reemplazar al silicio en transistores, principalmente debido a su mejor rendimiento térmico. La combinación de fonones TA rápidos con una conductividad térmica adecuada resulta en temperaturas máximas más bajas en comparación con MoSiN y fosforeno azul, que tienden a alcanzar temperaturas más altas debido a mecanismos de transporte de calor ineficientes.
También observamos que la velocidad y el tipo de fonones involucrados en el proceso de transferencia de calor influyen directamente en el aumento de temperatura en los transistores. La estructura de WSiN permite una rápida escapatoria de portadores de calor, mientras que MoSiN sufre de la alta frecuencia de sus fonones, lo que lleva a una temperatura más alta durante su funcionamiento.
Formación de Puntos Calientes
Los puntos calientes son áreas donde la temperatura es significativamente más alta que en las regiones circundantes, a menudo causando problemas en el rendimiento del dispositivo. En nuestro estudio, observamos el comportamiento de los puntos calientes en diferentes momentos durante los procesos de calentamiento y enfriamiento.
Para WSiN, los puntos calientes fueron consistentemente más frescos en comparación con los de MoSiN y fosforeno azul durante los primeros 200 ps de operación. Esto indica que WSiN es mejor para disipar el calor, probablemente debido a sus propiedades fononales que permiten una mayor dispersión del calor.
Fase de Enfriamiento
Después de alcanzar temperaturas máximas, los transistores pasaron a una fase de enfriamiento, donde observamos qué tan rápido los puntos calientes disipaban calor. WSiN continuó mostrando fuertes capacidades de enfriamiento, con el calor disipándose más rápido que en MoSiN y fosforeno azul.
Este comportamiento es importante porque una respuesta de enfriamiento rápida puede prolongar la vida útil y la fiabilidad del dispositivo. Nuestras simulaciones confirmaron que, mientras los puntos calientes se estaban enfriando, los hechos de WSiN permanecieron significativamente más frescos que los otros.
Conclusión
Nuestra investigación sobre MoSiN y WSiN muestra que ambos materiales pueden servir como alternativas viables al silicio en transistores, con WSiN demostrando capacidades superiores de gestión térmica. Las simulaciones indicaron temperaturas máximas más bajas y tiempos de enfriamiento más rápidos, haciendo de WSiN el candidato líder para una gestión efectiva del calor en futuros dispositivos electrónicos.
En general, esta investigación enfatiza la necesidad de entender y explorar nuevos materiales en la búsqueda continua de componentes electrónicos más eficientes y fiables. Estudios adicionales podrían refinar estos hallazgos y llevar a aplicaciones prácticas en la tecnología moderna.
Título: An investigation into the reliability of newly proposed MoSi$_2$N$_4$/WSi$_2$N$_4$ field-effect transistors: A monte carlo study
Resumen: Recently, the two dimensional complex MA$_2$Z$_4$ structures have been suggested as suitable replacements for silicon channels in field-effect transistors (FETs). Specifically, two materials of MoSi$_2$N$_4$ and WSi$_2$N$_4$ due to their very desirable electrical and thermal properties are noticed. On the other hand, the reliability of transistors, which is determined by the maximum temperature they obtain during the performance, specifies the usefulness of the newly proposed channels for thermal management solution. In this work, the FETs, including MoSi$_2$N$_4$ and WSi$_2$N$_4$ channels, are investigated using Monte Carlo simulation of the phonon Boltzmann equation. In particular, the phonon analysis has been carried out to investigate the peak temperature rise. Our calculations confirm that MoSi$_2$N$_4$ and WSi$_2$N$_4$ present lower maximum temperature than the previously suggested candidate, the blue phosphorene (BP) which itself reaches a shallow temperature. Concretely, the phonon exploration shows that the competition between the dominant heat carrier velocity, and its related frequency settles the maximum temperature value. The material WSi$_2$N$_4$ with much more phonons in TA mode, with almost high velocity and relatively low-frequency, shows adequate thermal condition, and its peak temperature is very low, say 110 K, less than that of BP. The material MoSi$_2$N$_4$ attains the maximum temperature of only 10 K less than BP peak temperature. This behavior attributes to the dominant LA phonons which are fast but also have high frequency and consequently make the temperature get larger than that of the WSi$_2$N$_4$. In summary, WSi$_2$N$_4$, with very low peak temperature, and in the next step MoSi$_2$N$_4$, both with beneficial electrical/thermal properties, are suggested as very suitable candidates for producing more reliable FETs, fulfilling the thermal management.
Autores: Zahra Shomali
Última actualización: 2023-05-07 00:00:00
Idioma: English
Fuente URL: https://arxiv.org/abs/2305.04327
Fuente PDF: https://arxiv.org/pdf/2305.04327
Licencia: https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
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