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Automatizando el reconocimiento de nanopartículas en imágenes STEM

Descubre cómo el deep learning mejora la imagen y análisis de nanopartículas.

Hanlei Zhang, Jincheng Bai, Xiabo Chen, Can Li, Chuanjian Zhong, Jiye Fang, Guangwen Zhou

― 4 minilectura


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La microscopía electrónica de transmisión por barrido (STEM) es una técnica que se usa para mirar de cerca las formas y estructuras de los materiales. Este método es importante tanto en la ciencia como en la industria porque permite a los investigadores ver detalles a nivel atómico y capturar imágenes a alta velocidad. Los resultados proporcionan mucha información detallada, que puede ser complicado analizar manualmente.

La necesidad de automatización

La gran cantidad de datos generados por STEM puede ser abrumadora para los humanos. Esta situación requiere métodos informáticos automatizados para ayudar a entender los datos más rápido y de manera más efectiva. Una forma de hacerlo es usando aprendizaje profundo, un tipo de inteligencia artificial, para reconocer y analizar los detalles en estas imágenes.

El papel del aprendizaje profundo

En este contexto, se han desarrollado algoritmos de aprendizaje profundo, específicamente un modelo llamado Mask Region-based Convolutional Neural Network (Mask R-CNN), para identificar Nanopartículas en imágenes tomadas por STEM. El modelo Mask R-CNN también puede hacer mediciones de estas partículas. Las pruebas han mostrado que la adición de ruido en las imágenes, específicamente Ruido Gaussiano, afecta cuán precisamente el modelo puede reconocer nanopartículas.

Ruido gaussiano y su impacto

El ruido gaussiano es un tipo de interferencia aleatoria que puede distorsionar las imágenes. Este ruido puede venir de varias fuentes, afectando la claridad de las imágenes producidas por STEM. Cuando las imágenes contienen diferentes niveles de ruido gaussiano, la precisión del Reconocimiento de partículas puede disminuir. Por lo tanto, es esencial reducir este ruido para mejorar los resultados.

Técnicas para la reducción de ruido

Para abordar este problema, se aplicaron filtros a las imágenes que contenían ruido gaussiano. Se utilizaron dos tipos de filtros: un filtro gaussiano y un filtro de medios no locales (NLM). Ambos filtros ayudan a reducir el ruido añadido y mejorar la calidad de las imágenes, lo que permite un mejor reconocimiento de nanopartículas.

Pruebas de los filtros

En experimentos, los investigadores probaron el modelo en imágenes con diferentes niveles de ruido gaussiano. Los resultados mostraron que el modelo Mask R-CNN tuvo un rendimiento significativamente mejor en imágenes que habían sido filtradas, en comparación con las imágenes con ruido. El filtro NLM superó al filtro gaussiano, logrando la mayor precisión de reconocimiento.

Resultados experimentales

Las técnicas y filtros no solo se probaron en imágenes simuladas, sino que también se aplicaron a imágenes experimentales reales tomadas usando STEM. El modelo de aprendizaje profundo reconoció con éxito nanopartículas en estas imágenes del mundo real, demostrando que los métodos desarrollados pueden aplicarse efectivamente más allá de solo simulaciones.

Importancia de la forma y tamaño de la partícula

La forma y el tamaño de las nanopartículas también juegan roles cruciales en qué tan bien funcionan los algoritmos de reconocimiento. Diferentes tipos de partículas, como nanoesferas, nanobarras y nanocubos, producen diferentes resultados en términos de precisión de reconocimiento. Se encontró que las nanoesferas y los nanocubos cóncavos se identificaron con precisión, mientras que las nanobarras presentaron desafíos debido a su forma alargada.

Relación entre el borde y el área

Un factor clave en la precisión del reconocimiento es la relación entre el borde y el área de las partículas. Las nanoesferas y los nanocubos cóncavos tienen ratios más bajos, lo que lleva a un mejor reconocimiento. Por otro lado, las nanobarras, con sus altas relaciones borde-área, fueron más difíciles de identificar correctamente. Esta relación indica que las partículas con bordes más suaves son más fáciles de reconocer en comparación con aquellas con bordes complejos.

Conclusión

El estudio muestra que las técnicas de aprendizaje profundo, especialmente cuando se combinan con métodos de reducción de ruido, pueden mejorar significativamente el reconocimiento y análisis de nanopartículas en imágenes de STEM. Los métodos han demostrado ser efectivos tanto en escenarios simulados como en experimentales reales. A medida que se comprenden mejor los desafíos que plantean el ruido, la forma y el tamaño, es probable que continúen desarrollándose avances en el reconocimiento automatizado de materiales, lo que llevará a una comprensión más profunda de sus propiedades estructurales y químicas. Este trabajo destaca el potencial de estas técnicas avanzadas para transformar el campo de la microscopía y la ciencia de materiales.

Fuente original

Título: Deep-Learning Recognition of Scanning Transmission Electron Microscopy: Quantifying and Mitigating the Influence of Gaussian Noises

Resumen: Scanning transmission electron microscopy (STEM) is a powerful tool to reveal the morphologies and structures of materials, thereby attracting intensive interests from the scientific and industrial communities. The outstanding spatial (atomic level) and temporal (ms level) resolutions of the STEM techniques generate fruitful amounts of high-definition data, thereby enabling the high-volume and high-speed analysis of materials. On the other hand, processing of the big dataset generated by STEM is time-consuming and beyond the capability of human-based manual work, which urgently calls for computer-based automation. In this work, we present a deep-learning mask region-based neural network (Mask R-CNN) for the recognition of nanoparticles imaged by STEM, as well as generating the associated dimensional analysis. The Mask R-CNN model was tested on simulated STEM-HAADF results with different Gaussian noises, particle shapes and particle sizes, and the results indicated that Gaussian noise has determining influence on the accuracy of recognition. By applying Gaussian and Non-Local Means filters on the noise-containing STEM-HAADF results, the influences of noises are largely mitigated, and recognition accuracy is significantly improved. This filtering-recognition approach was further applied to experimental STEM-HAADF results, which yields satisfying accuracy compared with the traditional threshold methods. The deep-learning-based method developed in this work has great potentials in analysis of the complicated structures and large data generated by STEM-HAADF.

Autores: Hanlei Zhang, Jincheng Bai, Xiabo Chen, Can Li, Chuanjian Zhong, Jiye Fang, Guangwen Zhou

Última actualización: 2024-09-25 00:00:00

Idioma: English

Fuente URL: https://arxiv.org/abs/2409.16637

Fuente PDF: https://arxiv.org/pdf/2409.16637

Licencia: https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/

Cambios: Este resumen se ha elaborado con la ayuda de AI y puede contener imprecisiones. Para obtener información precisa, consulte los documentos originales enlazados aquí.

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