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Sungho Shin

Computer Vision und Mustererkennung CUFIT: Eine smarte Lösung für laute Labels

CUFIT hilft Modellen, besser mit verrauschten Labels in der Bildanalyse umzugehen.

Yeonguk Yu, Minhwan Ko, Sungho Shin

Apr 15, 2025 ― 7 min Lesedauer