CdTeサンプルの欠陥検出CdTeサンプルの欠陥検出定。革新的なスキャナーが半導体材料の問題を特計測と検出器CdTe欠陥検出用3Dスキャナー新しいスキャナーは、カドミウムテルライド材料の欠陥を効果的に見つける。2025-06-02T05:36:18+00:00 ― 1 分で読む