SiCウエハーの欠陥検出SiCウエハーの欠陥検出ステム。半導体材料の欠陥を特定するための自動化シコンピュータビジョンとパターン認識半導体材料の欠陥検出の自動化この研究は、機械学習を使ってシリコンカーバイドウェハの欠陥分析を自動化することに焦点を当ててるよ。2025-08-25T02:52:06+00:00 ― 1 分で読む