Georg von Freymann

テラヘルツ時間領域分光法は、半導体の抵抗率を測定する新しい方法を提供する。

新しい技術がテラヘルツイメージングのセキュリティ、ヘルスケア、産業での応用を改善してるよ。

研究によると、ZnTeは強いテラヘルツ照射下でユニークな特性を持っているらしい。