Tang Li

A ptychografia de raios-X com multifeixe permite uma imagem mais rápida e não destrutiva de materiais complexos.

Novo método melhora o desempenho do modelo em dados não vistos.

Um novo método melhora a clareza nas tarefas de reconhecimento de imagem.

Explorando os impactos do ajuste fino na precisão e racionalidade das previsões em modelos de IA.