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Detecção de Falhas Eficiente em Redes Neurais

Um novo método para testar rapidamente redes neurais usando um único vetor de entrada.

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Índice

Redes neurais são sistemas que aprendem com dados e fazem previsões. Elas são usadas em várias áreas, como reconhecimento de imagem e compreensão de fala. Mas, esses sistemas precisam de muita potência de computação e memória, o que pode dificultar o uso em dispositivos menores. Para resolver isso, usa-se um hardware especial chamado Aceleradores de Hardware. Um tipo desse hardware é baseado em tecnologia de memória não volátil, que permite fazer cálculos diretamente na memória.

Enquanto esses novos tipos de memória trazem vantagens como serem eficientes em termos de energia e não perderem informações quando a energia acaba, eles também podem ter problemas. Podem surgir falhas durante o processo de fabricação e quando o hardware está em uso, fazendo com que a Rede Neural faça previsões erradas. Isso é especialmente preocupante para aplicações onde erros podem ter consequências sérias, como em carros autônomos ou dispositivos médicos. Para garantir que esses sistemas funcionem corretamente, eles precisam ser testados adequadamente.

Esse artigo fala sobre um novo método de teste que só precisa de uma entrada para avaliar uma rede neural. Esse método é útil para testes online onde resultados rápidos são necessários. A abordagem proposta pode detectar falhas de forma eficaz em vários tipos de redes neurais, mesmo aquelas usadas em tarefas complexas como segmentação semântica. Ele consegue uma taxa de Detecção de Falhas mais alta enquanto precisa de menos memória.

Contexto

Redes neurais são compostas por camadas que processam informação. A primeira camada recebe a entrada, e cada camada seguinte transforma essa entrada em previsões úteis. Apesar do sucesso, esses sistemas costumam enfrentar as limitações das arquiteturas de computação tradicionais, onde a memória e as unidades de processamento são separadas. Essa separação gera atrasos e aumenta o consumo de energia, tornando difícil rodar redes neurais em dispositivos menores.

Para resolver isso, foram desenvolvidas arquiteturas de hardware especiais chamadas computação-em-memória (CiM). A CiM pode realizar cálculos dentro da própria memória, reduzindo o tempo e a energia necessários para movimentação de dados. Diferentes tipos de novas tecnologias de memória são usadas, como ReRAM e PCM, que oferecem vantagens sobre os tipos de memória mais antigos. No entanto, elas também são suscetíveis a falhas e erros que podem afetar o desempenho das redes neurais.

Desafios no Teste de Redes Neurais

Testar redes neurais não é uma tarefa simples. Os métodos tradicionais dependem de testar todas as entradas possíveis, o que é impraticável devido à imensa quantidade de combinações possíveis. Por exemplo, uma rede neural pode ter milhões de entradas, tornando os testes exaustivos muito demorados. Além disso, muitas redes neurais não têm infraestrutura de teste padrão, o que pode complicar o processo de teste.

Um método de teste confiável é necessário para garantir que o hardware funcione como esperado, sem precisar de acesso a dados de treinamento ou ao funcionamento interno do modelo. As técnicas de teste atuais geralmente exigem um grande número de consultas de entrada, levando a um tempo de inatividade prolongado para o sistema.

Método de Teste One-Shot

O método de teste one-shot proposto permite avaliar uma rede neural usando apenas um vetor de entrada. Esse método minimiza o tempo de teste e reduz a necessidade de combinações múltiplas de entrada. Isso é especialmente importante para aplicações que exigem operação contínua, como detecção de objetos em tempo real.

A ideia central desse método de teste é que falhas ou variações no hardware podem mudar a saída da rede neural. Usando uma entrada específica projetada para produzir saídas distintas para condições falhas e não falhas, fica mais fácil identificar problemas no sistema.

Gerando o Vetor de Teste

Criar o vetor de entrada certo é crucial para o método de teste one-shot. Ele deve ser capaz de gerar saídas que possam ser facilmente diferenciadas. Durante esse processo, a saída precisa ser padronizada para garantir que os resultados sejam comparáveis entre diferentes tipos de redes neurais. Isso é feito ajustando as estatísticas da distribuição de saída, facilitando a identificação de desvios.

Um objetivo de aprendizado único ajuda a ajustar o vetor de teste para produzir a distribuição de saída desejada. O vetor de teste gerado é aprendido por meio de um processo de otimização, refinando seus valores para alcançar o objetivo de padronização.

Detectando Falhas e Variações

Uma vez que o vetor de teste é gerado, ele é aplicado à rede neural para verificar falhas. O segredo é avaliar como a distribuição de saída muda em resposta a falhas na rede. Essa avaliação é feita usando uma abordagem estatística que compara a saída com uma distribuição esperada. Se ocorrer um desvio significativo, isso indica um problema.

Ao aplicar esse método, as falhas podem ser detectadas em tempo real sem longos períodos de inatividade. É especialmente eficaz para entender como variações afetam o desempenho.

Resultados e Avaliação de Desempenho

O método de teste one-shot proposto foi avaliado em várias redes neurais, incluindo arquiteturas populares usadas para classificação de imagem e segmentação semântica. Os resultados mostram que esse método pode consistentemente alcançar altas taxas de cobertura de falhas.

Testes em múltiplos modelos indicam que, à medida que as taxas de falha aumentam, o método mantém sua eficácia em identificar problemas. Mesmo em condições desafiadoras com níveis variados de falhas, a capacidade da abordagem de teste de detectar problemas continua robusta.

Comparação com Métodos Existentes

Quando comparado com métodos tradicionais de teste, a abordagem one-shot mostra vantagens significativas. Ela requer muito menos vetores de teste e consultas, levando a um menor uso de memória e tempos de teste mais rápidos. Métodos existentes frequentemente dependem de várias combinações de entrada, tornando-os menos eficientes e mais pesados em termos de recursos.

O desempenho do método de teste one-shot supera as abordagens existentes, conseguindo uma cobertura de falhas mais alta enquanto utiliza memória e potência de processamento mínimas. Isso torna essa opção atraente para aplicações que exigem confiabilidade sem comprometer o desempenho.

Conclusão

Resumindo, o método de teste one-shot representa um avanço significativo na testagem de aceleradores de hardware para redes neurais. Ao permitir a detecção eficaz de falhas com apenas um vetor de teste, ele reduz a necessidade de extensas combinações de entrada e garante que os sistemas possam ser avaliados rapidamente.

Essa abordagem não só melhora as capacidades de detecção de falhas das redes neurais, mas também aumenta sua usabilidade em aplicações em tempo real. À medida que as redes neurais continuam desempenhando um papel vital em várias áreas, ter métodos de teste eficientes como esse pode melhorar muito a confiabilidade e o desempenho desses sistemas.

Fonte original

Título: One-Shot Online Testing of Deep Neural Networks Based on Distribution Shift Detection

Resumo: Neural networks (NNs) are capable of learning complex patterns and relationships in data to make predictions with high accuracy, making them useful for various tasks. However, NNs are both computation-intensive and memory-intensive methods, making them challenging for edge applications. To accelerate the most common operations (matrix-vector multiplication) in NNs, hardware accelerator architectures such as computation-in-memory (CiM) with non-volatile memristive crossbars are utilized. Although they offer benefits such as power efficiency, parallelism, and nonvolatility, they suffer from various faults and variations, both during manufacturing and lifetime operations. This can lead to faulty computations and, in turn, degradation of post-mapping inference accuracy, which is unacceptable for many applications, including safety-critical applications. Therefore, proper testing of NN hardware accelerators is required. In this paper, we propose a \emph{one-shot} testing approach that can test NNs accelerated on memristive crossbars with only one test vector, making it very suitable for online testing applications. Our approach can consistently achieve $100\%$ fault coverage across several large topologies with up to $201$ layers and challenging tasks like semantic segmentation. Nevertheless, compared to existing methods, the fault coverage is improved by up to $24\%$, the memory overhead is only $0.0123$ MB, a reduction of up to $19980\times$ and the number of test vectors is reduced by $10000\times$.

Autores: Soyed Tuhin Ahmed, Mehdi B. Tahoori

Última atualização: 2023-05-16 00:00:00

Idioma: English

Fonte URL: https://arxiv.org/abs/2305.09348

Fonte PDF: https://arxiv.org/pdf/2305.09348

Licença: https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/

Alterações: Este resumo foi elaborado com a assistência da AI e pode conter imprecisões. Para obter informações exactas, consulte os documentos originais ligados aqui.

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