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Novos Materiais para Melhor Gestão de Calor em Transistores

MoSiN e WSiN parecem promissores para controlar o calor em transistores em comparação com o silício.

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Recentemente, dois novos materiais, MoSiN e WSiN, estão sendo considerados como alternativas ao silício em Transistores, que são usados em muitos dispositivos eletrônicos. Esses materiais têm qualidades especiais que podem ajudar a gerenciar melhor o calor do que o silício tradicional. Quando os transistores funcionam, eles geram calor, e quão bem eles lidam com isso pode afetar seu desempenho e confiabilidade. Este artigo fala sobre como usamos simulações de computador para estudar o comportamento térmico dos transistores feitos com MoSiN e WSiN.

Antecedentes sobre Transistores

Transistores são componentes essenciais em dispositivos eletrônicos, funcionando como interruptores que controlam o fluxo de eletricidade. O primeiro transistor de silício foi lançado em 1954, e desde então, eles ficaram menores e mais potentes. Hoje, pode haver cerca de cem bilhões de transistores em um único chip. Porém, transistores menores costumam ter problemas com calor porque geram mais calor do que conseguem dissipar.

Para resolver esse problema, os pesquisadores têm explorado semiconductores bidimensionais, que geram menos calor devido à baixa corrente de fuga. Esses materiais são promissores para criar transistores que funcionam de maneira mais eficiente com menos aquecimento.

Importância do Gerenciamento Térmico

Um grande desafio com transistores é gerenciar o calor que eles produzem. Mais de 90% da energia usada em transistores é perdida como calor, o que pode causar vários problemas operacionais. Se um transistor esquenta demais, pode falhar ou se tornar pouco confiável. O calor gerado por processos como o aquecimento Joule, onde a eletricidade passa por um condutor, é uma das principais causas de superaquecimento nesses dispositivos.

À medida que os transistores ficam menores, a quantidade de calor que geram aumenta, muitas vezes levando a "pontos quentes" nos chips. Esses pontos quentes podem danificar o dispositivo e prejudicar seu desempenho. Um gerenciamento térmico eficaz é necessário para melhorar a confiabilidade dos dispositivos eletrônicos.

Materiais de Baixa Dimensão

Pesquisadores têm estudado materiais de baixa dimensão, que podem ajudar no gerenciamento térmico em transistores. Exemplos incluem grafeno, siliceno, germaneno, fosforeno e MoS2. Cada material tem seus benefícios e desvantagens. Por exemplo, enquanto o grafeno tem uma temperatura máxima baixa, ele não tem um band gap, que é necessário para o funcionamento correto dos transistores.

Siliceno e germaneno são frequentemente considerados para substituir o silício porque têm propriedades adequadas. No entanto, seu desempenho pode ser inconsistente e variar sob diferentes condições. Os alótropos de fosforeno também mostraram potencial devido ao seu band gap intrínseco e mobilidade de portadores, embora nem todos os tipos tenham boas propriedades térmicas.

Introdução do MoSiN e WSiN

Recentemente, os materiais MoSiN e WSiN foram desenvolvidos. Esses materiais pertencem a uma família maior de semiconductores bidimensionais chamada MAZ. Eles têm mostrado um bom desempenho em condições ambientes, com boas propriedades elétricas e band gaps moderados. Estudos iniciais sugerem que esses materiais podem gerenciar o calor melhor do que os materiais de baixa dimensão existentes.

Em nosso estudo, queríamos entender a confiabilidade e o comportamento térmico do MoSiN e WSiN quando usados em transistores. Usamos um programa de computador para simular o transporte de calor nesses materiais em comparação a um material bem conhecido, o fosforeno azul.

Configuração da Simulação

Para analisar o comportamento térmico do MoSiN e WSiN, criamos um modelo que imitava as condições encontradas em transistores reais. Focamos em como o calor se espalha através desses materiais durante a operação.

Em nossas simulações, aplicamos uma fonte de calor no centro de um canal feito dos materiais. Observamos como o calor gerado se movia para fora e como a temperatura mudava ao longo do tempo. O sistema começou com uma temperatura de 299 K (temperatura ambiente) e modelamos as interações entre partículas que transportam calor, chamadas de fônons, que desempenham um papel vital no transporte de calor.

Resultados: Comportamento Térmico

Usando simulações, analisamos como a temperatura mudava ao longo do tempo para transistores feitos com MoSiN, WSiN e fosforeno azul. Descobrimos que os transistores WSiN atingiram uma temperatura máxima mais baixa do que os feitos de MoSiN e fosforeno azul. Especificamente, WSiN teve uma temperatura de pico de cerca de 110 K, enquanto MoSiN alcançou apenas 10 K a mais que a temperatura máxima do fosforeno azul.

Durante a fase de aquecimento, tanto MoSiN quanto WSiN mostraram maiores contribuições de certos tipos de fônons, que são as partículas responsáveis por carregar calor. Identificamos que os fônons acústicos longitudinais (LA) desempenharam um papel dominante no transporte de calor para ambos os materiais, levando às temperaturas observadas.

Análise de Fônons

Analisamos a contribuição de diferentes tipos de fônons no processo de transporte de calor. Para MoSiN, os fônons LA mostraram uma contribuição significativa durante a fase de aquecimento, enquanto o número de fônons flexionais (ZA) diminuiu à medida que o aquecimento continuava. Em WSiN, embora o comportamento fosse similar, a fase de resfriamento rápida teve um aumento notável em fônons acústicos transversais (TA), que ajudaram a dissipar o calor de forma mais eficiente.

Para o fosforeno azul, a situação foi diferente, com mais dependência dos fônons ZA mais lentos durante o período de aquecimento, levando a temperaturas mais altas em comparação a MoSiN e WSiN.

Comparação de Materiais

A análise destaca que WSiN é o candidato mais promissor para substituir o silício em transistores, principalmente devido ao seu desempenho térmico superior. A combinação de fônons TA rápidos com uma condutividade térmica adequada resulta em temperaturas de pico mais baixas em comparação a MoSiN e fosforeno azul, que tendem a alcançar temperaturas mais altas devido a mecanismos de transporte de calor ineficientes.

Também observamos que a velocidade e o tipo de fônons envolvidos no processo de transferência de calor influenciam diretamente o aumento da temperatura nos transistores. A estrutura do WSiN permite a rápida saída dos portadores de calor, enquanto o MoSiN sofre com a alta frequência de seus fônons, levando a uma temperatura mais alta durante a operação.

Formação de Pontos Quentes

Pontos quentes são áreas onde a temperatura é significativamente mais alta que as regiões ao redor, muitas vezes causando problemas no desempenho do dispositivo. No nosso estudo, observamos o comportamento dos pontos quentes em diferentes momentos durante os processos de aquecimento e resfriamento.

Para WSiN, os pontos quentes foram consistentemente mais frios em comparação aos do MoSiN e do fosforeno azul ao longo dos primeiros 200 ps de operação. Isso indica que o WSiN é melhor em dissipar calor, provavelmente devido às suas propriedades de fônons que permitem uma propagação de calor mais rápida.

Fase de Resfriamento

Após atingir temperaturas máximas, os transistores passaram por uma fase de resfriamento, onde observamos quão rapidamente os pontos quentes dissipavam calor. O WSiN continuou a mostrar fortes capacidades de resfriamento, com o calor se dissipando mais rápido do que em MoSiN e fosforeno azul.

Esse comportamento é importante porque uma resposta rápida de resfriamento pode prolongar a vida útil e a confiabilidade do dispositivo. Nossas simulações confirmaram que, enquanto os pontos quentes estavam esfriando, aqueles feitos de WSiN permaneceram significativamente mais frios que os outros.

Conclusão

Nossa investigação sobre o MoSiN e WSiN mostra que ambos os materiais podem servir como alternativas viáveis ao silício em transistores, com o WSiN demonstrando capacidades superiores de gerenciamento térmico. As simulações indicaram temperaturas máximas mais baixas e tempos de resfriamento mais rápidos, tornando o WSiN o candidato principal para um gerenciamento eficaz do calor em futuros dispositivos eletrônicos.

No geral, essa pesquisa enfatiza a necessidade de um entendimento e exploração aprofundados de novos materiais na busca contínua por componentes eletrônicos mais eficientes e confiáveis. Estudos futuros podem refinar essas descobertas e levar a aplicações práticas na tecnologia moderna.

Fonte original

Título: An investigation into the reliability of newly proposed MoSi$_2$N$_4$/WSi$_2$N$_4$ field-effect transistors: A monte carlo study

Resumo: Recently, the two dimensional complex MA$_2$Z$_4$ structures have been suggested as suitable replacements for silicon channels in field-effect transistors (FETs). Specifically, two materials of MoSi$_2$N$_4$ and WSi$_2$N$_4$ due to their very desirable electrical and thermal properties are noticed. On the other hand, the reliability of transistors, which is determined by the maximum temperature they obtain during the performance, specifies the usefulness of the newly proposed channels for thermal management solution. In this work, the FETs, including MoSi$_2$N$_4$ and WSi$_2$N$_4$ channels, are investigated using Monte Carlo simulation of the phonon Boltzmann equation. In particular, the phonon analysis has been carried out to investigate the peak temperature rise. Our calculations confirm that MoSi$_2$N$_4$ and WSi$_2$N$_4$ present lower maximum temperature than the previously suggested candidate, the blue phosphorene (BP) which itself reaches a shallow temperature. Concretely, the phonon exploration shows that the competition between the dominant heat carrier velocity, and its related frequency settles the maximum temperature value. The material WSi$_2$N$_4$ with much more phonons in TA mode, with almost high velocity and relatively low-frequency, shows adequate thermal condition, and its peak temperature is very low, say 110 K, less than that of BP. The material MoSi$_2$N$_4$ attains the maximum temperature of only 10 K less than BP peak temperature. This behavior attributes to the dominant LA phonons which are fast but also have high frequency and consequently make the temperature get larger than that of the WSi$_2$N$_4$. In summary, WSi$_2$N$_4$, with very low peak temperature, and in the next step MoSi$_2$N$_4$, both with beneficial electrical/thermal properties, are suggested as very suitable candidates for producing more reliable FETs, fulfilling the thermal management.

Autores: Zahra Shomali

Última atualização: 2023-05-07 00:00:00

Idioma: English

Fonte URL: https://arxiv.org/abs/2305.04327

Fonte PDF: https://arxiv.org/pdf/2305.04327

Licença: https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/

Alterações: Este resumo foi elaborado com a assistência da AI e pode conter imprecisões. Para obter informações exactas, consulte os documentos originais ligados aqui.

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