Avanços na Tecnologia de Tunelamento por Varredura
Nova tecnologia STM melhora a medição da termopower local em materiais.
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Índice
- Visão Geral dos Microscópios de Tunelamento Escaneado
- Avanços na Tecnologia STM
- Projetando o Sistema STM de Alta Resolução
- Integração de Hardware e Software
- Técnicas de Redução de Ruído
- Medições de Termoeletricidade e Sua Importância
- Resultados: Imagens e Propriedades Termoelétricas
- Conclusão
- Fonte original
Um novo tipo de Microscópio de Tunelamento Escaneado (STM) de alta resolução foi desenvolvido para medir a termoeletricidade local em materiais bidimensionais. Esse microscópio novo combina técnicas de imagem avançadas com a habilidade de medir como os materiais respondem ao calor em escalas muito pequenas. Essa nova ferramenta ajuda os cientistas a estudarem as propriedades dos materiais, especialmente como a estrutura eletrônica deles afeta a forma como lidam com calor e eletricidade.
Visão Geral dos Microscópios de Tunelamento Escaneado
O Microscópio de Tunelamento Escaneado foi criado pela primeira vez nos anos 80 e desde então tem sido uma ferramenta importante na pesquisa científica. Ele permite que os pesquisadores vejam superfícies em nível atômico. Isso é feito movendo uma pontinha bem perto da superfície sendo estudada e medindo a corrente que flui entre a pontinha e a superfície. A quantidade de corrente é influenciada pela distância e pelas propriedades dos materiais envolvidos.
Na configuração do STM, a pontinha fica posicionada sobre uma amostra plana. Quando uma voltagem é aplicada, uma corrente flui entre a pontinha e a amostra, permitindo que os pesquisadores reunam informações valiosas sobre a estrutura eletrônica da amostra. O STM pode funcionar em dois modos principais: modo de corrente constante, onde a corrente é mantida estável e as imagens são formadas com base na altura da pontinha, e modo de altura constante, onde a corrente varia à medida que a pontinha se move a uma altura fixa sobre a superfície.
Avanços na Tecnologia STM
Embora o STM tradicional seja poderoso, modificações podem ser feitas para medir propriedades adicionais que técnicas convencionais não conseguem capturar. Uma dessas modificações é adaptar o STM para medir a termovoltagem, que está relacionada a como os materiais convertem calor em energia elétrica. Esse processo é caracterizado pelo Coeficiente de Seebeck, que ajuda a entender as propriedades termoelétricas de vários materiais.
O novo sistema, chamado Microscópio Termoelétrico Escaneado (SThEM), permite medições precisas de termoeletricidade em uma escala local. Isso é particularmente útil no campo da nanoeletrônica, onde compreender as propriedades termoelétricas de estruturas minúsculas pode levar a avanços na tecnologia.
Projetando o Sistema STM de Alta Resolução
Esse novo STM de alta resolução opera em temperatura ambiente e em um ambiente de alto vácuo. O sistema consiste em vários componentes principais, incluindo sistemas de controle eletrônico, uma interface de usuário, uma configuração de vácuo, e medidas para reduzir ruído e vibrações. Quando testado, o microscópio conseguiu produzir imagens de alta qualidade de materiais como Grafite Pirolítico Altamente Orientado (HOPG) e realizar medições de termoeletricidade local de forma eficaz.
O design do STM inclui várias características importantes. O corpo é feito de titânio, que tem baixa expansão térmica e responde bem a condições extremas. Isso minimiza distorções e o torna ideal para estudar materiais em circunstâncias desafiadoras.
A pontinha do STM, normalmente feita de ouro, está montada em um material piezoelétrico que controla precisamente sua posição. Isso permite que a pontinha escaneie a superfície da amostra de forma eficaz. O sistema pode operar em vários modos, tornando-o versátil para diferentes tipos de medições.
Integração de Hardware e Software
O hardware do microscópio envolve uma combinação de diferentes componentes eletrônicos que trabalham juntos para melhorar a funcionalidade. A configuração eletrônica inclui amplificadores de baixo ruído e conversores para garantir que as medições sejam precisas e livres de ruído externo. Isso é crucial para obter dados confiáveis, especialmente ao trabalhar com medições delicadas em escala nanométrica.
A interface de usuário é projetada para ser amigável, permitindo que os cientistas operem o microscópio facilmente. Ela oferece várias opções, incluindo escaneamento de topografia, espectroscopia, medições de termoeletricidade e visualização de dados. Isso torna mais fácil navegar pelas diferentes funções do microscópio e interpretar os dados resultantes.
Técnicas de Redução de Ruído
Minimizar o ruído é vital para conseguir medições de alta qualidade nas operações do STM. O design inclui uma caixa à prova de som e características de isolamento contra vibrações para proteger a configuração de distúrbios externos. Todos os componentes eletrônicos são organizados com cuidado para evitar interferências, garantindo ainda mais a precisão dos resultados.
A câmara de vácuo é essencial para manter as condições necessárias para medições de STM. Ela alcança um alto nível de vácuo, minimizando o potencial de contaminação e permitindo leituras mais claras. Além disso, um ambiente inerte é criado usando uma caixa de luvas, facilitando a preparação das amostras sem exposição à umidade.
Medições de Termoeletricidade e Sua Importância
Para operar o STM como um Microscópio Termoelétrico Escaneado, um sistema de controle de temperatura é instalado. Esse sistema pode gerenciar temperaturas de temperatura ambiente até 500 K. Um aquecedor é usado para criar uma diferença de temperatura entre a pontinha e a amostra. Quando essas duas se encontram em nível nanométrico, um gradiente de temperatura gera uma termovoltagem se a amostra for termoelétrica.
Durante as medições, a pontinha e a amostra passam por um contato controlado. A termovoltagem gerada durante esse processo é medida e relacionada às propriedades da amostra, fornecendo insights sobre suas características termoelétricas. Essa informação é extremamente valiosa para entender materiais usados em dispositivos eletrônicos e tecnologias de conversão de energia.
Resultados: Imagens e Propriedades Termoelétricas
O STM/SThEM desenvolvido demonstrou suas capacidades produzindo imagens de alta resolução do HOPG. A imagem revela detalhes que só são possíveis com essa ferramenta avançada, mostrando a disposição dos átomos em um material.
O desempenho durante as medições de termovoltagem em diferentes amostras mostrou resultados promissores. Por exemplo, o método foi aplicado a uma amostra de Au, onde nenhuma resposta termoelétrica foi observada devido à natureza não termoelétrica da amostra. No entanto, quando testado em um material termoelétrico bem conhecido, respostas de termovoltagem distintas foram registradas, permitindo medições precisas de termoeletricidade em uma faixa de temperaturas.
Conclusão
Resumindo, o novo STM/SThEM de alta resolução proporciona avanços significativos para estudar as propriedades dos materiais em escala nanométrica. Sua combinação única de capacidades de imagem e funcionalidade de medição termoelétrica permite que os pesquisadores ganhem insights mais profundos sobre como os materiais interagem com eletricidade e calor. As potenciais aplicações dessa tecnologia abrangem várias áreas, incluindo nanoeletrônica e conversão de energia, abrindo caminho para inovações futuras.
O foco em minimizar o ruído e garantir um ambiente controlado durante as medições assegura que os resultados obtidos sejam tanto precisos quanto confiáveis. No geral, o sistema STM/SThEM representa um passo notável em frente no campo da microscopia e ciência dos materiais, oferecendo uma ferramenta poderosa para mais exploração dos comportamentos de diferentes materiais.
Título: High-Resolution Scanning Tunneling Microscope and its Adaptation for Local Thermopower Measurements in 2D Materials
Resumo: We present the design, fabrication and discuss the performance of a new combined high-resolution Scanning Tunneling and thermopower Microscope (STM/SThEM). We also describe the development of the electronic control, the user interface, the vacuum system, and arrangements to reduce acoustical noise and vibrations. We demonstrate the microscope performance with atomic-resolution topographic images of Highly oriented pyrolytic graphite (HOPG) and local thermopower measurements in the semimetal Bi2Te3 sample. Our system offers a tool to investigate the relationship between electronic structure and thermoelectric properties at the nanoscale.
Autores: Jose D. Bermúdez-Perez, Edwin Herrera-Vasco, Javier Casas-Salgado, Hector A. Castelblanco, Karen Vega-Bustos, Gabriel Cardenas-Chirivi, Oscar L. Herrera-Sandoval, Hermann Suderow, Paula Giraldo-Gallo, Jose A. Galvis
Última atualização: 2023-08-04 00:00:00
Idioma: English
Fonte URL: https://arxiv.org/abs/2305.03418
Fonte PDF: https://arxiv.org/pdf/2305.03418
Licença: https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
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