Tang Li

La ptychografia a raggi X multibeam permette di fare immagini di materiali complessi in modo più veloce e non distruttivo.

Nuovo metodo migliora le prestazioni del modello su dati mai visti.

Un nuovo metodo migliora la chiarezza nei compiti di riconoscimento delle immagini.

Esplorando gli impatti del fine-tuning sulla precisione delle previsioni e sulla razionalità nei modelli di IA.