Sicurezza della stimolazione cerebrale non invasiva con impianti
La ricerca esamina i rischi della stimolazione non invasiva nei pazienti con impianti cerebrali.
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Indice
I disturbi cerebrali come ictus, epilessia, malattia di Parkinson e Alzheimer, insieme a problemi di salute mentale come schizofrenia e depressione, presentano grandi sfide per la società. Queste condizioni spesso non hanno trattamenti efficaci disponibili. Negli ultimi anni, molta ricerca si è concentrata nel trovare modi migliori per trattare questi disturbi per migliorare la vita di chi ne è colpito.
Stimolazione Cerebrale Non Invasiva
Un'area promettente di ricerca è la stimolazione cerebrale non invasiva (NIBS). Questa tecnica ha mostrato potenzialità per trattare varie condizioni dove i farmaci tradizionali potrebbero non funzionare. Il vantaggio principale della NIBS è che generalmente ha meno effetti collaterali e non richiede intervento chirurgico. Quando regolata con attenzione per i pazienti individuali, la NIBS può offrire un'opzione di trattamento sicura.
Tipi di Stimolazione Cerebrale Non Invasiva
Ci sono due principali tipi di tecniche NIBS:
Stimolazione Elettrica Transcranica (tES): Questo metodo utilizza piccole correnti elettriche applicate al cuoio capelluto. Include tecniche come la stimolazione transcranica a corrente diretta (tDCS) e la stimolazione transcranica a corrente alternata (tACS). Queste tecniche possono modificare l'attività dei neuroni nel cervello.
Stimolazione Magnetica Transcranica (TMS): Questa tecnica utilizza campi magnetici per indurre correnti nel cervello. È stata utilizzata dal 1985 ed è stata trovata efficace per vari disturbi neurologici, inclusa la depressione, la malattia di Parkinson e altri.
Preoccupazioni per la Sicurezza nella Stimolazione Cerebrale Non Invasiva
Man mano che la NIBS diventa più popolare sia per la ricerca che per il trattamento, è importante considerare la sicurezza di questi metodi, soprattutto per i pazienti con impianti come i dispositivi di Stimolazione Cerebrale Profonda (DBS). Utilizzare la NIBS su pazienti con impianti solleva preoccupazioni sulla sicurezza. Le raccomandazioni di solito consigliano cautela e spesso suggeriscono di evitare la NIBS in questi casi a causa del rischio di complicazioni.
Ricerca sulla Sicurezza
Pochi studi hanno esaminato la sicurezza della combinazione di tES con DBS o altri impianti. Alcuni studi iniziali hanno suggerito che il tDCS potesse essere utilizzato in sicurezza in pazienti con DBS per trattare condizioni specifiche, ma questi studi avevano pochissimi partecipanti e non fornivano dati completi. C'è bisogno di ricerche più ampie per stabilire linee guida di sicurezza chiare.
Risultati Correnti
La ricerca sulla TMS mostra risultati contrastanti riguardo alla sua sicurezza con impianti DBS. Alcuni studi non hanno trovato rischi significativi, mentre altri hanno riportato potenziali problemi. Ulteriori indagini sono necessarie per comprendere meglio la sicurezza della TMS e della NIBS con impianti.
Meccanismi della NIBS
Campi Elettrici e Correnti Indotte
Le tecniche NIBS cambiano i campi elettrici nel cervello, il che può influenzare come funzionano i neuroni. Questo può aiutare a modificare l'attività cerebrale in modo desiderato. L'efficacia della NIBS dipende dai campi elettrici creati e da come interagiscono con il tessuto neurale.
Fattori che Influenzano la NIBS
Diversi fattori giocano un ruolo nell'efficacia e nella sicurezza di queste tecniche di stimolazione:
Design e Posizionamento degli Elettrodi: La forma e la posizione degli elettrodi possono influenzare significativamente come i campi elettrici sono distribuiti nel cervello.
Parametri di Stimolazione: Le impostazioni utilizzate durante la stimolazione, come la forza e la durata della corrente, possono influenzare anche gli effetti e la sicurezza.
Problemi Potenziali con gli Impianti
Quando si utilizza la NIBS con pazienti che hanno impianti, possono sorgere diversi problemi:
Aumenti di Campo Localizzati: La presenza di impianti metallici può creare campi elettrici più forti intorno a loro, il che potrebbe portare a stimolazioni indesiderate nel cervello.
Accoppiamento Capacitivo: Questo si verifica quando i campi elettrici influenzano i conduttori (fili) che si collegano all'impianto. Questo può introdurre correnti che hanno effetti simili a quelli voluti con la NIBS.
Riscaldamento: Le correnti elettriche prodotte possono anche portare a temperature elevate nel tessuto cerebrale, il che potrebbe essere un problema di sicurezza.
Focus dello Studio
Questa ricerca si concentra sulla comprensione della sicurezza dell'applicazione del tES in pazienti con impianti sia attivi (come il DBS) che passivi (come gli stent). Esamina i rischi possibili e come queste tecniche potrebbero essere adattate per mantenere i pazienti al sicuro.
Obiettivi dello Studio
- Identificare ed esplorare le preoccupazioni relative all'applicazione del tES in presenza di impianti.
- Stabilire linee guida per condizioni di esposizione sicure durante il tES.
- Identificare aree che necessitano di ulteriori ricerche.
Valutazione dei Fattori di Sicurezza
Vari problemi sono stati valutati riguardo all'applicazione del tES in pazienti con impianti:
Aumenti di Campo
La ricerca indaga come avvengono gli aumenti di campo vicino a strutture metalliche. Questo implica valutare come il design e la geometria degli impianti contribuiscono a questi effetti.
Misurazioni di Impedenza
Comprendere le proprietà elettriche degli impianti e il loro comportamento in risposta alla stimolazione è cruciale. Le misurazioni aiutano a determinare come gli impianti interagiscono con i campi elettrici prodotti durante il tES.
Effetti Capacitivo
L'influenza dell'accoppiamento capacitivo sui fili collegati agli impianti è anche valutata per garantire che questi effetti non creino condizioni di sicurezza pericolose.
Risultati e Scoperte
Aumenti di Campo Osservati
Sono stati trovati aumenti di campo nella vicinanza di impianti metallici, indicando che la presenza di tali impianti può portare a campi elettrici locali aumentati che potrebbero causare stimolazioni indesiderate del cervello.
Analisi dell'Impedanza
Le misurazioni hanno mostrato vari livelli di impedenza tra i contatti dell'impianto. Questi valori indicano come le correnti viaggiano attraverso gli impianti e il tessuto circostante, il che potrebbe influenzare la sicurezza.
Effetti dell'Accoppiamento Capacitivo
Lo studio ha identificato fattori di accoppiamento capacitivo che potrebbero introdurre correnti indesiderate nel cervello, sottolineando la necessità di una considerazione attenta quando si applica il tES in pazienti con impianti.
Conclusione
Lo studio contribuisce informazioni preziose riguardo alla sicurezza del tES in pazienti con impianti attivi e passivi. Sottolinea fattori chiave che influenzano l'applicazione delle tecniche di stimolazione cerebrale non invasiva e sottolinea la necessità di ricerche continuative per stabilire linee guida di sicurezza affidabili. Man mano che le tecniche NIBS evolvono, comprendere questi fattori aiuterà a garantire un trattamento sicuro per i pazienti con esigenze mediche complesse.
Raccomandazioni
- Monitoraggio Attento: I pazienti con impianti dovrebbero essere monitorati attentamente se si utilizza la NIBS.
- Approcci Personalizzati: I trattamenti dovrebbero essere personalizzati per adattarsi alle esigenze e condizioni individuali.
- Ricerche Future: Sono necessari più studi per approfondire la comprensione attuale e migliorare la sicurezza di queste tecniche.
Concentrandosi sulla sicurezza e sull'efficacia, possiamo aiutare a tracciare la strada per migliori trattamenti per i disturbi cerebrali minimizzando i rischi.
Titolo: Safety of Non-invasive Brain Stimulation in Patients with Implants: A Computational Study
Estratto: ObjectiveNon-invasive brain stimulation (NIBS) methodologies, such as transcranial electric (tES) and magnetic stimulation are increasingly employed for therapeutic, diagnostic, or research purposes. The concurrent presence of active or passive implants can pose safety risks, affect the NIBS delivery, or generate confounding signals. A systematic investigation is required to understand the interaction mechanisms, quantify exposure, assess safety, and establish guidance for NIBS applications. ApproachWe used measurements, simplified generic, and detailed anatomical modeling to: (i) systematically analyze exposure conditions with passive and active implants, considering local field enhancement, exposure dosimetry, tissue heating and neuromodulation, capacitive lead current injection, low-impedance pathways between electrode contacts, and insulation damage; (ii) identify safety metrics and efficient prediction strategies; (iii) quantify these metrics in relevant exposure cases and (iv) identify worst case conditions. Various aspects including implant design, positioning, scar tissue formation, anisotropy, and frequency were investigated. ResultsAt typical tES frequencies, local enhancement of dosimetric exposure quantities can reach up to one order of magnitude for DBS and SEEG implants (more for elongated passive implants), potentially resulting in unwanted neuromodulation that can confound results but is still 2-3 orders of magnitude lower than active DBS. Under worst-case conditions, capacitive current injection in the lead of active implants can produce local exposures of similar magnitude as the passive field enhancement, while capacitive pathways between contacts are negligible. Above 10 kHz, applied current magnitudes increase, necessitating consideration of tissue heating. Furthermore, capacitive effects become more prominent, leading to current injection that can reach DBS-like levels. Adverse effects from abandoned/damaged leads in direct electrode vicinity cannot be excluded. SignificanceSafety related concerns of tES application in the presence of implants are systematically identified and explored, resulting in specific and quantitative guidance and establishing a basis for safety standards. Furthermore, several methods for reducing risks are suggested.
Autori: Fariba Karimi, A. M. Cassara', M. Capstick, N. Kuster, E. Neufeld
Ultimo aggiornamento: 2024-04-25 00:00:00
Lingua: English
URL di origine: https://www.biorxiv.org/content/10.1101/2024.04.19.590046
Fonte PDF: https://www.biorxiv.org/content/10.1101/2024.04.19.590046.full.pdf
Licenza: https://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/
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