Tang Li

La ptychographie à faisceau multiple aux rayons X permet une imagerie plus rapide et non destructive des matériaux complexes.

Une nouvelle méthode améliore la performance du modèle sur des données jamais vues.

Une nouvelle méthode améliore la clarté dans les tâches de reconnaissance d'images.

Explorer les impacts du fine-tuning sur la précision des prédictions et la rationalité dans les modèles d'IA.