Impacto de la radiación gamma en los diodos de silicio
Este estudio revela los efectos de la radiación gamma en diodos de silicio tipo p con resistividad variable.
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Tabla de contenidos
En este estudio, analizamos cómo las altas dosis de Radiación gamma afectan a los diodos de silicio tipo p, que se usan en un montón de dispositivos electrónicos. Usamos tres tipos diferentes de estos diodos, cada uno con distintos niveles de resistividad, para ver cómo estas diferencias impactaron en el daño causado por la radiación. Con el uso creciente de estos diodos en experimentos de física de partículas, es esencial entender cómo funcionan cuando están expuestos a la radiación.
¿Qué es la Radiación Gamma?
La radiación gamma es un tipo de radiación de alta energía que puede atravesar muchos materiales, incluido el silicio. A menudo es producida por materiales radiactivos. En este estudio, utilizamos una fuente de radiación gamma conocida como Cobalto-60 para irradiar los diodos de silicio. Esta exposición puede crear defectos en el silicio, lo que podría afectar el rendimiento del diodo.
El Propósito del Estudio
El objetivo principal de este estudio era analizar cómo la radiación gamma causaba cambios en las características eléctricas de los diodos de silicio. Midiendo la corriente y el voltaje, así como la capacitancia antes y después de la exposición a la radiación, queríamos entender cómo reaccionaban los diodos a las dosis de radiación. Esto es crucial para asegurar la fiabilidad de estos dispositivos en entornos de alta radiación, como los que se encuentran en aceleradores de partículas.
Tipos de Diodos Usados
Examinamos tres tipos de diodos de silicio n-en-p, que fueron producidos por diferentes fabricantes. Cada tipo tenía formas similares, pero variaba en sus niveles de resistividad. Esto permitió comparar cómo cada tipo respondía a la exposición a la radiación, ayudándonos a recopilar datos más completos sobre los efectos de la radiación gamma.
El Proceso de Irradiación
Los diodos fueron expuestos a rayos gamma en una instalación donde se encontraba la fuente de Cobalto-60. Recibieron dosis entre 0.50 y 8.28 megagrays (MGy). Durante la exposición, aseguramos que el ambiente estuviera controlado para mantener condiciones uniformes y reducir errores potenciales. Luego, los diodos se mantuvieron en un ambiente frío después de la irradiación para evitar cambios no deseados que podrían ocurrir si se dejaban a temperatura ambiente.
Midiendo Características Eléctricas
Medimos las propiedades eléctricas de los diodos antes y después de la exposición a la radiación gamma. Los parámetros clave incluían las características corriente-voltaje (IV) y capacitancia-voltaje (CV). Las mediciones IV nos ayudaron a determinar cuánto corriente fluía a través del diodo bajo diferentes niveles de voltaje. Las mediciones CV proporcionaron información sobre cómo cambiaba la capacitancia del diodo con el voltaje, lo que es vital para entender su funcionalidad general.
Observaciones del Estudio
Uno de los hallazgos significativos fue que la Corriente de fuga de los diodos aumentó linealmente con la dosis total de radiación ionizante. La corriente de fuga se refiere a la corriente no deseada que fluye a través de un diodo cuando debería estar apagado. Este aumento se observó en todos los tipos de diodos probados, lo que indica una respuesta consistente a la radiación en diferentes niveles de resistividad.
También se observó que la concentración de dopado efectivo, una medida de cuántos portadores de carga están disponibles en el diodo, disminuyó con la exposición creciente a la radiación. Esta disminución es crucial porque afecta la capacidad del diodo para conducir electricidad de manera efectiva. Después de alcanzar una cierta dosis, hubo un aumento en la concentración de dopado efectivo, sugiriendo una relación compleja entre la exposición a la radiación y el rendimiento del diodo.
El Voltaje de Depleción Completa
Otra métrica importante que medimos fue el voltaje de depleción completa. Este voltaje indica el punto en el que el diodo está completamente despojado de portadores de carga y es esencial para su funcionamiento. A medida que aumentaba la exposición a la radiación, encontramos que el voltaje de depleción completa inicialmente cayó y luego comenzó a aumentar nuevamente a dosis más altas. El nivel de este voltaje variaba con la resistividad inicial de los diodos. Los diodos con mayor resistividad alcanzaron su voltaje de depleción completa más bajo a una dosis de radiación más baja en comparación con los de menor resistividad.
Recocido
El Papel delTambién examinamos un proceso llamado recocido, que implica calentar los diodos después de la exposición para facilitar la recuperación de sus propiedades. Aplicamos calor a los diodos durante 80 minutos a una temperatura de 60 °C. Curiosamente, los resultados mostraron que este recocido no llevó a ninguna recuperación notable en las características eléctricas de los diodos irradiados por gamma. Esto difiere de otros estudios donde el recocido tuvo efectos positivos en dispositivos expuestos a diferentes tipos de radiación.
Conclusión
En resumen, este estudio proporciona información valiosa sobre cómo las altas dosis de radiación gamma impactan a los diodos de silicio tipo p con diferentes niveles de resistividad. Los hallazgos revelan que la corriente de fuga aumenta con la exposición a la radiación y que la concentración de dopado efectivo experimenta una disminución seguida de un aumento en dosis específicas. El voltaje de depleción completa también muestra una respuesta significativa a la radiación, con cambios observados en relación con la resistividad inicial de los diodos.
Entender estos efectos es importante para el desarrollo y uso de diodos de silicio en entornos de alta radiación. Este conocimiento ayuda a mejorar el diseño y la selección de materiales para dispositivos que funcionarán en tales condiciones desafiantes. A medida que los experimentos de física de partículas continúan avanzando, tener detectores fiables es esencial para obtener datos precisos y hacer progresos en este campo.
Título: Study of Bulk Damage of High Dose Gamma Irradiated p-type Silicon Diodes with Various Resistivities
Resumen: The bulk damage of p-type silicon detectors caused by high doses of gamma irradiation has been studied. The study was carried out on three types of n$^{+}$-in-p silicon diodes with comparable geometries but different initial resistivities. This allowed to determine how different initial parameters of studied samples influence radiation-induced changes in the measured characteristics. The diodes were irradiated by a Cobalt-60 gamma source to total ionizing doses ranging from 0.50 up to 8.28 MGy, and annealed for 80 minutes at 60 {\deg}C. The Geant4 toolkit for simulation of the passage of particles through matter was used to simulate the deposited energy homogeneity, to verify the equal distribution of total deposited energies through all the layers of irradiated samples, and to calculate the secondary electron spectra in the irradiation box. The main goal of the study was to characterize the gamma-radiation induced displacement damage by measuring current-voltage characteristics (IV), and the evolution of the full depletion voltage with the total ionizing dose, by measuring capacitance-voltage characteristics (CV). It has been observed that the bulk leakage current increases linearly with total ionizing dose, and the damage coefficient depends on the initial resistivity of the silicon diode. The effective doping concentration and therefore full depletion voltage significantly decreases with increasing total ionizing dose, before starting to increase again at a specific dose. We assume that this decrease is caused by the effect of acceptor removal. Another noteworthy observation of this study is that the IV and CV measurements of the gamma irradiated diodes do not reveal any annealing effect.
Autores: I. Zatocilova, M. Mikestikova, V. Latonova, J. Kroll, R. Privara, P. Novotny, D. Dudas, J. Kvasnicka
Última actualización: 2023-09-28 00:00:00
Idioma: English
Fuente URL: https://arxiv.org/abs/2309.16293
Fuente PDF: https://arxiv.org/pdf/2309.16293
Licencia: https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
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