A Revolução na DetecçãoA Revolução na Detecçãode Defeitos da SAMqualidade de fabricação superior.Transformando a análise XCT para umaVisão computacional e reconhecimento de padrõesRevolucionando a Análise XCT: SAM Enfrenta Defeitos de FabricaçãoUsando SAM pra detectar melhor os defeitos em componentes impressos em 3D.2025-02-25T18:35:06+00:00 ― 8 min ler