La ptychografía de multihaz de rayos X permite obtener imágenes más rápidas y no destructivas de materiales complejos.
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Tang Li
Nuevo método mejora el rendimiento del modelo en datos no vistos.
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Un nuevo método mejora la claridad en las tareas de reconocimiento de imágenes.
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Explorando los impactos del ajuste fino en la precisión de las predicciones y la racionalidad en los modelos de IA.
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