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Analisi Efficiente della Vulnerabilità agli Errori Soft nei Progetti FPGA

Un framework per valutare i rischi di errori soft nei sistemi FPGA all'inizio del design.

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Molti settori, come l'aerospaziale e l'automotive, usano gli FPGA (Field Programmable Gate Arrays) nei loro sistemi. Gli FPGA risparmiano energia e possono essere riconfigurati, il che li rende utili in diverse applicazioni. Tuttavia, questi sistemi devono essere molto affidabili. Per questo motivo, controllare l'affidabilità dei progetti FPGA all'inizio del processo è molto importante.

Errori Soft negli FPGA

Gli FPGA hanno un insieme di blocchi che possono essere configurati, consentendo sistemi digitali flessibili. La maggior parte degli FPGA usa SRAM (Static RAM) per memorizzare i dati di configurazione. Sfortunatamente, questo tipo di memoria può essere influenzato da errori soft causati dalla radiazione. Un errore soft si verifica quando una particella colpisce un'area sensibile in un transistor, cambiando il suo valore. Questa inversione di bit può causare problemi nei progetti FPGA perché questi errori possono essere permanenti e portare a guasti.

Per proteggersi contro questi errori, gli FPGA moderni usano metodi come la correzione degli errori. Questo significa che possono correggere le inversioni di bit usando codici o modelli speciali. Se si verifica un errore, il sistema può spesso correggerlo prima che influisca sull'output finale. Tuttavia, è cruciale identificare quali parti del progetto sono vulnerabili a questi errori soft affinché possano essere applicate le protezioni necessarie.

Necessità di Analisi Precoce

Nonostante vari metodi per controllare l'affidabilità dei progetti FPGA, c'è ancora bisogno di strumenti rapidi e precisi che possano analizzare la vulnerabilità agli errori soft nelle fasi iniziali del design. Questo è particolarmente importante per le applicazioni che richiedono alta affidabilità.

Struttura di Analisi Proposta

Proponiamo una struttura che può analizzare rapidamente e accuratamente la vulnerabilità agli errori soft nei progetti FPGA. Questa struttura funziona estraendo prima una Netlist, che è una rappresentazione dettagliata del design dopo la sintesi. Questo processo è automatizzato, rendendolo più facile e veloce.

Dopo aver ottenuto la netlist, la struttura introduce difetti invertendo bit nella configurazione. La netlist originale e quella modificata vengono poi simulate attraverso un simulatore, che consente una simulazione ciclica accurata del design. Infine, la struttura produce un istogramma che mostra i punteggi di vulnerabilità per i diversi componenti, aiutando i progettisti a capire quali parti del design sono più a rischio.

Confronto dei Metodi di Simulazione

Ci sono vari modi per inserire difetti nei progetti FPGA. Alcune tecniche richiedono test fisici, che possono essere veloci ma costosi e poco pratici per le fasi iniziali del design. Altre modificano la configurazione della memoria o usano hardware extra per simulare difetti, ma possono anche essere complesse e costose.

La simulazione di difetti con software è spesso una buona scelta perché offre un alto controllo e visibilità sui difetti. Tuttavia, i metodi tradizionali possono essere lenti e richiedere molte risorse. La nostra struttura mira a offrire una soluzione veloce utilizzando metodi di simulazione ciclica accurati, che è più efficiente rispetto ad altri approcci comuni.

Passaggi nella Struttura

La struttura proposta ha una chiara organizzazione:

  1. Estrazione della Netlist: La struttura inizia ottenendo una netlist da un progetto FPGA. Questa netlist descrive il design in modo strutturato, rendendolo possibile per la simulazione.

  2. Iniezione di Difetti: Dopo aver ottenuto la netlist, la struttura inserisce difetti di inversione di bit. Ogni difetto rappresenta uno scenario in cui un errore potrebbe verificarsi durante il funzionamento.

  3. Simulazione Ciclica Accurata: I progetti difettosi e originali vengono quindi simulati. La struttura usa un simulatore open-source per eseguire questa analisi in modo efficiente.

  4. Generazione di Istogrammi: Infine, la struttura crea un istogramma che mostra i punteggi di vulnerabilità per ciascun componente. Questi punteggi possono aiutare a concentrare gli sforzi sulle aree più vulnerabili.

Comprendere i Punteggi di Vulnerabilità

Per misurare la vulnerabilità, la struttura calcola un punteggio per ciascuna LUT (Look-Up Table) nel design. Questo punteggio riflette la probabilità che un errore influenzi quel componente. Analizzando questi punteggi, i progettisti possono determinare quali parti del loro design necessitano di maggiore attenzione e protezione.

Applicazioni nel Mondo Reale

Per illustrare l'efficacia della struttura, abbiamo condotto due casi studio usando circuiti benchmark standard.

Caso Studio 1: Analisi della Possibilità di Errore

Nel primo caso studio, abbiamo analizzato quanto fosse probabile che ogni output di LUT fosse influenzato da un errore di inversione di bit su diversi cicli. Per ogni scenario possibile, abbiamo tenuto traccia del numero di errori che si sono verificati negli output del circuito. Ripetendo questo processo, abbiamo raccolto dati su quanto fosse soggetta ad errori ogni parte del design.

Caso Studio 2: Istogrammi dei Punteggi di Vulnerabilità

Nel secondo caso studio, abbiamo esaminato i punteggi di vulnerabilità complessivi per tutte le LUT nei medesimi circuiti benchmark. Questa analisi ci ha permesso di vedere quali LUT erano più sensibili agli errori. Facendo ciò, i progettisti possono dare priorità a quali parti del circuito proteggere, ottimizzando il proprio design per una maggiore affidabilità.

Confronto delle Prestazioni

Rispetto ai metodi di simulazione tradizionali, la nostra struttura è molto più veloce. Funziona fino a 53 volte più rapidamente rispetto ad altri strumenti comuni, garantendo comunque risultati accurati. Questa velocità può aiutare i team a risparmiare tempo durante il processo di design, consentendo iterazioni e affinamenti più rapidi.

Gestione di Design Complessi

La nostra proposta di simulazione di difetti è anche in grado di lavorare con design più grandi. I grandi sistemi FPGA possono consistere di migliaia o addirittura milioni di elementi, il che può complicare il processo di simulazione dei difetti. Per affrontare questa sfida, i progettisti possono suddividere circuiti grandi in parti più piccole e gestibili. Ogni parte può essere simulata separatamente e poi combinata per avere una visione complessiva dell'affidabilità del design.

Conclusione

In sintesi, abbiamo presentato una struttura progettata per analizzare in modo efficiente la vulnerabilità agli errori soft nei design basati su FPGA. Estraendo automaticamente una netlist post-sintesi e iniettando difetti, possiamo eseguire simulazioni rapide e accurate per identificare componenti vulnerabili. La struttura fornisce ai progettisti preziose intuizioni, che possono aiutare a ottimizzare i progetti FPGA per una migliore affidabilità. Con questo strumento, i team possono effettuare valutazioni nelle fasi iniziali in modo più efficace, aprendo la strada a sistemi più sicuri e affidabili nei settori che dipendono dagli FPGA.

Fonte originale

Titolo: A Cycle-Accurate Soft Error Vulnerability Analysis Framework for FPGA-based Designs

Estratto: Many aerospace and automotive applications use FPGAs in their designs due to their low power and reconfigurability requirements. Meanwhile, such applications also pose a high standard on system reliability, which makes the early-stage reliability analysis for FPGA-based designs very critical. In this paper, we present a framework that enables fast and accurate early-stage analysis of soft error vulnerability for small FPGA-based designs. Our framework first extracts the post-synthesis netlist from an FPGA design. Then it inserts the bit-flip configuration faults into the design netlist using our proposed interface software. After that, it seamlessly feeds the golden copy and fault copies of the netlist into the open source simulator Verilator for cycle-accurate simulation. Finally, it generates a histogram of vulnerability scores of the original design to guide the reliability analysis. Experimental results show that our framework runs up to 53x faster than the Xilinx Vivado fault simulation with cycle-level accuracy, when analyzing the injected bit-flip faults on the ITC'99 benchmarks.

Autori: Eduardo Rhod, Behnam Ghavami, Zhenman Fang, Lesley Shannon

Ultimo aggiornamento: 2023-03-21 00:00:00

Lingua: English

URL di origine: https://arxiv.org/abs/2303.12269

Fonte PDF: https://arxiv.org/pdf/2303.12269

Licenza: https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/

Modifiche: Questa sintesi è stata creata con l'assistenza di AI e potrebbe presentare delle imprecisioni. Per informazioni accurate, consultare i documenti originali collegati qui.

Si ringrazia arxiv per l'utilizzo della sua interoperabilità ad accesso aperto.

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