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Tuomo Valkonen

Optimisation et contrôle Aperçus en temps réel : Avancées en tomographie par impédance électrique

Découvrez comment les nouvelles méthodes en EIT permettent des images plus rapides et plus claires.

Neil Dizon, Jyrki Jauhiainen, Tuomo Valkonen

Feb 24, 2025 ― 8 min lire