Nuevos métodos mejoran el ajuste de impedancia y la medición de ruido en la microscopía de microondas de escaneo.
Johannes Hoffmann, Sophie de Preville, Bruno Eckmann
― 6 minilectura
Ciencia de vanguardia explicada de forma sencilla
Nuevos métodos mejoran el ajuste de impedancia y la medición de ruido en la microscopía de microondas de escaneo.
Johannes Hoffmann, Sophie de Preville, Bruno Eckmann
― 6 minilectura