La Revolución enLa Revolución enDetección de Defectos deSAMcalidad de fabricación superior.Transformando el análisis XCT para unaVisión por Computador y Reconocimiento de PatronesRevolucionando el análisis de XCT: SAM se enfrenta a los defectos de fabricaciónUsando SAM para detectar mejor los fallos en componentes impresos en 3D.2025-02-25T18:35:06+00:00 ― 8 minilectura